1、(word完整版)高電壓答案第4章(word完整版)高電壓答案第4章PAGE PAGE7PAGE 7(word完整版)高電壓答案第4章第四章參考絕緣試驗的目的是什么分為哪兩大類各自的特點和應用范圍是什么答：絕緣試驗的目的是考驗絕緣耐壓情況，判斷絕緣的狀況。主要分為耐壓試驗和檢查性試驗。分為耐壓試驗和檢查性試驗耐壓試驗：模仿設備絕緣在運行中可能受到的各種電壓（包括電壓波形、幅值、持續(xù)時間等），對絕緣施加與之等價或更為嚴峻的電壓，從而考驗絕緣耐受這類電壓的能力。主要包含交流耐壓試驗，直流耐壓試驗，雷電沖擊耐壓試驗及操作沖擊耐壓試驗。這類試驗顯然是最有效和最可信的，但耐壓試驗只能在絕緣缺陷已發(fā)展到較

2、嚴重的程度時，才能以擊穿破壞的形式揭示出來且不能明顯地揭示絕緣缺陷的性質(zhì)和根源。這類試驗有可能導致絕緣的破壞，故也稱為破壞性試驗。檢查性試驗：非破壞性試驗，用以在較低電壓下或用其它不會損傷絕緣的方法測量絕緣的各種情況，從而判斷絕緣內(nèi)部的缺陷。主要包括絕緣電阻試驗，介質(zhì)損耗角正切試驗，局部放電試驗和絕緣油的氣相色譜分析等。說明絕緣電阻、泄漏電流、表面泄漏的含義。實際測量絕緣泄漏電流時，當被試品分別為一端直接接地和不直接接地時，如何屏蔽表面泄漏的影響？請給出接線圖，并說明各元件的名稱和作用。泄漏電流：在電介質(zhì)上施加直流電壓，經(jīng)過一定時間后，極化過程結(jié)束，流過介質(zhì)的電流趨于一定值，稱為泄漏電流。表面

3、泄漏電流：流經(jīng)固體介質(zhì)的外表面的穩(wěn)定電流稱為表面泄漏電流。被試品分別為一端直接接地和不直接接地，及如何屏蔽表面泄露的影響參見課本P141.圖5-2-1和圖5-2-2。測量絕緣材料的泄漏電流時，為什么要用直流高壓而不是交流高壓？答：在交流高壓作用下，流經(jīng)絕緣材料的電流除了泄漏電流外還包含容性電流。什么是吸收現(xiàn)象出現(xiàn)吸收現(xiàn)象的原因和條件如何根據(jù)吸收現(xiàn)象判斷電氣絕緣的狀況答：吸收現(xiàn)象：極性電介質(zhì)在恒定電場中存在極化現(xiàn)象，反映在電介質(zhì)的絕緣電阻值（泄漏電流）需要經(jīng)過較長的時間才能達到穩(wěn)定值。產(chǎn)生吸收現(xiàn)象的根本原因是介質(zhì)的空間電荷極化；條件是絕緣狀況良好。根據(jù)吸收現(xiàn)象可以判斷電絕緣受潮、或存在某些穿透性

4、的導電通道等缺陷，因為此時，代表電介質(zhì)吸收特性的串聯(lián)支路中電阻值顯著減小，對應的時間常數(shù)也大為減小，絕緣電阻、泄漏電流值很快達到穩(wěn)定值。因此，通常用時間60s和15s時所測得的絕緣電阻值之比（稱為吸收比）與規(guī)定標準、歷史數(shù)據(jù)和同類設備數(shù)據(jù)相比較，來判斷設備的電氣絕緣狀況，答：直流電介質(zhì)的損耗以電導性損耗為主，交流電介質(zhì)的損耗包括電導性損耗和極化損耗兩部分。交流設備的介質(zhì)損耗與溫度、所施加電壓的頻率和場強有著密切的關系。答：一般來說，新的、良好絕緣，在其額定電壓范圍內(nèi)，絕緣的tg是幾乎不變的，當電壓上升或下降時測得的tg是接近一致的，不會出現(xiàn)回環(huán)。絕緣中存在氣泡、分層、脫殼等情況時，當所加試驗電

5、壓足以使絕緣中的氣隙電離或產(chǎn)生局部放電等情況時，tg的值將隨試驗電壓的升高而迅速增大；且當試驗電壓下降時，tg-u曲線會出現(xiàn)回環(huán)。因此，測定介質(zhì)損耗時所用的電壓，原則上最好接近于被試品的正常工作電壓。測量介質(zhì)損耗能發(fā)現(xiàn)下列缺陷：受潮穿透性導電通道絕緣內(nèi)含氣泡的電離，絕緣分層、脫殼絕緣老化劣化，繞組上附積油泥絕緣油臟污、劣化等如果（?。┧釉囼炿妷鹤阋允菇^緣中的氣隙電離或產(chǎn)生局部放電等情況時，tg的值將隨試驗電壓的升高而迅速增大；通過測tg U 的關系曲線判斷。 ， ， 答：什么是測量tan的正接線和反接線？請給出接線圖，這兩種接線各自適用于何種場合測量tan時應注意什么？答：測量tg的正接法（西林電橋）：要求被試品兩端均不接地。 正接法 反接法測量tg的反接法（反接法的西林電橋）：在實驗室內(nèi)：通常測試材料及小設備，被試品是對地絕緣的；現(xiàn)場試驗中：有許多一端接地的試品，如敷設在地下的電纜及擺在地面的重大電氣設備，要改成對地絕緣是不可能的，只能改變電橋回路的接地點。這樣就產(chǎn)生了一種反接法的西林電橋 測量介損時的注意事項：（1）盡可能地分部測試。例：三繞組變壓器測量（2）與溫度的關系：不同溫度下的測量結(jié)果不能準確換算。為進行比較，要求在相同溫度條件下測試。（3）與電壓的關