中國檢驗(yàn)檢疫學(xué)會(huì)標(biāo)準(zhǔn)

T/CSIQ3103—2015

陶瓷藝術(shù)品內(nèi)部微觀結(jié)構(gòu)測(cè)試方法

X射線計(jì)算機(jī)斷層掃描法

Testmethodsforinternalmicrostructureofceramicartworks—

X-raycomputedtomography

2015-12-29發(fā)布2016-06-01實(shí)施

中國檢驗(yàn)檢疫學(xué)會(huì)發(fā)布

T/CSIQ3103—2015

前言

本標(biāo)準(zhǔn)按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

本標(biāo)準(zhǔn)由景德鎮(zhèn)市檢驗(yàn)檢疫科學(xué)技術(shù)研究院提出

。

本標(biāo)準(zhǔn)由中國檢驗(yàn)檢疫學(xué)會(huì)歸口

。

本標(biāo)準(zhǔn)起草單位景德鎮(zhèn)市檢驗(yàn)檢疫科學(xué)技術(shù)研究院景德鎮(zhèn)市陶瓷檢測(cè)評(píng)估中心

:、。

本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人袁文瓚方濤江鵬飛邵川李峰

:、、、、。

Ⅰ

T/CSIQ3103—2015

陶瓷藝術(shù)品內(nèi)部微觀結(jié)構(gòu)測(cè)試方法

X射線計(jì)算機(jī)斷層掃描法

1范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了陶瓷藝術(shù)品內(nèi)部微觀結(jié)構(gòu)的信息采集技術(shù)與測(cè)試方法射線計(jì)算機(jī)斷層掃描法

———X

法

(X-CT)。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于法測(cè)試與采集陶瓷藝術(shù)品內(nèi)部微觀結(jié)構(gòu)唯一性特征

X-CT。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于長寬高的陶瓷藝術(shù)品鑒證質(zhì)量溯源認(rèn)證驗(yàn)證

<500mm、<500mm、<700mm、

活動(dòng)

。

2規(guī)范性引用文件

下列文件對(duì)于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件

。,()。

密封放射源一般要求和分級(jí)

GB4075

無損檢測(cè)儀器工業(yè)用射線裝置通用技術(shù)條件

GB/T26835XCT

3方法提要

將陶瓷藝術(shù)品放入射線裝置中掃描得到樣品內(nèi)部各斷層信息利用影像重建技術(shù)將

XCT,,X-CT

其內(nèi)部微觀結(jié)構(gòu)唯一性特征如孔洞裂紋泥釉縷等信息予以采集并保存

,、、,。

4儀器和試劑

41X射線CT裝置

.

應(yīng)符合技術(shù)條件且

GB/T26835,:

輻射源射線機(jī)峰值射線能量

a):X≥160keV;

警告如果使用放射性源則應(yīng)該按照GB4075要求把它屏蔽起來注意把放射源取出時(shí)應(yīng)由經(jīng)

:,。,

過專門訓(xùn)練懂得防護(hù)技術(shù)的人員來完成

。

分辨率密度分辨率

b):≤400μm;

樣品室樣品臺(tái)大小能容下待測(cè)樣品并且六個(gè)方向要有不少于的空隙

c):,20cm。

42乙醇

.

無水乙醇分析純

()。

注在對(duì)藝術(shù)品無損前提下可采用其他試劑