2025年射線探傷工理論知識考試題庫及答案一、選擇題1.射線探傷中，以下哪種射線源的能量最高（）A.X射線B.γ射線（Co-60）C.γ射線（Ir-192）D.中子射線答案：B。Co-60的能量為1.17MeV和1.33MeV，Ir-192的能量在0.35MeV-0.67MeV之間，X射線能量取決于管電壓，一般相對γ射線（Co-60）較低，中子射線常用于特殊檢測，能量也不是最高的，所以選B。2.射線探傷中，底片上出現(xiàn)的咬邊缺陷影像特征是（）A.連續(xù)或斷續(xù)的黑色線條，線條較寬B.黑色的圓形或橢圓形斑點C.靠近焊縫邊緣的連續(xù)或斷續(xù)的黑色細線條D.呈樹枝狀分布的黑色影像答案：C。咬邊是在焊縫邊緣母材上形成的溝槽，在底片上表現(xiàn)為靠近焊縫邊緣的連續(xù)或斷續(xù)的黑色細線條，所以選C。3.射線探傷中，底片的黑度是指（）A.底片的顏色深淺B.透過底片的光強與入射光強之比的常用對數(shù)值的相反數(shù)C.底片上的感光銀鹽的含量D.底片的透明度答案：B。根據(jù)黑度的定義，底片黑度是透過底片的光強與入射光強之比的常用對數(shù)值的相反數(shù)，所以選B。4.射線探傷中，以下哪種因素會使射線照相的對比度提高（）A.增加管電壓B.增加曝光量C.減小焦距D.選用粒度細的膠片答案：D。選用粒度細的膠片可以減少散射，提高射線照相的對比度；增加管電壓會使射線的穿透能力增強，但對比度會降低；增加曝光量主要影響底片的黑度；減小焦距會使幾何不清晰度增大，對對比度不利，所以選D。5.射線探傷中，射線的線質越硬，其（）A.波長越短，穿透能力越強B.波長越長，穿透能力越強C.波長越短，穿透能力越弱D.波長越長，穿透能力越弱答案：A。射線的線質硬意味著能量高，根據(jù)E=hc/λ（E為能量，h為普朗克常量，c為光速，λ為波長），能量高則波長越短，且穿透能力越強，所以選A。二、判斷題1.射線探傷只能檢測工件內部的體積型缺陷。（）答案：錯誤。射線探傷不僅能檢測工件內部的體積型缺陷，如氣孔、夾渣等，也能檢測面積型缺陷，如裂紋等，只是對于面積型缺陷的檢測靈敏度與缺陷的取向有關。2.在射線探傷中，膠片的感光度越高，所需的曝光量就越大。（）答案：錯誤。膠片的感光度越高，意味著膠片對射線越敏感，所需的曝光量就越小。3.射線探傷時，底片上的偽缺陷影像一定是由操作不當引起的。（）答案：錯誤。底片上的偽缺陷影像可能由操作不當引起，如暗室處理不當、膠片劃傷等，也可能由其他因素引起，如射線源的散射、工件表面的異物等。4.射線的吸收系數(shù)只與射線的能量有關。（）答案：錯誤。射線的吸收系數(shù)不僅與射線的能量有關，還與吸收物質的種類、密度等因素有關。5.采用雙壁單影透照法進行射線探傷時，底片上的影像清晰度比單壁單影透照法高。（）答案：錯誤。雙壁單影透照法由于射線要穿透兩層壁，會產生更多的散射，且?guī)缀尾磺逦纫蚕鄬^大，所以底片上的影像清晰度比單壁單影透照法低。三、簡答題1.簡述射線探傷的基本原理。射線探傷是利用射線（如X射線、γ射線等）能夠穿透物質，并在穿透過程中與物質發(fā)生相互作用而被吸收和散射，當射線透過被檢工件后，由于工件內部存在缺陷（如氣孔、夾渣等）和無缺陷部位對射線吸收程度不同，使得透過工件后的射線強度分布發(fā)生變化，這種強度分布變化的射線照射到膠片上，經過顯影、定影等暗室處理后，在底片上形成與工件內部缺陷相對應的不同黑度的影像，通過對底片影像的分析，就可以判斷工件內部是否存在缺陷以及缺陷的位置、大小和性質等。2.影響射線照相靈敏度的因素有哪些？影響射線照相靈敏度的因素主要有以下幾個方面：-射線因素：射線的能量（線質），能量過高會使對比度降低，靈敏度下降；射線的強度和曝光量，合適的曝光量是保證靈敏度的關鍵。-膠片因素：膠片的類型、粒度大小等，粒度細的膠片靈敏度高。-增感屏因素：增感屏的類型、厚度和質量等，合適的增感屏可以提高靈敏度。-幾何因素：焦距、透照厚度比等，焦距合適、透照厚度比小有利于提高靈敏度。-散射因素：散射會降低對比度，增加底片的灰霧度，影響靈敏度，可采用鉛板、濾板等方法減少散射。-工件因素：工件的形狀、表面粗糙度等，形狀復雜和表面粗糙會使靈敏度降低。-暗室處理因素：顯影時間、溫度和定影條件等，正確的暗室處理是保證靈敏度的重要環(huán)節(jié)。3.如何選擇合適的射線源進行探傷？選擇合適的射線源進行探傷需要考慮以下因素：-工件厚度：對于較薄的工件，可選用能量較低的X射線源；對于較厚的工件，則需要選用能量較高的γ射線源（如Co-60）。-探傷效率：如果需要快速探傷，γ射線源的效率相對較高，因為它不需要像X射線機那樣需要外接電源和復雜的操作設備。-探傷靈敏度：對于對靈敏度要求較高的場合，可選用能量合適、線質較好的射線源，如在檢測較薄工件時用低能量X射線。-現(xiàn)場條件：如果在野外或無電源的場所，γ射線源更合適；在有嚴格防護要求的室內，X射線機更易控制射線劑量。-成本因素：X射線機的設備成本和使用成本相對較高，但γ射線源的防護和管理成本也不容忽視，需要綜合考慮。四、計算題1.已知某工件的厚度為20mm，采用X射線探傷，管電壓為150kV，管電流為5mA，曝光時間為5min，焦距為600mm。若要將焦距調整為900mm，其他條件不變，求新的曝光時間。根據(jù)平方反比定律，曝光量與焦距的平方成正比。設原曝光量為E1，新曝光量為E2，原焦距為F1，新焦距為F2，原曝光時間為t1，新曝光時間為t2。曝光量E=It（I為管電流，t為曝光時間），由于管電流不變，根據(jù)E1/E2=F12/F22，即It1/It2=F12/F22。已知F1=600mm，F(xiàn)2=900mm，t1=5min，代入可得：5/t2=6002/90025/t2=4/9t2=5×9/4=11.25min所以新的曝光時間為11.25min。2.某射線源的活度為10Ci，經過5個半衰期后，其活度變?yōu)槎嗌?？根?jù)半衰期的定義，經過一個半衰期，射線源的活度變?yōu)樵瓉淼囊话?。設初始活度為A0，經過n個半衰期后的活度為An，則An=A0×(1/2)^n。已知A0=10Ci，n=5，代入可得：An=10×(1/2)^5=10×1/32=0.3125Ci所以經過5個半衰期后，射線源的活度變?yōu)?.3125Ci。五、論述題論述射線探傷的優(yōu)缺點及適用范圍。優(yōu)點-檢測結果直觀：射線探傷可以在底片上形成清晰的影像，能夠直觀地顯示工件內部缺陷的形狀、大小和位置，便于對缺陷進行分析和判斷。-檢測結果可長期保存：底片可以作為檢測結果的永久記錄，便于對工件質量進行追溯和復查。-對體積型缺陷檢測靈敏度高：對于氣孔、夾渣等體積型缺陷，射線探傷能夠準確地檢測出來，并且可以比較準確地測量缺陷的大小。-適用范圍廣：可以檢測各種金屬和非金屬材料制成的工件，不受工件形狀和尺寸的限制。缺點-對人體有危害：射線對人體有輻射危害，需要采取嚴格的防護措施，操作人員必須經過專業(yè)培訓并遵守操作規(guī)程。-檢測成本較高：射線探傷設備（如X射線機、γ射線源等）價格昂貴，并且需要專業(yè)的防護設施和暗室處理設備，檢測成本較高。-對面積型缺陷檢測靈敏度受取向影響：對于與射線方向平行的面積型缺陷（如裂紋），檢測靈敏度可能較低。-檢測速度相對較慢：特別是對于大型工件，檢測過程需要較長時間，效率較低。適用范圍射線探傷適用于檢測內部存在缺陷的各種金屬和非金屬材