ICS2522020

A29..

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T31568—2015

熱噴涂熱障ZrO2涂層

晶粒尺寸的測(cè)定謝樂(lè)公式法

Standardtestmethodfordeterminationof

crystallitesizeofZrO2coatingsbyScherrerequation

2015-05-15發(fā)布2016-01-01實(shí)施

中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布

中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T31568—2015

前言

本標(biāo)準(zhǔn)按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

本標(biāo)準(zhǔn)由中國(guó)機(jī)械工業(yè)聯(lián)合會(huì)提出

。

本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)金屬與非金屬覆蓋層標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口

(SAC/TC57)。

本標(biāo)準(zhǔn)起草單位中國(guó)科學(xué)院上海硅酸鹽研究所

:。

本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人程國(guó)峰黃月鴻阮音捷曾毅宋力昕

:、、、、。

Ⅰ

GB/T31568—2015

熱噴涂熱障ZrO2涂層

晶粒尺寸的測(cè)定謝樂(lè)公式法

1范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了應(yīng)用射線衍射謝樂(lè)公式法測(cè)定熱噴涂熱障涂層試樣中立方四方單斜三種

XZrO2、、

相晶粒尺寸的方法原理測(cè)試條件及計(jì)算步驟等

ZrO2、。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于晶粒尺寸在范圍內(nèi)部無(wú)不均勻應(yīng)變的試樣

2nm~100nm、。

2術(shù)語(yǔ)和定義

下列術(shù)語(yǔ)和定義適用于本文件

。

21

.

熱障ZrO2涂層thermalbarrierZrO2coatings

采用熱噴涂制備工藝制備的基的涂層材料

ZrO2。

22

.

晶粒crystallite

內(nèi)部分子原子等有規(guī)律排列的微小單晶

、。

23

.

晶粒尺寸crystallitesize

Lhkl

晶粒在hkl晶面法線方向上的平均尺度

()。

24

.

半高寬fullwidthathalfmaximumofpeakprofileFWHM

;

衍射峰峰高極大值一半處的峰寬

。

3方法原理

對(duì)試樣照射射線測(cè)量所得到的衍射線假設(shè)試樣中沒(méi)有晶體結(jié)構(gòu)的不完整則衍射線的寬化僅

X,,,

由晶粒的細(xì)化引起可利用式謝樂(lè)公式計(jì)算晶粒尺寸

,(1)():

Kλ

Lhkl=

βhklθ……(1)

cos

式中

:

Lhkl晶粒在hkl晶面法線方向的平均尺度單位為納米

———(),(nm);

K常數(shù)與βhkl的定義有關(guān)當(dāng)βhkl定義為半高寬時(shí)K

———,。,=0.89;

λ實(shí)驗(yàn)所用的射線波長(zhǎng)

———X,0.154056nm;

βhkl由晶粒細(xì)化引起的試樣某hkl晶面衍射峰的半高寬需扣除背底單位為弧度

———()(),(rad);