2025年事業(yè)單位工勤技能-北京-北京無損探傷工二級(jí)（技師）歷年參考題庫含答案解析(5套)2025年事業(yè)單位工勤技能-北京-北京無損探傷工二級(jí)（技師）歷年參考題庫含答案解析(篇1)【題干1】無損探傷中，以下哪種缺陷屬于表面開口缺陷？【選項(xiàng)】A.疲勞裂紋B.未熔合C.未焊透D.表面氣孔【參考答案】A【詳細(xì)解析】表面開口缺陷是指缺陷直接暴露在材料表面，如疲勞裂紋、表面氣孔等。未熔合和未焊透屬于內(nèi)部缺陷，需通過內(nèi)部檢測方法發(fā)現(xiàn)，故正確答案為A?！绢}干2】ASME標(biāo)準(zhǔn)中，Ⅱ級(jí)焊縫的允許缺陷數(shù)量與哪個(gè)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)應(yīng)？【選項(xiàng)】A.ISO5817-2016B.GB/T19580-2020C.JISZ1655D.BS5496:2009【參考答案】B【詳細(xì)解析】ASME標(biāo)準(zhǔn)Ⅱ級(jí)焊縫的缺陷驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)與GB/T19580-2020《承壓設(shè)備焊接接頭質(zhì)量分級(jí)》完全一致，而其他選項(xiàng)對(duì)應(yīng)的是不同國家的標(biāo)準(zhǔn)，故選B?！绢}干3】在磁粉檢測中，使用交流電磁鐵時(shí)，缺陷的磁化方向與磁場方向的關(guān)系是？【選項(xiàng)】A.相同B.相反C.無關(guān)D.需調(diào)整電流【參考答案】A【詳細(xì)解析】交流電磁鐵產(chǎn)生的磁場方向隨電流變化，缺陷磁化方向與磁場方向一致，故選A。若磁場方向相反，需調(diào)整電流或磁場極性?！绢}干4】超聲波檢測中，當(dāng)探頭與工件接觸不良時(shí)，示波器上可能觀察到？【選項(xiàng)】A.空窗B.脈沖波C.噪聲D.抑制信號(hào)【參考答案】C【詳細(xì)解析】探頭與工件接觸不良會(huì)導(dǎo)致聲波反射不規(guī)律，在示波器上呈現(xiàn)隨機(jī)噪聲，而非特定缺陷信號(hào)。空窗、脈沖波和抑制信號(hào)均與接觸不良無關(guān)。【題干5】射線檢測中，確定膠片黑度值需使用的設(shè)備是？【選項(xiàng)】A.定量計(jì)B.黑度計(jì)C.照相暗箱D.顯影液【參考答案】B【詳細(xì)解析】黑度計(jì)專門用于測量膠片黑度值，定量計(jì)用于缺陷定量分析，顯影液用于化學(xué)顯影，暗箱用于觀察底片，故選B。【題干6】在UT檢測中，當(dāng)聲束折射角大于20°時(shí)，應(yīng)如何調(diào)整探頭？【選項(xiàng)】A.增大晶片尺寸B.調(diào)整聲束入射角C.使用更高頻率探頭D.增加耦合劑【參考答案】B【詳細(xì)解析】折射角超過20°會(huì)導(dǎo)致聲束偏移，需通過調(diào)整探頭入射角或聲束方向進(jìn)行補(bǔ)償，其他選項(xiàng)無法有效解決折射問題?！绢}干7】磁粉檢測中，使用近表面探頭檢測時(shí)，缺陷的埋藏深度應(yīng)不超過？【選項(xiàng)】A.1.5mmB.3.0mmC.5.0mmD.10.0mm【參考答案】A【詳細(xì)解析】近表面探頭的檢測范圍通常為0.5-1.5mm，超過此深度需使用表面探頭或調(diào)整檢測方法，故選A?！绢}干8】在RT檢測中，確定像質(zhì)計(jì)靈敏度時(shí)，需滿足的對(duì)比度要求是？【選項(xiàng)】A.≥3:1B.≥4:1C.≥5:1D.≥6:1【參考答案】B【詳細(xì)解析】ASME標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定RT檢測的像質(zhì)計(jì)對(duì)比度需≥4:1，而其他選項(xiàng)為更高標(biāo)準(zhǔn)或不同檢測方法的指標(biāo)，故選B?！绢}干9】UT檢測中，當(dāng)接收信號(hào)幅度突然升高時(shí)，可能預(yù)示哪種缺陷？【選項(xiàng)】A.穿透缺陷B.表面裂紋C.未熔合D.雜質(zhì)【參考答案】A【詳細(xì)解析】接收信號(hào)幅度升高通常表明聲束直接穿透工件，遇到內(nèi)部缺陷（如氣孔、夾渣）會(huì)反射信號(hào)，但幅度升高更可能為穿透性缺陷，需結(jié)合其他特征判斷，故選A?！绢}干10】在MT檢測中，缺陷顯示最清晰的條件是？【選項(xiàng)】A.磁場強(qiáng)度過高B.磁場均勻C.奶油厚度不足D.磁粉干燥【參考答案】B【詳細(xì)解析】磁場均勻可減少漏磁場干擾，使缺陷邊界清晰，磁場過強(qiáng)會(huì)導(dǎo)致磁粉過度堆積，厚度不足會(huì)降低顯示效果，故選B?！绢}干11】射線檢測中，用于定量分析缺陷尺寸的公式是？【選項(xiàng)】A.缺陷長度=像質(zhì)計(jì)黑度差×倍數(shù)系數(shù)B.缺陷長度=像質(zhì)計(jì)靈敏度×工件厚度C.缺陷長度=缺陷高度/衰減系數(shù)D.缺陷長度=缺陷寬度×投影系數(shù)【參考答案】C【詳細(xì)解析】缺陷長度計(jì)算公式為：缺陷長度=缺陷高度/衰減系數(shù)，需結(jié)合工件材料和厚度修正，其他選項(xiàng)不符合射線定量標(biāo)準(zhǔn)，故選C?！绢}干12】在UT檢測中，用于補(bǔ)償聲波衰減的設(shè)備是？【選項(xiàng)】A.換能器B.液壓耦合劑C.聲學(xué)校準(zhǔn)塊D.增幅器【參考答案】C【詳細(xì)解析】聲學(xué)校準(zhǔn)塊用于測量聲波衰減特性，補(bǔ)償不同材質(zhì)和厚度工件的信號(hào)損失，其他選項(xiàng)為常規(guī)設(shè)備，故選C?！绢}干13】磁粉檢測中，檢測鋁合金時(shí)需使用的磁化介質(zhì)是？【選項(xiàng)】A.磁粉B.膠帶C.奶油D.熒光粉【參考答案】C【詳細(xì)解析】鋁合金導(dǎo)磁性強(qiáng)，需使用磁化介質(zhì)（如磁粉或膠帶）輔助磁化，但鋁合金表面易氧化，通常采用奶油狀磁化介質(zhì)，故選C。【題干14】在RT檢測中，確定膠片曝光時(shí)間的公式是？【選項(xiàng)】A.曝光時(shí)間=（工件厚度×K）/像質(zhì)計(jì)對(duì)比度B.曝光時(shí)間=（工件厚度×K）/膠片靈敏度C.曝光時(shí)間=（工件厚度×K）/輻射源強(qiáng)度D.曝光時(shí)間=（工件厚度×K）/暗室溫度【參考答案】A【詳細(xì)解析】曝光時(shí)間公式為：t=(d×K)/D，其中D為像質(zhì)計(jì)對(duì)比度，K為常數(shù)，其他選項(xiàng)未包含對(duì)比度參數(shù)，故選A?！绢}干15】UT檢測中，用于測量聲速的設(shè)備是？【選項(xiàng)】A.超聲波探傷儀B.聲速測定儀C.定量計(jì)D.黑度計(jì)【參考答案】B【詳細(xì)解析】聲速測定儀專門用于測量材料聲速，超聲波探傷儀需配合專用模塊，其他選項(xiàng)功能無關(guān)，故選B。【題干16】在MT檢測中，缺陷的磁化率與周圍基體材料的關(guān)系是？【選項(xiàng)】A.相同B.更高C.更低D.無關(guān)【參考答案】B【詳細(xì)解析】缺陷的磁化率通常高于基體材料（如裂紋、氣孔），故選B。若缺陷磁化率更低，則無法通過磁粉顯示?！绢}干17】射線檢測中，確定膠片顯影時(shí)間的標(biāo)準(zhǔn)是？【選項(xiàng)】A.工件厚度B.膠片類型C.輻射源能量D.暗室溫度【參考答案】B【詳細(xì)解析】顯影時(shí)間主要取決于膠片類型（如ISO4698標(biāo)準(zhǔn)），工件厚度和輻射源能量通過調(diào)整曝光時(shí)間補(bǔ)償，故選B。【題干18】UT檢測中，當(dāng)接收信號(hào)出現(xiàn)雙峰時(shí)，可能預(yù)示哪種缺陷？【選項(xiàng)】A.雙層夾渣B.單層氣孔C.未熔合D.表面裂紋【參考答案】A【詳細(xì)解析】雙峰信號(hào)通常由兩個(gè)反射體（如上下兩層缺陷）引起，單層氣孔或未熔合僅產(chǎn)生單峰信號(hào)，表面裂紋信號(hào)幅度較低，故選A?！绢}干19】在RT檢測中，用于測量膠片黑度的設(shè)備是？【選項(xiàng)】A.黑度計(jì)B.定量計(jì)C.像質(zhì)計(jì)D.顯影計(jì)【參考答案】A【詳細(xì)解析】黑度計(jì)用于測量膠片黑度值，定量計(jì)用于缺陷定量，像質(zhì)計(jì)用于評(píng)估對(duì)比度，顯影計(jì)為虛構(gòu)設(shè)備，故選A?！绢}干20】無損檢測中，用于評(píng)估缺陷危害性的標(biāo)準(zhǔn)是？【選項(xiàng)】A.缺陷尺寸B.缺陷位置C.缺陷密度D.缺陷擴(kuò)展速率【參考答案】C【詳細(xì)解析】缺陷密度（單位面積內(nèi)缺陷數(shù)量）是評(píng)估工件整體安全性的關(guān)鍵指標(biāo)，單個(gè)缺陷尺寸和位置需結(jié)合密度綜合判斷，故選C。2025年事業(yè)單位工勤技能-北京-北京無損探傷工二級(jí)（技師）歷年參考題庫含答案解析(篇2)【題干1】磁粉檢測中，試片與試件材質(zhì)不同時(shí)，應(yīng)如何調(diào)整磁化電流？【選項(xiàng)】A.保持原電流B.增加30%電流C.減少20%電流D.按材質(zhì)比例調(diào)整【參考答案】B【詳細(xì)解析】磁粉檢測靈敏度測試時(shí)，若試片材質(zhì)與試件不同，需根據(jù)材質(zhì)導(dǎo)磁率差異調(diào)整磁化電流。增加30%電流可確保磁化強(qiáng)度達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)要求，其他選項(xiàng)未考慮材質(zhì)差異對(duì)磁化效果的影響。【題干2】超聲波檢測中，晶粒度較大的試件對(duì)聲束傳播有何影響？【選項(xiàng)】A.聲束擴(kuò)散角增大B.聲束衰減系數(shù)降低C.聲程誤差增加D.反射信號(hào)強(qiáng)度減弱【參考答案】A【詳細(xì)解析】試件晶粒度大時(shí)，晶界散射增強(qiáng)，導(dǎo)致聲束在傳播中擴(kuò)散角顯著增大（約增加15°-20°），直接影響檢測盲區(qū)范圍，其他選項(xiàng)與晶粒度無直接關(guān)聯(lián)。【題干3】射線檢測中，像質(zhì)計(jì)的對(duì)比度（Contrast）計(jì)算公式為？【選項(xiàng)】A.（黑度差）/黑度基值B.（黑度差）/黑度最大值C.（黑度差）/黑度最小值D.（黑度差）/黑度平均值【參考答案】A【詳細(xì)解析】像質(zhì)計(jì)對(duì)比度公式為：Contrast=(ΔD/D)，其中ΔD為像質(zhì)計(jì)兩區(qū)黑度差，D為基材黑度值，需用基值而非最大/最小值或平均值，故選A。【題干4】疲勞裂紋擴(kuò)展速率與應(yīng)力比（R）的關(guān)系如何？【選項(xiàng)】A.應(yīng)力比增大，速率升高B.應(yīng)力比增大，速率降低C.應(yīng)力比與速率無關(guān)D.僅與載荷幅值相關(guān)【參考答案】B【詳細(xì)解析】疲勞裂紋擴(kuò)展速率隨應(yīng)力比R增大而降低（R>0.7時(shí)速率顯著下降），因高應(yīng)力比減少應(yīng)力幅值，符合Paris定律的應(yīng)力比修正項(xiàng)?！绢}干5】滲透檢測中，顯像劑的pH值范圍一般為？【選項(xiàng)】A.4-6B.6-8C.8-10D.10-12【參考答案】A【詳細(xì)解析】滲透劑需在中性或弱酸性環(huán)境（pH4-6）下滲透，堿性環(huán)境會(huì)破壞表面活性劑結(jié)構(gòu)，導(dǎo)致滲透效率下降，顯像劑pH值需匹配滲透劑?！绢}干6】超聲波檢測中，當(dāng)試件厚度為80mm時(shí)，使用5MHz探頭檢測，聲程誤差如何計(jì)算？【選項(xiàng)】A.0.8mmB.1.6mmC.3.2mmD.6.4mm【參考答案】B【詳細(xì)解析】聲程誤差=（聲速-探頭聲速）/2=（5900-5400）/2=25mm/80=0.3125mm，但實(shí)際檢測需按標(biāo)準(zhǔn)取整為1.6mm（基于ISO5817規(guī)定）?！绢}干7】磁粉檢測中，交流磁化法與直流磁化法的主要區(qū)別是什么？【選項(xiàng)】A.磁化時(shí)間不同B.適用材質(zhì)不同C.磁化強(qiáng)度衰減方式不同D.檢測靈敏度不同【參考答案】C【詳細(xì)解析】交流磁化法采用正弦波電流，磁化強(qiáng)度隨時(shí)間周期性衰減；直流磁化法磁化強(qiáng)度衰減呈指數(shù)曲線，導(dǎo)致缺陷顯示形態(tài)差異，其他選項(xiàng)非核心區(qū)別?！绢}干8】射線檢測中，當(dāng)膠片黑度達(dá)到3.0時(shí)，底片對(duì)比度約為？【選項(xiàng)】A.0.2B.0.5C.1.0D.1.5【參考答案】B【詳細(xì)解析】根據(jù)ISO13989標(biāo)準(zhǔn)，黑度3.0對(duì)應(yīng)對(duì)比度0.5，黑度每增加0.5，對(duì)比度下降約0.1，故選B。【題干9】渦流檢測中，試件表面粗糙度對(duì)檢測靈敏度的影響程度如何？【選項(xiàng)】A.無影響B(tài).輕微影響C.顯著影響D.完全抑制【參考答案】C【詳細(xì)解析】表面粗糙度超過Ra3.2μm時(shí)，渦流滲透深度減少50%，顯著影響小缺陷檢出率，故選C?！绢}干10】當(dāng)射線檢測像質(zhì)計(jì)顯示清晰度不足時(shí)，應(yīng)優(yōu)先采取何種措施？【選項(xiàng)】A.增加膠片曝光時(shí)間B.提高膠片感光速度C.使用更高密度像質(zhì)計(jì)D.調(diào)整曝光距離【參考答案】C【詳細(xì)解析】像質(zhì)計(jì)清晰度不足時(shí)，應(yīng)更換更高密度的標(biāo)準(zhǔn)像質(zhì)計(jì)（如ISO16528中規(guī)定A類像質(zhì)計(jì)），調(diào)整參數(shù)僅適用于局部問題，非根本解決方法?！绢}干11】疲勞裂紋擴(kuò)展的應(yīng)力強(qiáng)度因子門檻值（ΔKth）與什么因素?zé)o關(guān)？【選項(xiàng)】A.材料屈服強(qiáng)度B.裂紋尺寸C.環(huán)境介質(zhì)D.加載頻率【參考答案】D【詳細(xì)解析】ΔKth主要與材料成分（如碳當(dāng)量）、環(huán)境腐蝕性相關(guān)，加載頻率影響疲勞裂紋萌生速率而非門檻值，故選D。【題干12】滲透檢測中，清洗劑的作用不包括？【選項(xiàng)】A.去除多余滲透劑B.溶解油污C.封閉氣孔D.激活表面吸附【參考答案】D【詳細(xì)解析】清洗劑主要功能是去除滲透劑和表面污染物（B正確），封閉氣孔由清洗劑和顯像劑協(xié)同完成（C正確），激活吸附是滲透劑自身功能，故D錯(cuò)誤?！绢}干13】超聲波檢測中，當(dāng)聲束入射角為60°時(shí)，聲程修正系數(shù)為？【選項(xiàng)】A.0.5B.0.6C.0.8D.1.0【參考答案】A【詳細(xì)解析】聲程修正系數(shù)=cosθ=cos60°=0.5，實(shí)際檢測中需按ISO5817規(guī)定取整，故選A?！绢}干14】射線檢測中，管電壓（kV）與穿透力的關(guān)系如何？【選項(xiàng)】A.線性正相關(guān)B.指數(shù)正相關(guān)C.對(duì)數(shù)正相關(guān)D.無關(guān)【參考答案】B【詳細(xì)解析】穿透力與kV的指數(shù)相關(guān)（F=kV^m，m≈0.8-1.0），如100kV下穿透力僅為10kV的2-3倍，故選B。【題干15】磁粉檢測中，缺陷顯示長度與什么因素?zé)o關(guān)？【選項(xiàng)】A.磁化時(shí)間B.缺陷深度C.試件厚度D.磁化電流【參考答案】C【詳細(xì)解析】試件厚度影響磁化強(qiáng)度分布，但缺陷顯示長度主要由缺陷深度（>0.5mm）和磁化參數(shù)決定，與厚度無直接關(guān)聯(lián)，故選C?！绢}干16】當(dāng)射線膠片黑度不足時(shí)，應(yīng)如何調(diào)整曝光參數(shù)？【選項(xiàng)】A.增加管電流B.降低管電壓C.延長曝光時(shí)間D.以上均可【參考答案】D【詳細(xì)解析】黑度不足時(shí)需綜合調(diào)整：kV降低10%以減少散射，t延長50%，I增加30%，按ISO13989標(biāo)準(zhǔn)推薦方案，故選D?！绢}干17】渦流檢測中，缺陷定位精度主要受什么影響？【選項(xiàng)】A.探頭頻率B.激勵(lì)電壓C.信號(hào)幅值D.檢測速度【參考答案】A【詳細(xì)解析】探頭頻率決定缺陷信號(hào)的空間分辨率（1/f），5kHz對(duì)應(yīng)約0.5mm定位精度，其他選項(xiàng)影響檢測效率而非精度，故選A。【題干18】疲勞極限試驗(yàn)中，試樣旋轉(zhuǎn)速度與什么參數(shù)相關(guān)？【選項(xiàng)】A.應(yīng)力幅值B.疲勞壽命C.材料屈服強(qiáng)度D.試驗(yàn)周期【參考答案】B【詳細(xì)解析】旋轉(zhuǎn)速度與應(yīng)力幅值成反比（v=σa/0.2σs），需保證應(yīng)力幅值符合標(biāo)準(zhǔn)要求（如ISO8442規(guī)定），故選B?！绢}干19】滲透檢測中，經(jīng)清洗后的試件表面粗糙度應(yīng)滿足？【選項(xiàng)】A.Ra≤1.6μmB.Ra≤3.2μmC.Ra≤6.3μmD.Ra≤12.5μm【參考答案】B【詳細(xì)解析】ISO9712規(guī)定，經(jīng)清洗后表面粗糙度Ra≤3.2μm（相當(dāng)于Grade4），過高會(huì)降低滲透劑滲透效率，故選B?！绢}干20】當(dāng)超聲波檢測中出現(xiàn)多次反射信號(hào)時(shí)，應(yīng)如何處理？【選項(xiàng)】A.增加增益B.調(diào)整晶片角度C.使用水膜耦合D.以上均可【參考答案】D【詳細(xì)解析】多次反射可能由探頭角度、耦合劑或缺陷特性引起，需綜合調(diào)整增益（A）、晶片入射角（B）及耦合狀態(tài)（C），故選D。2025年事業(yè)單位工勤技能-北京-北京無損探傷工二級(jí)（技師）歷年參考題庫含答案解析(篇3)【題干1】根據(jù)GB/T3323-2005《無損檢測術(shù)語》規(guī)定，射線檢測中黑度不足會(huì)導(dǎo)致哪種問題的產(chǎn)生？【選項(xiàng)】A.缺陷可見度降低B.底片灰霧度增加C.探傷儀靈敏度下降D.記錄保存周期縮短【參考答案】A【詳細(xì)解析】GB/T3323-2005明確指出，黑度不足會(huì)導(dǎo)致缺陷與背景對(duì)比度降低，缺陷邊緣模糊，直接影響缺陷可見度。選項(xiàng)B灰霧度增加是黑度過高的表現(xiàn)，C靈敏度下降與設(shè)備校準(zhǔn)相關(guān)，D保存周期與檢測標(biāo)準(zhǔn)無關(guān)。【題干2】在磁粉檢測中，ISO5817對(duì)裂紋類缺陷的評(píng)定等級(jí)要求下列哪項(xiàng)？【選項(xiàng)】A.僅允許長度≤3mm的表面裂紋B.需結(jié)合磁化電流密度和磁粉類型綜合判定C.必須采用100%覆蓋率檢測D.允許在焊縫交叉處放寬評(píng)定【參考答案】B【詳細(xì)解析】ISO5817規(guī)定裂紋類缺陷評(píng)定需綜合磁化電流密度（≥1.0A/mm）、磁粉類型（AT、BT、CT）及磁場方向等因素，不同組合對(duì)應(yīng)不同允許缺陷長度。選項(xiàng)A未考慮磁化條件，C覆蓋率要求適用于重要部件，D交叉處無特殊放寬條款?！绢}干3】射線檢測工藝評(píng)定中，SA-203-RM-01適用于哪種材料？【選項(xiàng)】A.16MnR壓力容器鋼板B.12CrMoV合金鋼管C.50CrMo軸類零件D.08AlCuR耐低溫鋼【參考答案】B【詳細(xì)解析】SA-203-RM-01為ASME標(biāo)準(zhǔn)中的評(píng)定程序，適用于12CrMoV合金鋼管道（SA-203標(biāo)準(zhǔn)涵蓋P91、P92等合金鋼，但需結(jié)合具體版本）。選項(xiàng)A對(duì)應(yīng)SA-516標(biāo)準(zhǔn)，C為SA-586標(biāo)準(zhǔn)，D屬SA-244耐蝕鋼范疇。【題干4】在超聲檢測中，當(dāng)缺陷反射波幅值達(dá)到基準(zhǔn)波幅的80%時(shí)，判定為哪個(gè)缺陷等級(jí)？【選項(xiàng)】A.I級(jí)（缺陷≤3mm）B.II級(jí)（缺陷≤6mm）C.III級(jí)（缺陷≤12mm）D.IV級(jí)（缺陷≤24mm）【參考答案】C【詳細(xì)解析】UT檢測標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，當(dāng)缺陷回波≥基準(zhǔn)波幅80%且長度≤12mm時(shí)為III級(jí)。選項(xiàng)A對(duì)應(yīng)II級(jí)缺陷≤3mm且回波≥70%，B對(duì)應(yīng)III級(jí)≤6mm且回波≥80%，D為IV級(jí)特殊缺陷評(píng)定?！绢}干5】磁粉檢測中，AT型磁粉適用于哪種金屬表面？【選項(xiàng)】A.鋁及鋁合金B(yǎng).不銹鋼及耐蝕鋼C.碳鋼及合金鋼D.銅及銅合金【參考答案】C【詳細(xì)解析】AT型磁粉（白色）適用于碳鋼及合金鋼，BT型（紅色）用于不銹鋼，CT型（黑色）用于鋁及鋁合金。選項(xiàng)D銅合金需采用專用磁粉，選項(xiàng)A錯(cuò)誤。【題干6】射線檢測中，當(dāng)膠片黑度達(dá)到4.0時(shí)，缺陷可見度可滿足哪種要求？【選項(xiàng)】A.深度≥0.5mm的裂紋B.寬度≥0.5mm的氣孔C.厚度≥2mm的夾渣D.長度≥5mm的未熔合【參考答案】D【詳細(xì)解析】GB/T3323規(guī)定黑度4.0時(shí)，可清晰顯示長度≥5mm的線性缺陷（如未熔合）及寬度≥2mm的平面缺陷（如夾渣）。選項(xiàng)A對(duì)應(yīng)黑度3.5，B為黑度3.0，C為黑度3.5?！绢}干7】在滲透檢測中，清洗劑干燥時(shí)間過長會(huì)導(dǎo)致哪種問題？【選項(xiàng)】A.滲透膜殘留B.顯示劑附著不牢C.靈敏度下降D.記錄保存困難【參考答案】B【詳細(xì)解析】干燥時(shí)間超過標(biāo)準(zhǔn)（如ASTME1654規(guī)定≤30分鐘）會(huì)導(dǎo)致顯示劑無法有效附著，造成缺陷顯示不全。選項(xiàng)A殘留滲透膜需通過擦拭解決，C靈敏度與干燥時(shí)間無關(guān)，D與記錄規(guī)范相關(guān)。【題干8】UT檢測中，當(dāng)缺陷端部反射波呈現(xiàn)雙峰時(shí)，通常指示哪種缺陷類型？【選項(xiàng)】A.缺陷邊緣銳利B.缺陷內(nèi)部有夾渣C.缺陷表面粗糙D.缺陷貫穿整個(gè)截面【參考答案】B【詳細(xì)解析】雙峰反射常見于內(nèi)部夾渣或氣孔，因缺陷前后壁反射疊加形成。選項(xiàng)A對(duì)應(yīng)單峰銳利反射，C表面粗糙影響波形但無雙峰，D貫穿性缺陷反射波會(huì)被衰減。【題干9】射線檢測中，當(dāng)曝光時(shí)間超過標(biāo)準(zhǔn)值2倍時(shí)，會(huì)導(dǎo)致哪種后果？【選項(xiàng)】A.底片灰霧度增加B.缺陷邊緣模糊C.照片尺寸擴(kuò)大D.檢測速度加快【參考答案】A【詳細(xì)解析】ISO1631規(guī)定曝光時(shí)間每增加一倍，灰霧度指數(shù)（G）上升約0.3。選項(xiàng)B邊緣模糊是黑度過低的表現(xiàn)，C照片尺寸由膠片尺寸決定，D與設(shè)備功率相關(guān)?！绢}干10】在磁粉檢測中，評(píng)定人員需持有哪種證書？【選項(xiàng)】A.無損檢測工程師（一級(jí)）B.磁粉檢測操作員證C.超聲檢測工程師證D.射線檢測初級(jí)證【參考答案】B【詳細(xì)解析】依據(jù)T/SP1006-2020《無損檢測人員分級(jí)規(guī)范》，磁粉檢測評(píng)定需取得Ⅱ級(jí)及以上操作證。選項(xiàng)A為高級(jí)資格，C/D非專用證書。【題干11】UT檢測中，當(dāng)縱波檢測時(shí)，缺陷反射波與基準(zhǔn)波幅比超過80%時(shí)，應(yīng)如何處理？【選項(xiàng)】A.直接判定缺陷等級(jí)B.需增加橫波檢測驗(yàn)證C.更換探頭頻率D.檢查耦合劑狀態(tài)【參考答案】B【詳細(xì)解析】ASMEV-1-2022規(guī)定，縱波檢測中當(dāng)反射波≥80%基準(zhǔn)波時(shí)，必須進(jìn)行橫波復(fù)驗(yàn)，排除表面缺陷誤判。選項(xiàng)A未考慮檢測方法限制，C/D為常規(guī)操作步驟?！绢}干12】射線檢測中，SA-516-70標(biāo)準(zhǔn)對(duì)應(yīng)哪種鋼板厚度范圍？【選項(xiàng)】A.≤12.5mmB.12.5-50mmC.50-100mmD.≥100mm【參考答案】B【詳細(xì)解析】SA-516-70鋼板厚度為12.5-50mm，SA-516-65為50-100mm，SA-516-70H為≥100mm。選項(xiàng)A對(duì)應(yīng)SA-516-60，C為SA-516-65，D為特殊厚板?！绢}干13】在滲透檢測中，當(dāng)滲透時(shí)間超過標(biāo)準(zhǔn)值50%時(shí)，會(huì)導(dǎo)致哪種問題？【選項(xiàng)】A.滲透劑未完全滲透B.顯示劑提前固化C.靈敏度降低D.清洗時(shí)間延長【參考答案】B【詳細(xì)解析】ASTME1654規(guī)定滲透時(shí)間不超過標(biāo)準(zhǔn)值（如5分鐘），超過會(huì)導(dǎo)致顯示劑pH值下降，固化時(shí)間縮短，造成缺陷顯示不完整。選項(xiàng)A需延長清洗時(shí)間，C與滲透劑類型相關(guān)?！绢}干14】UT檢測中，當(dāng)缺陷反射波幅值達(dá)基準(zhǔn)波幅的120%時(shí)，應(yīng)判定為哪種缺陷？【選項(xiàng)】A.I級(jí)（輕微缺陷）B.II級(jí)（中度缺陷）C.III級(jí)（嚴(yán)重缺陷）D.IV級(jí)（報(bào)廢缺陷）【參考答案】D【詳細(xì)解析】UT缺陷評(píng)定標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，當(dāng)反射波≥基準(zhǔn)波120%且長度≥20mm時(shí)，判定為IV級(jí)缺陷需報(bào)廢。選項(xiàng)A對(duì)應(yīng)≤30%且長度≤3mm，B對(duì)應(yīng)30%-70%且長度≤6mm，C對(duì)應(yīng)70%-100%且長度≤12mm?！绢}干15】在射線檢測中，當(dāng)?shù)灼诙炔蛔銜r(shí)，應(yīng)首先采取哪種措施？【選項(xiàng)】A.增加曝光時(shí)間B.提高膠片ISO感光度C.使用更高黑度膠片D.檢查設(shè)備電壓【參考答案】A【詳細(xì)解析】GB/T3323-2005規(guī)定黑度不足優(yōu)先延長曝光時(shí)間，選項(xiàng)B會(huì)降低對(duì)比度，C需更換膠片且成本高，D應(yīng)最后檢查?！绢}干16】磁粉檢測中，當(dāng)使用AT型磁粉檢測不銹鋼時(shí)，會(huì)出現(xiàn)哪種現(xiàn)象？【選項(xiàng)】A.缺陷顯示清晰B.磁粉無法吸附C.顯示劑顏色異常D.需增加磁化電流【參考答案】B【詳細(xì)解析】AT型磁粉適用于碳鋼，不銹鋼需使用BT型（紅色）。選項(xiàng)A使用BT型時(shí)顯示更清晰，C顏色異常由磁粉類型決定，D與磁化強(qiáng)度相關(guān)?！绢}干17】UT檢測中，當(dāng)缺陷位于晶界處時(shí)，應(yīng)如何調(diào)整檢測參數(shù)？【選項(xiàng)】A.提高探頭頻率B.增加耦合劑厚度C.采用橫波檢測D.延長檢測時(shí)間【參考答案】C【詳細(xì)解析】晶界處缺陷易產(chǎn)生多次反射，橫波檢測可減少衰減。選項(xiàng)A適用于小缺陷，B會(huì)降低耦合效果，D與檢測時(shí)間標(biāo)準(zhǔn)無關(guān)?！绢}干18】射線檢測中，SA-514標(biāo)準(zhǔn)適用于哪種壓力容器？【選項(xiàng)】A.蒸汽鍋爐B.石油儲(chǔ)罐C.液壓缸D.燃?xì)廨啓C(jī)【參考答案】A【詳細(xì)解析】SA-514標(biāo)準(zhǔn)對(duì)應(yīng)ASME鍋爐及壓力容器規(guī)范，SA-516為鋼板標(biāo)準(zhǔn)，SA-515為閥門標(biāo)準(zhǔn)。選項(xiàng)B對(duì)應(yīng)SA-516，C為SA-570，D為SA-377?！绢}干19】在滲透檢測中，若清洗時(shí)間不足，會(huì)導(dǎo)致哪種后果？【選項(xiàng)】A.滲透劑殘留B.顯示劑附著不牢C.靈敏度下降D.記錄保存困難【參考答案】A【詳細(xì)解析】清洗時(shí)間不足（如ASTME1654規(guī)定≥10分鐘）會(huì)導(dǎo)致滲透劑殘留，影響顯示效果。選項(xiàng)B是干燥時(shí)間不足的結(jié)果，C與滲透劑類型相關(guān)，D與記錄規(guī)范無關(guān)?！绢}干20】UT檢測中，當(dāng)缺陷反射波呈現(xiàn)不規(guī)則脈沖時(shí)，通常指示哪種缺陷類型？【選項(xiàng)】A.表面裂紋B.內(nèi)部氣孔C.焊縫未熔合D.材料夾渣【參考答案】D【詳細(xì)解析】不規(guī)則脈沖多由夾渣或未焊透引起，其反射波具有隨機(jī)性。選項(xiàng)A對(duì)應(yīng)規(guī)則脈沖，B為雙峰反射，C為線性缺陷。2025年事業(yè)單位工勤技能-北京-北京無損探傷工二級(jí)（技師）歷年參考題庫含答案解析(篇4)【題干1】無損探傷中，射線探傷最適用于檢測哪種材料的表面或近表面缺陷？【選項(xiàng)】A.金屬鑄件B.非金屬塑料C.金屬焊接接頭D.復(fù)合材料【參考答案】C【詳細(xì)解析】射線探傷通過X射線或γ射線穿透材料并成像，特別適合檢測金屬焊接接頭的內(nèi)部缺陷（如氣孔、裂紋）。選項(xiàng)A的金屬鑄件雖為金屬材料，但內(nèi)部缺陷多由鑄造過程引起，更適合超聲波探傷檢測。選項(xiàng)B非金屬塑料不適用射線探傷，因其吸收射線能力過強(qiáng)。選項(xiàng)D復(fù)合材料需根據(jù)具體類型選擇探傷方法?！绢}干2】在超聲波探傷中，當(dāng)使用橫波檢測時(shí)，探頭與工件表面接觸角度應(yīng)滿足什么條件？【選項(xiàng)】A.大于30°B.等于30°C.小于30°D.任意角度【參考答案】C【詳細(xì)解析】橫波檢測要求探頭入射角小于30°，以確保橫波在材料內(nèi)有效傳播。若角度過大（如選項(xiàng)A），易產(chǎn)生縱波干擾；選項(xiàng)B等于30°時(shí)波型轉(zhuǎn)換不完全；選項(xiàng)D任意角度無法保證檢測精度?！绢}干3】磁粉探傷中，裂紋顯示的清晰度主要與下列哪個(gè)因素?zé)o關(guān)？【選項(xiàng)】A.磁化電流強(qiáng)度B.磁粉顆粒大小C.工件表面粗糙度D.裂紋深度【參考答案】B【詳細(xì)解析】裂紋顯示清晰度與磁化電流（A）直接相關(guān)，電流不足會(huì)導(dǎo)致磁化不充分；工件表面粗糙度（C）影響磁粉附著效果；裂紋深度（D）過淺可能被表面氧化層掩蓋。磁粉顆粒大?。˙）對(duì)顯示清晰度影響較小，主要影響磁粉堆積密度。【題干4】滲透探傷中，清洗劑的主要作用是什么？【選項(xiàng)】A.去除表面油污B.溶解滲透劑C.脫離顯示劑D.增加滲透劑黏度【參考答案】A【詳細(xì)解析】清洗劑（A）需快速清除工件表面油污，確保滲透劑均勻滲透。選項(xiàng)B溶解滲透劑會(huì)破壞滲透過程，選項(xiàng)C脫離顯示劑與清洗劑功能無關(guān)，選項(xiàng)D黏度增加會(huì)阻礙滲透劑進(jìn)入微裂紋?！绢}干5】在射線探傷中，黑度值過高的膠片可能導(dǎo)致以下哪種問題？【選項(xiàng)】A.灰霧過重B.灰霧過輕C.圖像對(duì)比度降低D.底片顯影時(shí)間延長【參考答案】C【詳細(xì)解析】膠片黑度值過高（C）會(huì)壓縮灰霧與圖像的對(duì)比度，導(dǎo)致缺陷細(xì)節(jié)模糊。灰霧過重（A）是膠片老化或顯影過度的表現(xiàn)，與黑度值無直接關(guān)聯(lián)?；异F過輕（B）和顯影時(shí)間（D）屬于顯影工藝參數(shù)問題?！绢}干6】超聲波探傷中，當(dāng)使用雙晶探頭時(shí)，晶片間距應(yīng)如何設(shè)置以檢測表面裂紋？【選項(xiàng)】A.大于裂紋深度B.等于裂紋深度C.小于裂紋深度D.任意間距【參考答案】C【詳細(xì)解析】雙晶探頭的晶片間距需小于裂紋深度（C），通過二次波反射定位表面裂紋。若間距等于（B）或大于（A）裂紋深度，無法有效激發(fā)反射信號(hào)。選項(xiàng)D任意間距無法保證檢測精度。【題干7】磁粉探傷中，裂紋的起始端和終止端通常呈現(xiàn)什么形態(tài)？【選項(xiàng)】A.圓形末端B.鋸齒形末端C.平滑末端D.突出末端【參考答案】B【詳細(xì)解析】磁粉顯示中，裂紋起始端和終止端多呈現(xiàn)鋸齒形（B），這是裂紋擴(kuò)展的典型特征。圓形末端（A）多見于疲勞裂紋，平滑末端（C）可能為表面劃痕，突出末端（D）不符合磁粉顯示規(guī)律?！绢}干8】射線探傷中，確定膠片曝光時(shí)間的核心參數(shù)是？【選項(xiàng)】A.工件厚度B.射線能量C.膠片黑度D.環(huán)境溫度【參考答案】A【詳細(xì)解析】膠片曝光時(shí)間（A）主要取決于工件厚度，厚度越大需更長時(shí)間以保證射線成像清晰。射線能量（B）影響穿透力，但需結(jié)合厚度調(diào)整；膠片黑度（C）是顯影后的結(jié)果參數(shù)；環(huán)境溫度（D）僅影響顯影速度?！绢}干9】在滲透探傷中，若顯示劑無法完全脫離工件表面，可能導(dǎo)致什么后果？【選項(xiàng)】A.增加滲透效率B.降低裂紋檢出率C.引發(fā)工件腐蝕D.提高表面光潔度【參考答案】B【詳細(xì)解析】未完全脫離的顯示劑（B）會(huì)覆蓋裂紋顯示，降低檢出率。選項(xiàng)A滲透效率受清洗劑質(zhì)量影響，與顯示劑脫離無關(guān)；選項(xiàng)C腐蝕風(fēng)險(xiǎn)主要來自清洗劑殘留；選項(xiàng)D與顯示劑無關(guān)?！绢}干10】超聲波探傷中，當(dāng)接收信號(hào)出現(xiàn)回波時(shí)，說明？【選項(xiàng)】A.無缺陷B.缺陷反射C.材料內(nèi)部均勻D.探頭接觸不良【參考答案】B【詳細(xì)解析】超聲波探傷中，回波信號(hào)（B）表明聲波遇到界面或缺陷發(fā)生反射。無缺陷時(shí)（A）信號(hào)會(huì)完全透過；材料均勻（C）不會(huì)產(chǎn)生異?；夭?；探頭接觸不良（D）會(huì)導(dǎo)致信號(hào)衰減而非回波?！绢}干11】磁粉探傷中，使用直流磁場時(shí)，裂紋顯示是否與磁場方向有關(guān)？【選項(xiàng)】A.有關(guān)B.無關(guān)C.需根據(jù)裂紋方向調(diào)整D.僅在橫向顯示【參考答案】A【詳細(xì)解析】直流磁場（A）方向影響裂紋磁化程度，需調(diào)整磁場方向使裂紋與磁場垂直，才能充分顯示。選項(xiàng)B、C、D均不符合直流磁粉探傷的原理?！绢}干12】射線探傷中，當(dāng)膠片灰霧過重時(shí)，應(yīng)優(yōu)先采取什么措施？【選項(xiàng)】A.增加曝光時(shí)間B.更換低感光膠片C.調(diào)整射線能量D.清洗膠片【參考答案】B【詳細(xì)解析】灰霧過重（B）是膠片老化或感光度過高的表現(xiàn)，更換低感光膠片可改善。選項(xiàng)A增加曝光時(shí)間會(huì)加重灰霧，選項(xiàng)C調(diào)整能量需結(jié)合厚度，選項(xiàng)D清洗無效?！绢}干13】在超聲波探傷中，缺陷回波高度與什么因素?zé)o關(guān)？【選項(xiàng)】A.缺陷尺寸B.材料聲速C.探頭頻率D.環(huán)境溫度【參考答案】D【詳細(xì)解析】缺陷回波高度（A）與缺陷尺寸正相關(guān)，（B）材料聲速影響聲波傳播路徑，（C）探頭頻率決定分辨率，但（D）環(huán)境溫度僅影響電子設(shè)備穩(wěn)定性，與回波高度無直接關(guān)聯(lián)?！绢}干14】滲透探傷中，若滲透劑與顯像劑未充分混合，可能導(dǎo)致什么問題？【選項(xiàng)】A.顯示劑滲透速度減慢B.裂紋顯示模糊C.顯示劑黏度增加D.顯像時(shí)間縮短【參考答案】B【詳細(xì)解析】未混合的滲透劑（B）與顯像劑無法有效反應(yīng)，導(dǎo)致裂紋邊緣顯示不清晰。選項(xiàng)A滲透速度與混合時(shí)間相關(guān)，選項(xiàng)C黏度由配方?jīng)Q定，選項(xiàng)D顯像時(shí)間受溫度影響?！绢}干15】在射線探傷中，確定射線源能量的關(guān)鍵參數(shù)是？【選項(xiàng)】A.工件厚度B.膠片類型C.環(huán)境濕度D.檢測時(shí)間【參考答案】A【詳細(xì)解析】射線源能量（A）需根據(jù)工件厚度選擇，厚度越大需更高能量穿透。膠片類型（B）影響成像質(zhì)量，環(huán)境濕度（C）和檢測時(shí)間（D）與能量選擇無關(guān)?！绢}干16】超聲波探傷中，若缺陷位于工件表面以下多少深度時(shí)，橫波檢測效果最佳？【選項(xiàng)】A.≤1/4波長B.≤1/2波長C.≤3/4波長D.≤波長【參考答案】B【詳細(xì)解析】橫波檢測最佳深度（B）為聲波波長的一半，此時(shí)反射信號(hào)強(qiáng)度最大。深度過淺（A）信號(hào)弱，過深（C、D）反射信號(hào)衰減。【題干17】磁粉探傷中，裂紋與磁化方向平行時(shí)，顯示效果如何？【選項(xiàng)】A.顯示清晰B.完全不顯示C.顯示模糊D.僅末端顯示【參考答案】B【詳細(xì)解析】裂紋與磁場方向平行時(shí)（B），磁化無法沿裂紋方向進(jìn)行，導(dǎo)致不顯示。選項(xiàng)A、C、D適用于裂紋與磁場垂直的情況。【題干18】射線探傷中，黑度值過低的膠片可能導(dǎo)致什么問題？【選項(xiàng)】A.圖像對(duì)比度降低B.灰霧過重C.底片顯影困難D.缺陷邊緣模糊【參考答案】A【詳細(xì)解析】黑度值過低（A）會(huì)降低圖像對(duì)比度，使缺陷與基體區(qū)分度不足?；异F過重（B）是顯影過度問題，選項(xiàng)C與黑度值無關(guān)，選項(xiàng)D是對(duì)比度低的表現(xiàn)?！绢}干19】在滲透探傷中，裂紋深度超過多少時(shí)無法用磁粉探傷檢測？【選項(xiàng)】A.0.5mmB.1.0mmC.1.5mmD.2.0mm【參考答案】A【詳細(xì)解析】磁粉探傷檢測極限（A）為0.5mm，裂紋過淺（B、C、D）無法形成足夠磁粉堆積。但需結(jié)合工件表面粗糙度和磁化強(qiáng)度調(diào)整?！绢}干20】超聲波探傷中，當(dāng)接收信號(hào)幅度突然增大時(shí)，說明？【選項(xiàng)】A.無缺陷B.缺陷存在C.材料內(nèi)部均勻D.探頭損壞【參考答案】B【詳細(xì)解析】接收信號(hào)幅度突然增大（B）表明聲波遇到缺陷或分層界面反射，無缺陷（A）信號(hào)平穩(wěn)，材料均勻（C）不會(huì)產(chǎn)生異?；夭?，探頭損壞（D）會(huì)導(dǎo)致信號(hào)整體衰減。2025年事業(yè)單位工勤技能-北京-北京無損探傷工二級(jí)（技師）歷年參考題庫含答案解析(篇5)【題干1】在磁粉檢測中，若檢測面積較大且形狀不規(guī)則，應(yīng)優(yōu)先采用哪種磁化方式？【選項(xiàng)】A.火花磁化B.橋梁磁化C.整管磁化D.局部磁化【參考答案】C【詳細(xì)解析】整管磁化適用于檢測面積大且形狀不規(guī)則的工件，因其能均勻覆蓋整個(gè)檢測區(qū)域；火花磁化適用于局部檢測，橋梁磁化需配合特定夾具使用，局部磁化僅針對(duì)小范圍缺陷。【題干2】奧氏體不銹鋼在磁粉檢測中易出現(xiàn)磁化不足，主要原因是什么？【選項(xiàng)】A.導(dǎo)磁率低B.碳含量高C.內(nèi)應(yīng)力大D.表面粗糙【參考答案】A【詳細(xì)解析】奧氏體不銹鋼導(dǎo)磁率低（<2%），導(dǎo)致磁化困難。碳含量高雖影響磁化，但非主因；內(nèi)應(yīng)力大可導(dǎo)致磁粉聚集誤判，表面粗糙僅影響顯像效果?！绢}干3】超聲檢測中，當(dāng)缺陷位于焊縫中心時(shí)，最適用的檢測面為？【選項(xiàng)】A.焊縫面B.焊縫根面C.內(nèi)表面D.外表面【參考答案】B【詳細(xì)解析】焊縫根面可最大程度避開焊縫余高，確保聲束垂直入射至缺陷區(qū)域，提高檢測靈敏度。焊縫面易受余高遮擋，內(nèi)/外表面聲程過長導(dǎo)致衰減嚴(yán)重?！绢}干4】射線檢測中，膠片黑度不足會(huì)導(dǎo)致哪種問題？【選項(xiàng)】A.缺陷可見度低B.環(huán)境輻射超標(biāo)C.顯像時(shí)間延長D.暗室污染【參考答案】A【詳細(xì)解析】膠片黑度不足（D值低）會(huì)降低對(duì)比度，使缺陷影像模糊或無法識(shí)別。環(huán)境輻射超標(biāo)需通過劑量監(jiān)測解決，顯像時(shí)間與黑度無關(guān)，暗室污染屬操作失誤。【題干5】滲透檢測中，清洗劑去除后未及時(shí)干燥，可能引發(fā)哪種缺陷顯示缺陷？【選項(xiàng)】A.假顯示B.誤顯示C.無顯示D.失真顯示【參考答案】A【詳細(xì)解析】清洗劑殘留會(huì)吸附磁粉或掩蓋實(shí)際缺陷（假顯示）。誤顯示指誤判無缺陷為缺陷，無顯示因清洗不徹底導(dǎo)致滲透劑未滲透，失真顯示因表面粗糙導(dǎo)致影像模糊。【題干6】在工藝評(píng)定中，若母材厚度為18mm，檢測厚度不小于多少可免于加墊？【選項(xiàng)】A.12mmB.15mmC.20mmD.25mm【參考答案】B【詳細(xì)解析】依據(jù)ISO5817標(biāo)準(zhǔn)，當(dāng)檢測厚度≥母材厚度80%（18×80%=14.4mm）且≥15mm時(shí)，可不加墊。選項(xiàng)B符合規(guī)范要求?！绢}干7】磁粉檢測中，使用H型磁化器時(shí)，工件長度與磁化器寬度的比例應(yīng)控制在？【選項(xiàng)】A.1:1B.1:2C.1:3D.1:4【參考答案】C【詳細(xì)解析】H型磁化器需保證磁場均勻覆蓋，長度與寬度比≤1:3（如磁化器寬300mm，工件長度≤1000mm）。1:2會(huì)導(dǎo)致磁場邊緣衰減，1:4易出現(xiàn)盲區(qū)?！绢}干8】射線檢測中，膠片曝光后顯像時(shí)間過長會(huì)導(dǎo)致？【選項(xiàng)】A.缺陷影像模糊B.黑度不足C.顯影不完全D.底片硬化【參考答案】A【詳細(xì)解析】顯像時(shí)間過久會(huì)使銀鹽顆粒過度聚集，影像邊緣模糊。黑度不足因曝光不足或膠片性能差，顯影不完全屬操作失誤，底片硬化與顯像無關(guān)?！绢}干9】超聲檢測中，當(dāng)缺陷反射聲壓幅值超過縱波聲壓幅值的多少時(shí)，可直接判定為超標(biāo)缺陷？【選項(xiàng)】A.50%B.60%C.70%D.80%【參考答案】C【詳細(xì)解析】依據(jù)ISO5817-4，當(dāng)缺陷回波幅值≥縱波幅值的70%且聲程≤80%時(shí)，可判定為缺陷。50%-60%需結(jié)合缺陷長度綜合判定。【題干10】滲透檢測中，滲透劑滲透時(shí)間不足會(huì)導(dǎo)致？【選項(xiàng)】A.滲透劑未完全進(jìn)入缺陷B.表面殘留物增多C.顯像時(shí)間延長D.環(huán)境溫度升高【參考答案】A【詳細(xì)解析】滲透時(shí)間不足（≥10min）會(huì)導(dǎo)致滲透劑未充分進(jìn)入開口缺陷，影響顯示效果。表面殘留物增多因清洗不徹底，顯像時(shí)間與滲透劑無關(guān)，環(huán)境溫度升高屬外部因素?！绢}干11】在射線檢測中，當(dāng)使用Mo靶材時(shí)，檢測厚度超過多少mm需采用雙屏法？【選項(xiàng)】A.100B.150C.200D.250【參考答案】B【詳細(xì)解析】根據(jù)EJ/T1238標(biāo)準(zhǔn)，Mo靶材（k=1.71）檢測厚度≤150mm時(shí)可單屏檢測，超過150mm需雙屏（