高溫緊固螺栓超聲檢測技術(shù)導(dǎo)則2024-05-24發(fā)布2024-11-24實(shí)施國家能源局發(fā)布I前言 Ⅱ 12規(guī)范性引用文件 13術(shù)語和定義 14檢測人員 15檢測設(shè)備和器材 16檢測準(zhǔn)備 7檢測系統(tǒng)校準(zhǔn)和復(fù)核 8檢測工藝 410檢測信號評定 附錄A(規(guī)范性)LS-I對比試塊 附錄B(規(guī)范性)LS-Ⅱ?qū)Ρ仍噳K 附錄C(資料性)螺栓聲速測定及定位修正 附錄D(資料性)螺栓相控陣超聲檢測典型缺陷圖譜 附錄E(資料性)國內(nèi)超臨界、超超臨界火電機(jī)組螺栓鋼種 參考文獻(xiàn) 24ⅡDL/T694—2024本文件按照GB/T1.1—2020《標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第1部分：標(biāo)準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則》的規(guī)定本文件代替DL/T694—2012《高溫緊固螺栓超聲檢測技術(shù)導(dǎo)則》,與DL/T694—2012相比，除結(jié)構(gòu)調(diào)整和編輯性改動外，主要技術(shù)變化如下：a)完善了規(guī)范性引用文件(見第2章)。b)增加了術(shù)語和定義(見第3章)。c)增加了相控陣超聲檢測設(shè)備、掃查裝置和分析軟件的相關(guān)規(guī)定(見5.2)。d)增加了標(biāo)準(zhǔn)試塊、螺栓等深槽試塊的規(guī)定(見5.3.1、5.3.3)。e)增加了系統(tǒng)校準(zhǔn)和復(fù)核時機(jī)的規(guī)定(見7.2)。f)增加了相控陣超聲檢測方法選擇的規(guī)定(見9.3.1)。g)增加了螺栓相控陣超聲檢測典型缺陷圖譜(見附錄D)。h)修改了小角度縱波法的適用范圍和探頭選擇(見9.2.2,2012年版的5.2)。i)修改了直探頭縱波法的適用范圍和探頭選擇(見9.2.3,2012年版的5.3)。k)修改了相控陣縱波法的適用范圍、探頭和楔塊的選擇、檢測靈敏度的調(diào)校方法的規(guī)定(見9.3.2,2012年版的附錄D)。1)修改了相控陣橫波法的適用范圍、探頭和楔塊的選擇、掃查方式選擇的規(guī)定(見9.3.3,2012年版的附錄D)。m)修改了螺栓相控陣檢測方法的缺陷信號評定相關(guān)規(guī)定(見10.5,2012年版的附錄D)。n)修改了LS-I試塊的尺寸(見附錄A,2012年版的附錄A)。o)修改了國內(nèi)超臨界、超超臨界火電機(jī)組主要用螺栓鋼種(見附錄E,2012年版的附錄E)。請注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利。本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識別專利的責(zé)任。本文件由中國電力企業(yè)聯(lián)合會提出。本文件由電力行業(yè)電站金屬材料標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(DL/TC23)歸口。本文件起草單位：上海明華電力科技有限公司、河南九域恩湃電力技術(shù)有限公司、國能徐州發(fā)電有限公司、華北電力科學(xué)研究院有限責(zé)任公司、西安熱工研究院有限公司、蘇州熱工研究院有限公司、潤電能源科學(xué)技術(shù)有限公司、云南電力試驗(yàn)研究院(集團(tuán))有限公司、國能鍋爐壓力容器檢驗(yàn)有限公司、國網(wǎng)上海市電力公司、國網(wǎng)遼寧省電力有限公司電力科學(xué)研究院、國家能源集團(tuán)新能源技術(shù)研究院有限公司、華電電力科學(xué)研究院有限公司、國網(wǎng)山西省電力公司電力科學(xué)研究院、山東瑞祥模具有限公司、上海市特種設(shè)備監(jiān)督檢驗(yàn)技術(shù)研究院、華電鄭州機(jī)械設(shè)計(jì)研究院有限公司。楊菁、王偉、肖少陽、杜晉峰、李澤、劉宇哲、張武能、董偉、馬東方、王展寶、魏玉龍、王海榮、胥楊、韓玉峰、黃春犁、黃志強(qiáng)、王瑞璇、喬湛。本文件及其所代替文件的歷次版本發(fā)布情況為：—1999年首次發(fā)布為DL/T694—1999,2012年第一次修訂；—本次為第二次修訂。本文件在執(zhí)行過程中的意見或建議反饋至中國電力企業(yè)聯(lián)合會標(biāo)準(zhǔn)化管理中心(北京市白廣路二條1DL/T694-2024高溫緊固螺栓超聲檢測技術(shù)導(dǎo)則本文件規(guī)定了高溫緊固螺栓超聲檢測方法及檢測結(jié)果的評定。本文件適用于火力發(fā)電機(jī)組汽缸、汽門、各種閥門和蒸汽管道法蘭等直徑不小于M32的高溫緊固其他緊固螺栓的超聲檢測也可參照本文件執(zhí)行。下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款。其中，注日期的引用文件，僅該日期對應(yīng)的版本適用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本(包括所有的修改單)適用于本文件。GB/T11259無損檢測超聲檢測用鋼參考試塊的制作和控制方法GB/T12604.1無損檢測術(shù)語超聲檢測GB/T27664.1無損檢測超聲檢測設(shè)備的性能與檢驗(yàn)第1部分：儀器GB/T27664.2無損檢測超聲檢測設(shè)備的性能與檢驗(yàn)第2部分：探頭GB/T27664.3無損檢測超聲檢測設(shè)備的性能與檢驗(yàn)第3部分：組合設(shè)備DL/T1718—2017火力發(fā)電廠焊接接頭相控陣超聲檢測技術(shù)規(guī)程JB/T8428無損檢測超聲試塊通用規(guī)范JB/T9214無損檢測A型脈沖反射式超聲檢測系統(tǒng)工作性能測試方法JB/T11779無損檢測儀器相控陣超聲檢測儀技術(shù)條件3術(shù)語和定義GB/T12604.1界定的術(shù)語和定義適用于本文件。5.1.1.3應(yīng)具有合格的證明文件。2DL/T694—20245.1.2.1性能應(yīng)按GB/T27664.2進(jìn)行測定，外形尺寸應(yīng)滿足實(shí)際檢測的技術(shù)要求。5.1.2.2聲束軸線水平偏向角不應(yīng)大于2°,探頭主波束在垂直方向不應(yīng)有明顯的雙峰或多峰。5.1.2.3中心頻率與標(biāo)稱頻率允許偏差為±0.5MHz。儀器和探頭的組合性能應(yīng)按JB/T9214和GB/T27664.3的規(guī)定進(jìn)行測試，并滿足以下要求：a)儀器與探頭的組合頻率與探頭標(biāo)稱頻率之間偏差不應(yīng)大于±10%。c)儀器與橫波探頭、爬波探頭組合，遠(yuǎn)場分辨率不應(yīng)小于6dB。e)水平線性誤差不應(yīng)大于1%,垂直線性誤差不應(yīng)大于5%。5.2.1相控陣超聲檢測儀器性能應(yīng)滿足JB/T11779的要求，還需滿足以下要求：a)能以最少10倍于探頭頻率對A型信號進(jìn)行采樣，且采樣率不應(yīng)小于100MHz。b)聚焦法則功能可對超聲波束特征參數(shù)進(jìn)行直接修改，延遲計(jì)算可由系統(tǒng)計(jì)算或從外部計(jì)算導(dǎo)入，各通道的發(fā)射脈沖延遲誤差不應(yīng)大于5ns。掃查步進(jìn)調(diào)節(jié)間隔值不應(yīng)大于1mm。d)脈沖激發(fā)電壓最小值不低于50V。激勵通道的發(fā)射脈沖電壓最大偏移量不應(yīng)大于設(shè)定值的5%。5.2.2對掃查裝置的要求如下：a)應(yīng)能穩(wěn)定地夾持探頭，并給予探頭一定的壓緊力和自由度，保持耦合穩(wěn)定。c)編碼器在200mm路徑往返距離偏差應(yīng)在±2mm以內(nèi)，且每次工作前應(yīng)進(jìn)行校準(zhǔn)。5.2.3對分析軟件的要求如下：a)儀器分析功能或離線軟件應(yīng)能生成A型顯示、B型顯示、C型顯示及電子掃描和扇形掃描數(shù)據(jù)圖，并能儲存和調(diào)出。b)離線軟件應(yīng)能查看檢測時的主要工藝參數(shù)。c)其他功能應(yīng)能滿足缺陷的定量、定位的要求。本文件采用的標(biāo)準(zhǔn)試塊有JB/T8428規(guī)定的CSK-IA試塊，DL/T1718規(guī)定的相控陣A型聲束偏轉(zhuǎn)評價試塊和相控陣B型聲束偏轉(zhuǎn)評價試塊。CSK-IA試塊主要用于A型超聲檢測儀器、探頭及其系統(tǒng)性能的測試；相控陣A型和B型聲束偏轉(zhuǎn)評價試塊主要用于相控陣超聲檢測儀器、探頭及其系統(tǒng)性能對比試塊是指本文件用于檢測校準(zhǔn)和對比的試塊，本文件采用的對比試塊有：3DL/T694-2024a)LS-I:用于小角度縱波檢測、直探頭縱波檢測和相控陣縱波檢測的掃描速度調(diào)整及檢測靈敏度的調(diào)校，LS-I試塊形狀、尺寸及技術(shù)要求按照附錄A規(guī)定。b)LS-IⅡ:用于爬波檢測的掃描速度調(diào)整及檢測靈敏度的調(diào)校，LS-Ⅱ試塊形狀、尺寸及技術(shù)要求按照附錄B規(guī)定。試塊應(yīng)采用與被檢螺栓規(guī)格、材質(zhì)、結(jié)構(gòu)形式和表面粗糙度相同或相近的螺栓制作。分別在靠近光桿兩側(cè)的第1個螺紋根部、光桿長度1/4位置處各加工1道深度1.0mm、長度10mm、寬0.25mm等深槽作為模擬裂紋。相鄰等深槽的周向位置間隔90°。耦合劑應(yīng)具有良好的透聲性能和潤濕能力，且對工件無害，易清除?？蛇x擇甘油、機(jī)油或水質(zhì)漿糊等作為耦合劑。6檢測準(zhǔn)備6.1檢測前應(yīng)查閱被檢螺栓的相關(guān)資料，主要包括：a)螺栓的名稱、規(guī)格、材質(zhì)及螺栓結(jié)構(gòu)形式等。b)被檢螺栓的歷次檢測資料。c)螺栓的編號，編號應(yīng)具有唯一性及可追溯性。6.2應(yīng)將螺栓拆下進(jìn)行檢測，檢測表面粗糙度不應(yīng)大于12.6μm。端面應(yīng)平整且與軸線垂直。6.3檢測前應(yīng)經(jīng)宏觀檢查合格。6.4應(yīng)確定螺栓的檢測區(qū)域，螺栓的檢測區(qū)域應(yīng)覆蓋螺栓的全體積。應(yīng)關(guān)注應(yīng)力集中部位，如接合面附近一至三道螺紋根部，螺栓中心孔內(nèi)壁高溫加熱區(qū)，馬氏體鋼及鎳基高溫合金螺栓光桿內(nèi)外壁以及非全通孔螺栓中心孔的底部等。6.5馬氏體鋼及鎳基高溫合金螺栓，在超聲檢測前應(yīng)做聲速測量，如螺栓聲速與對比試塊聲速偏差不小于100m/s時應(yīng)作定位修正，聲速測定及定位修正方法見附錄C。7檢測系統(tǒng)校準(zhǔn)和復(fù)核7.1校準(zhǔn)和復(fù)核應(yīng)在標(biāo)準(zhǔn)試塊和對比試塊上進(jìn)行。7.2在如下情況時應(yīng)對檢測系統(tǒng)進(jìn)行復(fù)核：a)檢測過程中更換探頭、連接線、耦合劑。b)連續(xù)工作4h。c)檢測結(jié)束。d)檢測人員認(rèn)為有必要時。7.3復(fù)核的內(nèi)容與要求如下：a)掃描速度復(fù)核，如發(fā)現(xiàn)任意一點(diǎn)在掃描時基線上的偏移超過時間時基線刻度讀數(shù)的2%時，掃描速度應(yīng)重新調(diào)整，已經(jīng)檢測的部件應(yīng)重新檢測。b)靈敏度復(fù)核，如幅度下降大于等于2dB,應(yīng)對檢測結(jié)果進(jìn)行復(fù)檢；如幅度上升大于等于2dB,應(yīng)對所有記錄的信號進(jìn)行重新評定。8檢測工藝8.1螺栓超聲檢測應(yīng)編制檢測工藝卡。工藝卡由相應(yīng)的超聲檢測Ⅱ級及以上無損檢測人員根據(jù)通用工藝DL/T694—20244規(guī)程、產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)、有關(guān)技術(shù)文件和本文件的要求編制，無損檢測責(zé)任工程師審核，機(jī)構(gòu)技術(shù)負(fù)責(zé)人批準(zhǔn)。無損檢測工藝卡修訂、更改時也應(yīng)履行本條程序。a)工藝卡編號。b)螺栓名稱、編號、材質(zhì)、規(guī)格、結(jié)構(gòu)形式、表面狀態(tài)等。c)檢測設(shè)備和器材，包括檢測儀器型號、探頭規(guī)格參數(shù)、楔塊參數(shù)、試塊、掃查裝置型號和耦合劑等。d)檢測工藝參數(shù)，包括檢測方法、檢測部位、儀器時基線比例和檢測靈敏度及掃查方式等。g)編制人員(級別)、審核人(級別)和批準(zhǔn)人。9檢測方法測，宜采用相控陣超聲檢測方法。9.2A型超聲檢測方法規(guī)定如下：a)螺栓兩端均為平面，或一端為平面，另一端具有不小于5mm寬度的平面時，可采用小角度縱波法或直探頭縱波法。b)螺栓端面無法放置小角度縱波探頭或縱波直探頭時應(yīng)采用橫波法。c)當(dāng)無法采用小角度縱波法、直探頭縱波法和橫波法檢測時，可用爬波法檢測。爬波法檢測靈敏度與螺栓螺紋和光桿面高度差有關(guān)，一般適用于高度差不大于1mm的柔性螺栓。e)當(dāng)用一種檢測方法無法做出有效判定時，應(yīng)用其他方法進(jìn)行驗(yàn)證。小角度縱波法的適用范圍如下：1)無中心孔剛性螺栓。2)長度符合表1規(guī)定的無中心孔柔性螺栓。c)馬氏體鋼及鎳基高溫合金螺栓的本側(cè)檢測。5DL/T694—2024螺栓規(guī)格mm可檢測裂紋深度mm裂紋距檢測面距離mm螺栓長度mmM32M36M42M48M52M56M64M72M76探頭的選擇應(yīng)符合下列規(guī)定：a)低合金鋼螺栓的檢測：小角度縱波探頭入射角α取4°,頻率為5MHz,晶片尺寸根據(jù)螺栓規(guī)格選擇，見表2。b)馬氏體鋼及鎳基高溫合金螺栓的檢測：小角度縱波探頭入射角α取3°~4°,頻率為2.5MHz,晶片尺寸根據(jù)螺栓規(guī)格選擇，見表2。表2小角度縱波探頭晶片尺寸的選擇低合金鋼螺栓螺栓規(guī)格mmM56～M100晶片尺寸mm×mm9×12馬氏體鋼及鎳基高溫合金螺栓螺栓規(guī)格mmM56～M100晶片尺寸mm×mm9×12掃描速度可用附錄A中的LS-I試塊按深度定位法調(diào)整，掃描速度應(yīng)依據(jù)螺栓(螺紋)長度確定。最大檢測范圍應(yīng)至少達(dá)到時基線滿刻度的80%。小角度縱波檢測靈敏度應(yīng)符合下列規(guī)定：a)小角度縱波檢測靈敏度采用LS-I試塊調(diào)校，方法是：將LS-I試塊上與被檢螺栓最遠(yuǎn)端螺紋距離相近的φ1[φ為直徑，單位為毫米(mm)]橫孔最高反射波，調(diào)整到80%屏高作為基準(zhǔn)靈敏度，再根據(jù)被檢螺栓的規(guī)格和結(jié)構(gòu)形式提高一定的增益(dB)作為檢測靈敏度，小角度縱波檢測靈敏度選擇見表3。b)當(dāng)檢測范圍超過200mm時，每增加10mm,應(yīng)在原有的檢測靈敏度基礎(chǔ)上再增加1dB。對于有中心孔柔性螺栓本側(cè)中心孔內(nèi)壁及無中心孔剛性螺栓本側(cè)與對側(cè)的檢測靈敏度，可參照表3。6c)無中心孔剛性螺栓的檢測靈敏度選擇參考表3。低合金鋼螺栓螺栓型式被檢部位檢測靈敏度判傷界限無中心孔柔性本側(cè)對側(cè)有中心孔柔性本側(cè)馬氏體鋼及鎳基高溫合金螺栓無中心孔柔性本側(cè)有中心孔柔性本側(cè)a)符合表1條件的無中心孔柔性螺栓，從一側(cè)端面掃查本側(cè)與對側(cè)，見圖1。標(biāo)引序號說明：2——本側(cè)裂紋；3——對側(cè)裂紋。頭時，應(yīng)用橫波探頭或爬波探頭掃查，見圖2。采用半波高度(-6dB)法測定缺陷指示長度：移動探頭，找到缺陷最強(qiáng)反射波，將波高調(diào)到80%屏高，向左(或向右)移動探頭，當(dāng)波高降到40%屏高時，在探頭中心線所對應(yīng)的螺栓上做好標(biāo)記，然7DL/T694—2024后向右(或向左)移動探頭，同樣使波高降到40%屏高并做好標(biāo)記，兩標(biāo)記間的距離即為缺陷的指示長度。圖2有中心孔柔性螺栓掃查9.2.3直探頭縱波法直探頭縱波法的適用范圍如下：a)低合金鋼螺栓的本側(cè)檢測。b)滿足下列條件之一的低合金鋼螺栓的對側(cè)檢測。1)無中心孔剛性螺栓。2)長度符合表1規(guī)定的無中心孔柔性螺栓。c)馬氏體鋼及鎳基高溫合金螺栓的本側(cè)檢測。d)柔性螺栓或長度大于等于400mm的螺栓，以檢測本側(cè)螺紋根部裂紋為主。9.2.3.2.1晶片尺寸范圍一般為φ5~φ20;在保證檢測中探頭晶片不外露的前提下，宜選擇較大尺寸晶片。9.2.3.2.2根據(jù)被檢螺栓的規(guī)格、材質(zhì)選擇合適的探頭頻率：a)低合金鋼螺栓：探頭頻率一般選擇5MHz,檢測范圍大于120mm的螺栓宜選擇2.5MHz。b)馬氏體鋼及鎳基高溫合金螺栓：探頭頻率宜選擇2.5MHz。9.2.3.3掃描速度的調(diào)整應(yīng)根據(jù)螺栓的長度調(diào)整掃描速度，通常最大檢測范圍應(yīng)至少達(dá)到時基線滿刻度的80%。9.2.3.4.1直探頭縱波法檢測靈敏度采用LS-I試塊調(diào)校，方法是：將LS-I試塊上與被檢螺栓最遠(yuǎn)端螺紋距離相近的φ1橫孔最高反射波，調(diào)整到80%屏高作為基準(zhǔn)靈敏度，再根據(jù)被檢螺栓的規(guī)格和結(jié)構(gòu)形式提高一定的增益(dB)作為檢測靈敏度。低合金鋼螺栓檢測靈敏度選擇可在表3所示靈敏度的基礎(chǔ)上增益6dB,對于馬氏體鋼及鎳基高溫合金螺栓本側(cè)檢測，則應(yīng)增益12dB。9.2.3.4.2直探頭縱波法檢測靈敏度也可采用其他方法進(jìn)行測定，但不應(yīng)低于1mm模擬裂紋的檢測靈8DL/T694—2024將探頭置于螺栓端面上進(jìn)行掃查，探頭移動速度應(yīng)緩慢，移動間距不大于探頭半徑，移動時探頭適當(dāng)轉(zhuǎn)動，探頭晶片不應(yīng)超出端面或覆蓋中心孔。缺陷指示長度的測定采用半波高度(-6dB)法，方法同9.2.2.6。橫波法的適用范圍如下：a)端面無法放置小角度縱波探頭和縱波直探頭的螺栓。b)螺栓光桿處表面、螺紋根部處以及中心孔內(nèi)壁的檢測。橫波探頭K值宜取1.7(折射角59.5°)。頻率選擇：低合金鋼螺栓為5MHz;馬氏體鋼及鎳基高溫合金螺栓為2MHz～2.5MHz。橫波探頭晶片尺寸的選擇見表4。表4橫波探頭晶片尺寸的選擇低合金鋼螺栓規(guī)格M32～M100晶片尺寸8×12馬氏體鋼及鎳基高溫合金螺栓規(guī)格M32～M100晶片尺寸橫波探頭移動時要求保持與檢測面的良好耦合，應(yīng)選擇與螺栓曲面相匹配的探頭。推薦采用的橫波探頭楔塊曲面直徑見表5。表5推薦采用的橫波探頭楔塊曲面直徑單位為毫米螺栓規(guī)格>M80～M100>M100～M120>M120～M140>M140～M160楔塊曲面直徑平面將探頭置于螺栓的光桿部位，前后移動探頭，找出檢測部位的4個~6個螺紋最大反射波，最大檢測范圍至少達(dá)到時基線滿刻度的80%。檢測靈敏度的調(diào)整方法如下：9DL/T694—2024應(yīng)出現(xiàn)4個~6個螺紋反射波，且無明顯雜波，將螺紋反射波調(diào)到60%屏高作為基準(zhǔn)靈敏度，再增益6dB作為檢測靈敏度。如果此時雜波高度達(dá)到20%屏高且無法清晰識別螺紋反射波，應(yīng)采用爬波檢測。b)檢測螺栓光桿處表面或中心孔內(nèi)壁缺陷：將探頭置于螺栓的光桿部位，前后移動探頭，找到4個～6個螺紋反射波，且無明顯雜波，將螺紋最大反射波調(diào)到40%屏高作為基準(zhǔn)靈敏度，再增將探頭置于螺栓的光桿部位，沿外圓周向及軸向前后移動，a)螺栓根部缺陷：探頭周向移動，當(dāng)被遮擋的螺紋反射波上升到與正常螺紋反射波相同高度，此b)螺栓光桿處缺陷：缺陷指示長度的測定采用半波高度(-6dB)法，方法同9.2.2.6。較大時，第2、第3個螺紋反射波也將被遮擋。如發(fā)現(xiàn)缺陷的反射波幅與其后的第1螺紋反射波幅之差不小于6dB,且指示長度不小于10mm時，即可判定為裂紋，見圖3。裂紋d探頭裂紋a)螺栓檢測位置示意圖b)有裂紋時的波形c)無裂紋時的正常波形當(dāng)裂紋較大時，第2、第3個螺紋反射波也將被遮擋。如發(fā)現(xiàn)缺陷的反射波幅與其后的第1螺紋反射波幅之差不小于6dB,且指示長度不小于10mm時，即可判定為裂紋，見圖4。9.2.4.8.3當(dāng)螺栓光桿內(nèi)壁出現(xiàn)裂紋時，在螺栓1倍壁厚位置出現(xiàn)反射波敏度，且指示長度不小于10mm時，即可判定為裂紋，見圖5。d探頭螺栓本體a)螺栓檢測位置示意圖b)有裂紋時波形c)無裂紋時波形圖4螺栓光桿近螺紋位置表面裂紋波的識別螺栓本體裂紋a)螺栓檢測位置示意圖b)有裂紋時波形c)無裂紋時波形T——螺栓壁厚。圖5螺栓光桿內(nèi)壁裂紋波的識別的規(guī)格選擇探頭晶片尺寸與曲面直徑，見表6。檢測大于M160的螺栓可用與螺栓曲面相近的探頭。單位為毫米螺栓規(guī)格M32～M76>M80～M100>M100～M120>M120～M140>M140～M160晶片尺寸mm×mm×片探頭弧面直徑DL/T694-2024采用附錄BLS-Ⅱ試塊調(diào)整檢測靈敏度。將探頭置于試塊上，找出距探頭前沿5mm、深度為1mm模擬裂紋反射波，調(diào)整到80%屏高，增益6dB作為基準(zhǔn)靈敏度。見表7。檢測靈敏度檢測裂紋當(dāng)量判傷界限深度1mm模擬裂紋、80%波高增益6dB不小于深1mm模擬裂紋將探頭置于螺栓光桿部位，探頭前沿距第一道螺紋槽5mm左右，沿螺栓周向進(jìn)行掃查。爬波檢測掃查方式及裂紋識別見圖6。缺陷指示長度的測定采用半波高度(-6dB)法，方法同9.2.2.6。根據(jù)探頭在探測面上的位置和最高反射波在示波屏上的水平位置來確定缺陷的周向和軸向位置。b)螺栓端部為非平面或平面無法放置相控陣縱波探頭時，宜采用相控陣橫波法在螺栓光桿部位進(jìn)行檢測。c)螺栓同時具備相控陣縱波法和相控陣橫波法的檢測條件時，應(yīng)優(yōu)先選擇DL/T694—20249.3.2.2相控陣縱波法用于檢測螺栓的對側(cè)螺紋區(qū)域或光桿區(qū)域時，應(yīng)進(jìn)行相應(yīng)的工藝驗(yàn)證試驗(yàn)。9.3.2.3探頭和楔塊的規(guī)定如下：a)宜選用線陣相控陣探頭，探頭陣元數(shù)不少于8,主動孔徑不小于8mm。b)探頭中心頻率范圍可選擇1MHz～7.5MHz。9.3.2.4相控陣縱波法宜采用扇形掃描方式，角度范圍應(yīng)保證聲束覆蓋所需檢測部位。9.3.2.6檢測靈敏度的調(diào)校方法為：在LS-I試塊上調(diào)校TCG曲線，將不同深度的φ1橫通孔反射回波調(diào)整到滿屏高度的80%作為基準(zhǔn)靈敏度，再增益2dB～6dB作為檢測靈敏度。移動，移動角度范圍不少于360°,見圖7.b)螺栓光桿處表面、螺紋根部處以及中心孔內(nèi)壁的檢測。a)宜選用線陣相控陣探頭，激發(fā)陣元數(shù)一般不少于16,主動孔徑不小于8mm。c)楔塊的物理角度宜選用36.3°~38.8°。d)探頭應(yīng)與檢測面緊密接觸。在螺桿上檢測時，楔塊曲率半徑不應(yīng)小于螺桿曲率半徑，且楔塊與被檢件接觸面的間隙不應(yīng)大于0.5mm。9.3.3.3相控陣橫波法宜采用扇形掃描方式，角度范圍宜設(shè)定為35°~70°。9.3.3.4相控陣橫波法宜采用深度聚焦方式。聚焦深度宜設(shè)置為無中心孔螺栓的直徑或有中心孔螺栓壁厚的2倍。9.3.3.5檢測靈敏度按照表8規(guī)定調(diào)整。調(diào)整前，應(yīng)選用與螺栓曲率半徑相接近的DL/T1718中規(guī)定的PGD試塊橫通孔進(jìn)行等深度靈敏度校準(zhǔn)。校準(zhǔn)時，選擇的橫通孔螺栓的2倍壁厚接近。試塊檢測靈敏度調(diào)整螺栓等深槽試塊60%作為基準(zhǔn)靈敏度，再增益6dB作為檢測靈敏度螺栓本體明顯雜波，然后將第1個螺紋最大反射波調(diào)到A掃顯示滿幅波高的60%提高3dB作為基準(zhǔn)靈敏度，再增益6dB作為檢測靈敏度a)檢測時探頭放置在螺栓光桿部位，聲束方向應(yīng)與螺栓長度方向一致，探頭沿著螺栓周向掃查。c)有中心孔螺栓檢測時，將探頭置于螺栓的光桿部位，采用一次反射波沿外圓進(jìn)行周向掃查，見d)檢測區(qū)域長度較大，一次檢測不能覆蓋全部檢測區(qū)域時應(yīng)分段檢測。分段檢測時，聲束覆蓋區(qū)域應(yīng)有不少于10mm的重疊區(qū)。e)檢測時，對懷疑部位，可增加軸向前后掃查。b)有中心孔柔性螺栓9.3.3.7缺陷指示長度的測定采用半波高度(-6dB)法，方法同9.2.2.6。缺陷信號波幅不小于φ1反射當(dāng)量，且指示長度不小于10mm,應(yīng)判定為裂紋。小于10mm,應(yīng)判定為裂紋。缺陷信號位于對側(cè)，其反射波幅不小于φ1-10dB反射當(dāng)量，且指示長度不小于10mm,應(yīng)判定為裂紋。不小于10mm,應(yīng)判定為裂紋。不小于10mm,應(yīng)判定為裂紋。小于10mm,應(yīng)判定為裂紋。缺陷信號位于對側(cè)，其反射波幅不小于φ1-16dB反射當(dāng)量，且指示長度不小于10mm,應(yīng)判定為裂紋。10.2.1.2有中心孔柔性螺栓度不小于10mm,應(yīng)判定為裂紋。10.2.2.2有中心孔柔性螺栓。缺陷信號位于本側(cè)，缺陷反射波幅不小于φ1-18dB反射當(dāng)量，且指示長度不小于10mm,應(yīng)判定為裂紋。10.3.2螺栓光桿處表面或中心孔內(nèi)壁缺陷，如缺陷反射波幅不小于基準(zhǔn)靈敏度，且指示長度不小于a)低合金鋼螺栓。缺陷反射波幅不小于螺紋反射波幅6dB,且指示長度不小于10mm,應(yīng)判定為裂紋深度不小于1mm。b)馬氏體鋼及鎳基高溫合金螺栓。缺陷反射波幅不小于螺紋反射波幅6dB,且指示長度不小于10mm,應(yīng)判定為裂紋深度不小于2mm。缺陷反射波波幅不小于深度1mm模擬裂紋反射當(dāng)量，且指示長度不小于10mm,應(yīng)判定為裂紋。合下列規(guī)定：a)缺陷的最大反射波幅不小于基準(zhǔn)靈敏度且指示長度不小于10mm時，應(yīng)判為裂紋。b)缺陷的最大反射波幅與其后第1個螺紋反射波幅之差不小于6dB且指示長度不小于10mm時，應(yīng)判為裂紋。10.5.2螺栓相控陣橫波檢測典型缺陷圖譜見附錄D(圖D.5～圖D.8)。相控陣橫波檢測信號評定應(yīng)符合下列規(guī)定：a)缺陷的最大反射波幅不小于基準(zhǔn)靈敏度且指示長度不小于10mm時，應(yīng)判為裂紋。b)缺陷的最大反射波幅與其后第1個螺紋反射波幅之差不小于6dB且指示長度不小于10mm時，應(yīng)判為裂紋。應(yīng)注意區(qū)別由于螺栓結(jié)構(gòu)、形狀和規(guī)格的不同，以及采用的檢測方法不同而產(chǎn)生的偽信號。偽信號主要有固有信號和螺栓頂針孔等結(jié)構(gòu)造成的變形波等。11.2對于不足以判定為裂紋的信號應(yīng)做好記錄，并記錄該螺栓的編號標(biāo)識和安裝位置，以便于跟蹤復(fù)查。國內(nèi)超臨界、超超臨界火電機(jī)組的常用螺栓材料牌號見附錄E。每次檢測應(yīng)做好原始記錄，逐根記錄檢測結(jié)果。記錄內(nèi)容應(yīng)包括如下信息：a)委托單位、記錄編號、檢測時間和地點(diǎn)。b)機(jī)組編號、容量等。c)螺栓的信息，包括名稱、數(shù)量、編號、規(guī)格、材質(zhì)、結(jié)構(gòu)形式、表面狀態(tài)等。d)采用的檢測工藝參數(shù)，包括檢測方法、技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)、檢測儀、探頭、試塊、耦合劑和檢測靈敏度等。e)缺陷的詳細(xì)參數(shù)，包括缺陷的當(dāng)量大小、指示長度、位置及性質(zhì)等。f)其他需要的說明，如因受結(jié)構(gòu)或其他原因限制而無法檢測到的部位，應(yīng)加以說明。g)檢測人員的簽字。檢測報(bào)告應(yīng)包括下列內(nèi)容：a)委托單位、報(bào)告編號、報(bào)告日期等。b)工件名稱、數(shù)量、編號、規(guī)格、材質(zhì)、結(jié)構(gòu)形式、表面狀態(tài)等。c)采用的檢測工藝參數(shù)，包括檢測儀、探頭、試塊、耦合劑和檢測靈敏度等。d)缺陷的詳細(xì)參數(shù)，包括缺陷的當(dāng)量大小、指示長度、位置及性質(zhì)等。e)檢測方法、技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)等。f)檢測結(jié)果、缺陷的評定等。g)檢測人員簽字。(規(guī)范性)圖A.1LS-I試塊b)試塊外形垂直度和平行度不大于0.05mm,探測面粗糙度Ra≤1.6μm,其余面粗糙度Ra≤e)其他制造要求應(yīng)符合GB/T11259和JB/T8428DL/T694—2024(規(guī)范性)B.1.1LS-Ⅱ試塊的形狀和尺寸見圖B.1。圖B.1LS-Ⅱ試塊單位為毫米R面編號曲率(半徑)平面a)試塊材料為20號優(yōu)質(zhì)碳素結(jié)構(gòu)鋼，內(nèi)部經(jīng)檢測后不應(yīng)有缺陷。b)試塊模擬裂紋為環(huán)形等深槽，弧長為30mm,寬度為(0.25±0.02)mm,每個弧面設(shè)計(jì)為2個