電氣火災熔痕技術鑒定電子背散射衍射法Theidentificationofelectricalfi上海市市場監(jiān)督管理局發(fā)布DB31/T1156—2019前言 I 2規(guī)范性引用文件 3術語和定義 4儀器設備 15樣品制備 26分析步驟 27熔痕判定 3附錄A(資料性附錄)銅導線熔痕EBSD 4I本標準按照GB/T1.1—2009給出的規(guī)則起草。本標準由上海市公安局提出并組織實施。本標準由上海市安全生產(chǎn)標準化技術委員會歸口。本標準起草單位：應急管理部上海消防研究所、中國科學院上海硅酸鹽研究所、上海市公安局物證鑒定中心。1電氣火災熔痕技術鑒定電子背散射衍射法下列文件對于本文件的應用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，僅注日期的版本適用于本文GB/T16840.4電氣火災原因技術鑒定方法第4部分：金相法GB/T16840.4、GB/T5907.4界定的以使用掃描電子顯微鏡(SEM)的電子束與晶體樣品表層原子相互作用并發(fā)生背散射，表示電子背散射衍射菊池帶花樣標定的擬合程度。MAD數(shù)值越小，表示探測的菊25.1.1樣品制備包括清洗一選取一鑲嵌—磨制一機械拋光一氬離子刻蝕6個步驟。為防止刻蝕腔內(nèi)溫度過高，導致銅導線熔痕氧化，推薦以分鐘為單位進行刻蝕。每次刻蝕耗時1min,刻蝕1min結束后，等待1min,再繼續(xù)刻蝕下1min。每個熔痕樣品推薦刻蝕8次。6.2.2將銅導線熔痕樣品傾斜60°,在獲得聚焦的背6.2.4MAD值不大于1后進行EBSD花樣采集(步長設置為5μm),獲得EBSD面分布數(shù)據(jù)，若MAD值大于1,則按第5章重新進行制樣。6.3.1采用EBSD后處理軟件對采集到的EBSD面分析數(shù)據(jù)進行噪音、虛假晶粒去除。6.3.2采用EBSD后處理軟件獲得整個銅導線熔痕樣品截面晶粒取向圖、長徑比的統(tǒng)計數(shù)據(jù)，并且定3義長徑比大于1.5的晶粒為柱狀晶，長徑比小于或等于1.5的晶粒為等軸當銅導線熔痕區(qū)域內(nèi)柱狀晶數(shù)目占總晶粒數(shù)目的比例大于63%,熔痕可判定為一次短路熔痕。實當銅導線熔痕區(qū)域內(nèi)柱狀晶數(shù)目占總晶粒數(shù)目的比例小于58%,且大氣孔明顯，熔痕可判定為當銅導線熔痕區(qū)域內(nèi)柱狀晶數(shù)目占總晶粒數(shù)目的比例為58%～63%時，應結合銅導線熔痕與銅導4(資料性附錄)銅導線熔痕EBSDA.1一次短路熔痕表不同晶粒取向，晶粒內(nèi)部包圍的黑色代表氣孔，觀察圖中晶粒以柱狀晶為主，等軸晶較少。如88%,為典型的一次短路熔痕。p.125A.2二次短路熔痕圖A.2為典型的二次短路熔痕電子背散射衍射晶粒取向圖。圖A.2a)中不同灰度(黑色除外)代表不同晶粒取向，晶粒內(nèi)部包圍的黑色代表氣孔，圖A.2a)中晶粒以等軸晶為主，柱狀晶較少，且大氣孔明顯。圖A.2b)為二次短路熔痕區(qū)晶粒長徑比統(tǒng)計柱狀圖，其中等軸晶所占比例為59%,柱狀晶所占比例為41%,且大氣孔明顯，為典型的二次短路熔痕。晶粒長徑比b)A.3火燒熔痕圖A.3為典型的火燒熔痕電子背散射衍射晶粒取向圖。圖A.3中不同灰度(黑色除外)代表不同晶粒取向，晶粒內(nèi)部包圍的黑色代表氣孔，圖A.3中晶粒以等軸晶為主，柱狀晶較少，熔痕內(nèi)部多為細6打印日期：2019年12月26日F002AA電氣火災熔痕技術鑒定電子背散射衍射法中國標準出版社出版發(fā)行開本880×123