標(biāo)準(zhǔn)解讀
《GB/T 22572-2008 表面化學(xué)分析 二次離子質(zhì)譜 用多δ層參考物質(zhì)評(píng)估深度分辨參數(shù)的方法》是一項(xiàng)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),主要針對(duì)使用二次離子質(zhì)譜(SIMS)技術(shù)時(shí)如何通過特定的多層結(jié)構(gòu)材料來評(píng)價(jià)儀器或方法在深度方向上的分辨能力。該標(biāo)準(zhǔn)適用于所有利用SIMS進(jìn)行表面及近表面區(qū)域成分分析的研究機(jī)構(gòu)、實(shí)驗(yàn)室以及相關(guān)企業(yè)。
根據(jù)此標(biāo)準(zhǔn),多δ層參考物質(zhì)是指一種由兩個(gè)或更多個(gè)不同化學(xué)組成的薄層交替堆疊而成的人工合成樣品,這些層之間具有清晰界定的界面,并且每層厚度非常均勻,通常處于納米級(jí)別。選擇合適的多δ層參考物質(zhì)對(duì)于準(zhǔn)確評(píng)估SIMS系統(tǒng)的深度分辨率至關(guān)重要。
標(biāo)準(zhǔn)中詳細(xì)描述了實(shí)驗(yàn)步驟,包括但不限于:
- 參考物質(zhì)的選擇依據(jù)及其特性;
- 樣品制備的具體要求;
- SIMS測(cè)試條件設(shè)置建議;
- 數(shù)據(jù)采集與處理方法;
- 深度分辨率計(jì)算公式及解釋。
此外,《GB/T 22572-2008》還強(qiáng)調(diào)了在整個(gè)過程中需要注意的一些關(guān)鍵點(diǎn),比如保持良好的真空環(huán)境以減少背景信號(hào)干擾、確保離子束能量穩(wěn)定等,這些都是影響最終測(cè)量結(jié)果準(zhǔn)確性的重要因素。
如需獲取更多詳盡信息,請(qǐng)直接參考下方經(jīng)官方授權(quán)發(fā)布的權(quán)威標(biāo)準(zhǔn)文檔。
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- 正在執(zhí)行有效
- 2008-12-11 頒布
- 2009-10-01 實(shí)施





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GB/T 22572-2008表面化學(xué)分析二次離子質(zhì)譜用多δ層參考物質(zhì)評(píng)估深度分辨參數(shù)的方法-免費(fèi)下載試讀頁(yè)文檔簡(jiǎn)介
犐犆犛71.040.40
犌04
中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
犌犅/犜22572—2008/犐犛犗20341:2003
表面化學(xué)分析二次離子質(zhì)譜
用多δ層參考物質(zhì)
評(píng)估深度分辨參數(shù)的方法
犛狌狉犳犪犮犲犮犺犲犿犻犮犪犾犪狀犪犾狔狊犻狊—犛犲犮狅狀犱犪狉狔犻狅狀犿犪狊狊狊狆犲犮狋狉狅犿犲狋狉狔—
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(ISO20341:2003,IDT)
20081211發(fā)布20091001實(shí)施
中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局
發(fā)布
中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
書
中華人民共和國(guó)
國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
表面化學(xué)分析二次離子質(zhì)譜
用多δ層參考物質(zhì)
評(píng)估深度分辨參數(shù)的方法
GB/T22572—2008/ISO20341:2003
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各地新華書店經(jīng)銷
開本880×12301/16印張0.5字?jǐn)?shù)8千字
2009年3月第一版2009年3月第一次印刷
書號(hào):155066·135762
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舉報(bào)電話:(010)68533533
書
犌犅/犜22572—2008/犐犛犗20341:2003
前言
本標(biāo)準(zhǔn)等同采用ISO20341:2003《表面化學(xué)分析———二次離子質(zhì)譜———用多δ層參考物質(zhì)評(píng)估深
度分辨參數(shù)的方法》。
為便于使用,本標(biāo)準(zhǔn)對(duì)ISO20341:2003做了下列編輯性修改:
———?jiǎng)h除了原國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的前言部分;
———將本國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)改為本標(biāo)準(zhǔn)。
本標(biāo)準(zhǔn)的附錄A為規(guī)范性附錄。
本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)提出并歸口。
本標(biāo)準(zhǔn)負(fù)責(zé)起草單位:信息產(chǎn)業(yè)部專用材料質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心。
本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人:馬農(nóng)農(nóng)、何友琴、何秀坤。
Ⅰ
書
犌犅/犜22572—2008/犐犛犗20341:2003
引言
深度分辨是二次離子質(zhì)譜(SIMS)深度剖析的一個(gè)重要參數(shù)。然而,在SIMS分析中,影響濺射深
度剖析結(jié)果的因素很多,包括離子束誘導(dǎo)的混合和偏析、電荷驅(qū)動(dòng)的擴(kuò)散、基體效應(yīng)、弧坑形狀和表面微
形貌等。只有了解并盡量降低以上因素的影響,才能得到最佳的深度分辨。
獲取最佳的深度分辨通常要求特定的分析條件,包括超低的一次離子束能量、掠入射、旋轉(zhuǎn)樣品、低
溫冷卻樣品等,所有這些條件在常規(guī)的SIMS分析中都很難滿足。此外,對(duì)每一種樣品所要求的最佳分
析參數(shù)可能很不相同。進(jìn)而,各種儀器因素,如弧坑的形狀、離子束的同一性、弧坑邊沿效應(yīng)的消除、質(zhì)
量干擾、記憶效應(yīng)、殘氣效應(yīng)等,也會(huì)影響深度分辨的各個(gè)方面。
因此,在常規(guī)的SIMS分析條件下,難以直接評(píng)估深度分辨。本標(biāo)準(zhǔn)闡述了前沿衰變長(zhǎng)度、后沿衰
變長(zhǎng)度和高斯展寬的概念,提出了每個(gè)參數(shù)的測(cè)量步驟。多δ層參考物質(zhì)就可用于評(píng)估在常規(guī)SIMS
分析條件下的深度分辨參數(shù)。
Ⅱ
犌犅/犜22572—2008/犐犛犗20341:2003
表面化學(xué)分析二次離子質(zhì)譜
用多δ層參考物質(zhì)
評(píng)估深度分辨參數(shù)的方法
1范圍
本標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)說明了在SIMS深度剖析中,用多δ層參考物質(zhì)評(píng)估前沿衰變長(zhǎng)度、后沿衰變長(zhǎng)度和高
斯展寬三個(gè)深度分辨參數(shù)的步驟。
由于樣品表面的物理和化學(xué)態(tài)受一次入射離子影響而不穩(wěn)定,本標(biāo)準(zhǔn)不適用于近表面區(qū)域的δ層。
2規(guī)范性引用文件
下列文件中的條款通過本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有
的修改單(不包括勘誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn),然而,鼓勵(lì)根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究
是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。
GB/T22461表面化學(xué)分析詞匯(GB/T22461—2008,ISO18115:2001,IDT)
3符號(hào)
犃L,犃T比例因子。
犅,犆比例系數(shù)。
犐(狕)隨深度的二次離子強(qiáng)度。
狕深度。
狕0表觀峰的深度。
λL
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