標(biāo)準(zhǔn)解讀

GB/T 19267.6-2003是一項中國國家標(biāo)準(zhǔn)，專注于刑事技術(shù)領(lǐng)域中微量物證的理化檢驗方法，特別是介紹了使用掃描電子顯微鏡（SEM）進行檢驗的具體規(guī)范。本標(biāo)準(zhǔn)是該系列標(biāo)準(zhǔn)的第六部分，旨在為刑事偵查和法庭科學(xué)提供詳細的操作指導(dǎo)和技術(shù)要求，以確保檢驗結(jié)果的準(zhǔn)確性和可重復(fù)性。

標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容概覽：

  1. 范圍：明確了本部分標(biāo)準(zhǔn)的應(yīng)用范圍，即規(guī)定了利用掃描電子顯微鏡對微量物證進行形貌觀察、成分分析（配合能譜儀等附件）的技術(shù)方法和程序，適用于纖維、粉末、微小痕跡等各類微量物證的檢驗。

  2. 術(shù)語和定義：定義了在標(biāo)準(zhǔn)中使用的專業(yè)術(shù)語，確保讀者對相關(guān)概念有統(tǒng)一的理解，如掃描電子顯微鏡、二次電子像、背散射電子像等。

  3. 原理：闡述了掃描電子顯微鏡工作的基本物理原理，包括電子束與樣品相互作用產(chǎn)生的信號（如二次電子、背散射電子）及其在微觀形貌和成分分析中的應(yīng)用。

  4. 儀器設(shè)備：詳細描述了進行SEM檢驗所需儀器的性能要求、校準(zhǔn)方法及日常維護要點，確保檢驗設(shè)備的準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性。

  5. 樣品制備：規(guī)范了不同類型微量物證的取樣、固定、干燥、鍍膜等預(yù)處理步驟，這些步驟對于獲得高質(zhì)量的圖像和分析結(jié)果至關(guān)重要。

  6. 檢驗操作：提供了詳細的檢驗流程和操作指南，包括如何設(shè)置合適的實驗參數(shù)（如加速電壓、工作距離）、獲取和分析圖像數(shù)據(jù)、以及如何利用能譜分析進行元素識別。

  7. 結(jié)果表述與解釋：指導(dǎo)如何記錄、分析和報告檢驗結(jié)果，強調(diào)了結(jié)果的客觀性、準(zhǔn)確性和可追溯性，以及如何將檢驗發(fā)現(xiàn)與案件事實相結(jié)合進行合理解釋。

  8. 質(zhì)量控制：提出了實施質(zhì)量控制的措施，如定期校驗儀器、使用標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)進行比對試驗，以保證檢驗結(jié)果的可靠性和實驗室間的一致性。

  9. 安全與防護：強調(diào)了在SEM操作過程中應(yīng)遵循的安全規(guī)范和防護措施，保護操作人員免受輻射傷害及化學(xué)試劑的危害。


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  • 已被新標(biāo)準(zhǔn)代替，建議下載現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)GB/T 19267.6-2008
  • 2003-08-19 頒布
  • 2004-01-01 實施
?正版授權(quán)
GB/T 19267.6-2003刑事技術(shù)微量物證的理化檢驗第6部分：掃描電子顯微鏡法_第1頁
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GB/T 19267.6-2003刑事技術(shù)微量物證的理化檢驗第6部分：掃描電子顯微鏡法-免費下載試讀頁

文檔簡介

ICS13.310A92中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T：19267.6—2003刑事技術(shù)微量物證的理化檢驗第6部分：掃描電子顯微鏡法Physicalandchemicalexaminationoftraceevidenceinforensicsciences-Part6:Scanningelectronmicroscopy2003-08-19發(fā)布2004-01-01實施中華人民共和國發(fā)布國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局

GB/T19267.6-2003公GB/T19267《刑事技術(shù)微量物證的理化檢驗》分為12個部分：-第1部分：紅外吸收光譜法；-第2部分：紫外-可見吸收光譜法；-第3部分：分子熒光光譜法；第第4部分：原子發(fā)射光譜法；第5部分：原子吸收光譜法;第第6部分：掃描電子顯微鏡法；第7部分：氣相色譜-質(zhì)譜法;第8部分：顯微分光光度法;第9部分：薄層色譜法：第10部分：氣相色譜法；第11部分：高效液相色譜法：第第12部分：熱分析法。本部分為GB/T19267第6部分本部分由全國刑事技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(CSBTS/TC179)提出并歸口本部分的起草單位：上海市公安局刑事科學(xué)研究所、公安部物證鑒定中心。本部分起草人：邵致遠、梁魯寧。

GB/T19267.6—2003刑事技術(shù)微量物證的理化檢驗第6部分：掃描電子顯微鏡法1范圍本部分規(guī)定了掃描電鏡的檢驗方法。本部分適用于刑事技術(shù)領(lǐng)域中微量物證的理化檢驗.其他領(lǐng)域亦可參照使用規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過GB/T19267的本部分的引用而成為本部分的條款。，凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單(不包括誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本部分，然而，鼓勵根據(jù)本部分達成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件.其最新版本適用于本部分。GB/T13966-1992分析儀器術(shù)語術(shù)語和定義GB/T13966中確立的以及下列術(shù)語和定義適用于本部分3掃描電鏡scanningelectronmicroscope(SEM)在掃描線圈的磁場作用下.由電子槍發(fā)射的電子束在樣品表面按一定的時間、空間順序作光柵掃描（也稱逐點掃描).由探測器接收樣品中激發(fā)的二次電子等信號.再經(jīng)光電轉(zhuǎn)換在熒光屏上觀察到反映樣品表面形貌的電子圖的方法、32能譜法energydispersivespectrometry(EDS)用具有一定能量和強度的粒子束轟擊試樣物質(zhì)，根據(jù)試樣物質(zhì)被激發(fā)的粒子能量和強度，或被試樣物質(zhì)反射的粒子能量和強度的關(guān)系圖(稱為能譜)實現(xiàn)對試樣的非破壞性元素分析、結(jié)構(gòu)分析和表面物化特性分析的方法33掃描電鏡能譜法SEM-EDS微束電子轟擊試樣,激發(fā)試樣微區(qū)的各元素特征X射線，探測系統(tǒng)顯示出該微區(qū)各元素特征的X射線能量和強度的關(guān)系圖(稱能譜)以及它們在試樣表面的分布圖3.4二次電子secondaryelectrons這是樣品中原子的外層電子受入射電子的激發(fā)而發(fā)射到樣品以外的非彈性散射電子。。通常它的能量較低，而且它的產(chǎn)生區(qū)域較小3.5二次電子成像secondaryelectronimage

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