模擬電子技術(shù)(第2版) 課件 第四章 場效應(yīng)管及應(yīng)用電路_第1頁
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第四章場效應(yīng)管及應(yīng)用電路建議學(xué)時(shí):4~6學(xué)時(shí)知識(shí)點(diǎn)理解場效應(yīng)管的分類;理解場效應(yīng)管的結(jié)構(gòu)和工作原理;(重點(diǎn))了解場效應(yīng)管的曲線和參數(shù);描述場效應(yīng)管的各種應(yīng)用。描述場效應(yīng)管的偏置;計(jì)算FET工作參數(shù);(重點(diǎn))場效應(yīng)管按結(jié)構(gòu)可分為結(jié)型場效應(yīng)管(JFET)和絕緣柵型場效應(yīng)管(MOSFET)兩類,按照導(dǎo)電溝道形成機(jī)理不同,MOS管可分為增強(qiáng)型和耗盡型兩類;按導(dǎo)電類型又可分為N溝道場效應(yīng)管和P溝道場效應(yīng)管兩類利用輸入回路的電場效應(yīng)來控制輸出回路電流的半導(dǎo)體器件。由于場效應(yīng)管幾乎僅靠半導(dǎo)體中的多數(shù)載流子導(dǎo)電,故又稱單極型晶體管。4.1結(jié)型場效應(yīng)晶體管

4.1.1結(jié)構(gòu)與符號(hào)(b)4.1.2工作原理1.直流偏置N溝道JFET正常工作時(shí)常接成共源電路,即以源極為公共端,漏極與源極之間應(yīng)加正電壓,即uDS>0,使N溝道中的多數(shù)載流子(電子)在電場的作用下由源極向漏極運(yùn)動(dòng),形成漏極電流iD。由于導(dǎo)電溝道的寬度,也就是溝道的導(dǎo)電能力,可以由柵極電壓控制,為了控制漏極電流,柵極與源極之間加負(fù)電壓,即uGS<0,使柵極與溝道間的PN結(jié)處于反偏狀態(tài),因此柵極電流iG≈0,(1)uGS對iD的控制作用首先假設(shè)uDS=0。當(dāng)uGS由0向負(fù)值增大時(shí),反向偏置加大,耗盡層變寬,導(dǎo)電溝道變窄,溝道電阻增大當(dāng)

uGS

進(jìn)一步增加到某一數(shù)值時(shí),兩側(cè)耗盡層相遇,溝道被耗盡層完全夾斷,導(dǎo)電溝道的寬度為零,如圖4-1-3(b)所示。使兩側(cè)耗盡層正好相遇時(shí)的柵源電壓稱為夾斷電壓,用UGS,off表示。(2)uDS對iD的影響當(dāng)uGS=0時(shí),導(dǎo)電溝道最寬,溝道電阻最小,在一定uDS作用下的iD也最大。若一開始當(dāng)uDS=0,則iD=0。但隨著uDS的逐漸增大,一方面iD隨之增大;另一方面,當(dāng)iD流過溝道時(shí),沿著溝道產(chǎn)生電壓降,使溝道各點(diǎn)電位不再相等,沿溝道從源極到漏極逐漸增加,在源端PN結(jié)的反向電壓為0(最?。?,在漏端PN結(jié)的反向電壓為uDS(最大),這使得耗盡層從源端到漏端逐漸加寬,形成源端較寬、漏端較窄的楔形溝道,并使溝道電阻有所增大。隨著uDS的進(jìn)一步增大,漏端區(qū)的溝道變得更加狹窄。當(dāng)uDS增大到

UGS,off

(即uGD=UGS,off)時(shí),漏端區(qū)的耗盡層相遇,如圖4-1-4(b)所示,這種情況稱為預(yù)夾斷,2.特性曲線(1)輸出特性JFET的輸出特性是指當(dāng)柵源電壓uGS為某一定值時(shí),漏極電流iD與漏源電壓uDS之間的關(guān)系,如圖4-1-6(a)所示為某N溝道JFET的輸出特性曲線。P溝道JFET器件工作原理相同,但是極性相反。JFET的工作情況可分為4個(gè)區(qū)域,可變電阻區(qū)、恒流區(qū)或飽和區(qū)、截止區(qū)和擊穿區(qū)。①可變電阻區(qū)在uGS>uGS,off,uGD>uGS,off時(shí),漏極電流iD隨uDS呈線性增加,輸出特性按線性上升,D、S極間等效為一個(gè)線性電阻,而阻值的大小與所固定的uGS有關(guān),當(dāng)uGS越小,iD隨uDS增長越慢,等效電阻越大,這個(gè)工作區(qū)域稱為可變電阻區(qū)。②恒流區(qū)當(dāng)uGS>uGS,off,uGD<uGS,off時(shí),導(dǎo)電溝道在漏極附近開始被夾斷(預(yù)夾斷),特性曲線近似為一族平行于橫軸的直線,此時(shí)柵極到漏極之間的反向偏置電壓使得耗盡層變大到足以抵消uDS增大的影響,使iD基本不變,這個(gè)工作區(qū)域稱為恒流區(qū)③截止區(qū)當(dāng)uGS≤uGS,off時(shí),導(dǎo)電溝道被全部夾斷,該區(qū)域稱為夾斷區(qū)或截止區(qū),為輸出曲線靠近橫軸的區(qū)域。④擊穿區(qū)當(dāng)uDS進(jìn)一步增加,iD快速增大,可能擊穿造成器件不可逆的損壞,這個(gè)工作區(qū)域稱為擊穿區(qū)。(2)轉(zhuǎn)移特性轉(zhuǎn)移特性是指當(dāng)漏源電壓uDS為某一定值時(shí),漏極電流iD與柵源電壓uGS的關(guān)系,如圖4-1-6(b)所示。從該曲線上直接可以讀出夾斷電壓UGS,off和漏極飽和電流IDSS,該曲線直觀地反映了uGS對iD的控制作用。低頻跨導(dǎo)(互導(dǎo))gm低頻跨導(dǎo)gm是指在uDS為某一固定值時(shí),漏極電流的微小變化?ID與對應(yīng)的輸入電壓變化量?UGS之比,即4.2增強(qiáng)型絕緣柵場效應(yīng)晶體管

絕緣柵型場效應(yīng)管是由金屬(metal)、氧化物(oxide)和半導(dǎo)體(semiconductor)組成的,稱為MOSFET,簡稱MOS管MOS管也有N溝道和P溝道兩類,其中每一類又可分成增強(qiáng)型和耗盡型兩種。所謂“增強(qiáng)型”:指uGS=0時(shí),沒有導(dǎo)電溝道,即iD=0,而必須依靠柵源電壓uGS的作用,才形成感生溝道的FET,稱為增強(qiáng)型FET。所謂“耗盡型”:指uGS=0時(shí),也會(huì)存在導(dǎo)電溝道,iD≠0的FET,稱為耗盡型FET4.2.1結(jié)構(gòu)與符號(hào)4.2.2工作原理N溝道增強(qiáng)型MOS管不存在原始導(dǎo)電溝道,即使漏源之間加電壓,漏極電流iD≈0。當(dāng)柵源極間加上一定的uGS(uGS>0)時(shí),構(gòu)成了漏源極之間的N型導(dǎo)電溝道。使導(dǎo)電溝道(反型層)開始形成時(shí)的柵源電壓稱為開啟電壓UGS,th。顯然,如果uGS再進(jìn)一步增大,反型層即N溝道將加寬,即可以用uGS來控制導(dǎo)電溝道的寬窄4.3耗盡型絕緣柵場效應(yīng)晶體管

4.3.1結(jié)構(gòu)與符號(hào)它與N溝道增強(qiáng)型MOS管的結(jié)構(gòu)基本相同,不過制造時(shí),在SiO2絕緣層中摻入大量的正離子,則可在P型襯底表面感應(yīng)出一個(gè)N型層,預(yù)先形成導(dǎo)電溝道。各種場效應(yīng)管的轉(zhuǎn)移特性和輸出特性對比4.4場效應(yīng)晶體管放大電路

4.4.1自偏壓電路柵源極之間的直流偏壓UGS是由場效應(yīng)管的自身電流ID流過RS產(chǎn)生的,故稱該電路為自偏壓電路這種偏壓方式只適用JFET、耗盡型MOSFET,不適用于增強(qiáng)型MOSFET4.4.2分壓式自偏壓電路4.4.3共源放大電路1.微變等效電路【例11】場效應(yīng)管分壓式自偏壓電路如圖4-4-5所示,其中RG1=100k

,RG2=20k

,RG3=1M

,RD=10k

,RS=2k

,RL=10k

,VDD=18V,場效應(yīng)管的IDSS=5mA,UGS,off=

4V。求電路的Au,Ri和Ro知識(shí)梳理與總結(jié)FET分別為JFET和MOSFET兩大類。每類都有兩種溝道類型,而MOSFET又分為增強(qiáng)型和耗盡型(JFET屬耗盡型),故共有6種類型FET(圖4-1)。JFET和MOSFET內(nèi)部結(jié)構(gòu)有較大差別,但內(nèi)部的溝道電流都是多子漂移電流。一般情況下,該電流與

、

都有關(guān)。FET是電壓控制電流器件。在FET放大電路中,UDS的極性取決于FET的溝道性質(zhì),N溝道時(shí)為正,P溝道時(shí)為負(fù);為了建立合適的偏置電壓UGS,不同類型的FET,對偏置電壓的極性有不同要求:JFET的UGS與UDS極性相反,增強(qiáng)

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