犐犆犛３７．０２０

犖３０

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

犌犅／犜１１１６２—２００９

代替ＧＢ／Ｔ１１１６２—１９８９

光學(xué)分劃零件通用技術(shù)條件

犌犲狀犲狉犪犾狊狆犲犮犻犳犻犮犪狋犻狅狀狅犳狅狆狋犻犮犪犾犮狅犿狆狅狀犲狀狋狊犳狅狉狋犺犲狊犮犪犾犲犪狀犱狊狌狉犳犪犮犲犱犲犳犲犮狋狊

２００９０９３０發(fā)布２００９１２０１實(shí)施

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局

發(fā)布

中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

書

犌犅／犜１１１６２—２００９

目次

前言!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

１范圍!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

２規(guī)范性引用文件!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

３要求!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

４試驗(yàn)方法!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!５

５圖紙上的標(biāo)注!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!７

附錄Ａ（規(guī)范性附錄）線條光密度的標(biāo)準(zhǔn)樣品!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!９

附錄Ｂ（資料性附錄）分劃區(qū)的劃分!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１０

附錄Ｃ（資料性附錄）分劃線寬度測量瞄準(zhǔn)基準(zhǔn)!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１１

書

犌犅／犜１１１６２—２００９

前言

本標(biāo)準(zhǔn)代替ＧＢ／Ｔ１１１６２—１９８９《光學(xué)分劃零件通用技術(shù)條件》。

本標(biāo)準(zhǔn)與ＧＢ／Ｔ１１１６２—１９８９的主要差異為：

———規(guī)范了ＧＢ／Ｔ１１１６２—１９８９第２章中的引用標(biāo)準(zhǔn)。

———按ＧＢ／Ｔ１．１的編寫要求，將ＧＢ／Ｔ１１１６２—１９８９第３章劃分為“要求”和“試驗(yàn)方法”兩章。

———將“網(wǎng)格板”增加到適用范圍中。

———將試驗(yàn)工具“線紋比較儀”改為“阿貝線紋比較儀”，部分條款改為“測量不確定度為被測指標(biāo)偏

差（１／３～１／５）的測量儀器”。

———?jiǎng)h除字型和符號(hào)的筆劃線寬度和長度變化的規(guī)定。

———增加附錄Ｃ（資料性附錄）：分劃線寬度測量瞄準(zhǔn)基準(zhǔn)。

本標(biāo)準(zhǔn)的附錄Ａ為規(guī)范性附錄，附錄Ｂ、附錄Ｃ為資料性附錄。

本標(biāo)準(zhǔn)由中國機(jī)械工業(yè)聯(lián)合會(huì)提出。

本標(biāo)準(zhǔn)由全國光學(xué)和光子學(xué)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)（ＳＡＣ／ＴＣ１０３）歸口。

本標(biāo)準(zhǔn)負(fù)責(zé)起草單位：上海理工大學(xué)、南京志業(yè)光電精密技術(shù)有限責(zé)任公司。

本標(biāo)準(zhǔn)參加起草單位：南京江南永新光學(xué)有限公司、寧波永新光學(xué)股份有限公司、蘇州一光儀器有

限公司。

本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：黃衛(wèi)佳、劉懷道。

本標(biāo)準(zhǔn)所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為：

———ＧＢ／Ｔ１７８４—１９７９；

———ＧＢ／Ｔ１１１６２—１９８９。

Ⅰ

犌犅／犜１１１６２—２００９

光學(xué)分劃零件通用技術(shù)條件

１范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了光電儀器用光學(xué)分劃零件的分劃線、字型和符號(hào)的筆劃線、表面疵病的要求、試驗(yàn)方

法和在圖紙上的標(biāo)注。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于玻璃分劃板（鏡）、分劃尺、網(wǎng)格板和度盤，其他種類的光學(xué)分劃零件可參照使用。

本標(biāo)準(zhǔn)不適用于光柵尺、光柵盤、編碼盤和分辨率板等。

２規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有

的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn)，然而，鼓勵(lì)根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究

是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。

ＧＢ／Ｔ１１８４形狀和位置公差未注公差的規(guī)定（ＧＢ／Ｔ１１８４—１９９６，ｅｑｖＩＳＯ２７６８２：１９８９）

ＧＢ／Ｔ１１８５光學(xué)零件表面疵?。ǎ牵拢裕保保福怠玻埃埃叮桑樱希保埃保保埃罚海保梗梗?，ＮＥＱ）

３要求

３．１分劃線寬度基本尺寸偏差和同一零件上寬度基本尺寸相同的分劃線彼此間寬度均勻性，不應(yīng)超過

表１的規(guī)定。

表１分劃線寬度基本尺寸偏差和寬度均勻性單位為毫米

基本尺寸犅犅≤０．００３０．００３＜犅≤０．００７０．００７＜犅≤０．０１２０．０１２＜犅≤０．０２０．０２＜犅≤０．０３

偏差±０．０００５±０．００１±０．００１５±０．００２５±０．００４０

１級(jí)

均勻性０．０００５０．００１００．００１５０．００２５０．００４０

偏差±０．００１０±０．００１５±０．００３０±０．００５０±０．００７０

２級(jí)

均勻性０．００１００．００１５０．００３００．００５００．００７０

基本尺寸犅０．０３＜犅≤０．０５０．０５＜犅≤０．０８０．０８＜犅≤０．１２０．１２＜犅≤０．２犅＞０．２

偏差±０．００６±０．０１０±０．０１５±０．０２０正負(fù)線寬的１０％

１級(jí)

均勻性０．００６０．００８０．０１００．０１５線寬的１０％

偏差±０．０１０±０．０１５±０．０３０±０．０３０正負(fù)線寬的１５％

２級(jí)

均勻性０．０１００．０１２