《SPC統(tǒng)計過程控制》培訓(xùn)考試試題

一、單選題（每題5分，共45分）

1、SPC手冊的最新版本是？

A、2008年第二版

B、2006年第四版

C、2010年第二版（正確答案）

D、2010年第四版

答案解析：APQP手冊最新是2008年第二版；PPAP手冊最新是2006年第四版；

FMEA手冊最新是2019年第一版；SPC手冊最新是2010年第二版；MSA手冊最

新是2010年第四版；

2、SPC活動的各項，哪些結(jié)果需要作為PPAP文件提交顧客：

A、初始能力計劃

B、初始能力研究結(jié)果（正確答案）

C、量產(chǎn)控制圖

D、SPC作業(yè)指導(dǎo)書

答案解析：PPAP手冊中要求初始能力研究結(jié)果提交給客戶

3、因MES數(shù)據(jù)采集測量數(shù)據(jù)容易，我們計劃使用計算機來制作量產(chǎn)的計量型控

制圖，子組定為20件，那么應(yīng)選取哪個控制圖來制作？

A、均值極差控制圖

B、均值標(biāo)準(zhǔn)差控制圖（正確答案）

C、單值-移動極差控制圖

D、中值-極差控制圖

答案解析：參見控制圖選用流程或minitab協(xié)助

4、量產(chǎn)控制圖使用過程中，我們使用同樣的抽樣計劃（容量/頻次），當(dāng)有特殊原

因?qū)е伦兓瘯r，八項判異準(zhǔn)則中最晚報警的判異準(zhǔn)則是：

A、判異準(zhǔn)則二

B、判異準(zhǔn)則四

C、判異準(zhǔn)則七（正確答案）

D、判異準(zhǔn)則八

答案解析：參見八條判異準(zhǔn)則，并理解“鏈長”的概念。

5、初始能力研究時，因破壞性檢測樣本較少（如焊接熔深），我們只獲得了30個

數(shù)據(jù)計算過程能力指數(shù)。此事Minitab報告中顯示的控制圖是：

A、均值極差控制圖

B、均值標(biāo)準(zhǔn)差控制圖

C、單值-移動極差控制圖（正確答案）

D、中值-極差控制圖

答案解析：30個數(shù)據(jù)，要確保至少25個子組，則只能做單值-移動極差控制圖。

6'初始能力研究時，計劃取樣125個數(shù)據(jù)，但實際生產(chǎn)了100件時發(fā)生設(shè)備故

障，維修后生產(chǎn)了后續(xù)25件。那么我們利用這些數(shù)據(jù)時計算過程能力時，可以：

A、按5*25組數(shù)據(jù)利用全部數(shù)據(jù)計算CPK

B、按4*25組利用前面100個數(shù)據(jù)計算CPK（正確答案）

C、按5*25組數(shù)據(jù)利用控制圖判穩(wěn)后，計算CPK

C、第B項和第C項都用上，看CPK是否合格再決定。

答案解析：初始能力研究要求連續(xù)取樣，這樣做是為了獲取不受干擾（即無異常

原因）的數(shù)據(jù)。C項看似合理，但實際可能會導(dǎo)致CPK計算結(jié)果偏低。（參見第

二類錯誤的解釋：控制圖受控但實際有異常原因）

7、計量型控制圖中，子組容量的不同，其計算的CPK結(jié)果是：

A、相同的

B、不同的（正確答案）

C、組內(nèi)和組間變差一致是相同的

答案解析：c項是迷惑項，毫無依據(jù)。因常數(shù)d2/c4是不同，不可能一樣，會有差

異。

8、只使用第一條判異準(zhǔn)則時，雙邊公差的均值-標(biāo)準(zhǔn)差控制圖中的“均值圖”有幾條

線：

A、6條（正確答案）

B、7條

C'8條

D、9條

答案解析：均值圖共計6條：中心線（均值）、數(shù)據(jù)、上下規(guī)范限、上下控制限

9、使用了額外的判異準(zhǔn)則（需要利用“標(biāo)準(zhǔn)差”作為輔助判斷），雙邊公差的均值-

極差的控制圖中，其均值圖中含有幾條線：

A、8條

B、9條

C、10條

D、11條

答案解析：多了4條線：上下1標(biāo)準(zhǔn)差，上下2標(biāo)準(zhǔn)差，

二、多選題（每題5分，共35分）

1、對“SPC技術(shù)使用的前提”的正確說法是：

A、有統(tǒng)計學(xué)規(guī)律的（正確答案）

B、特性被定義了（正確答案）

C、有歷史的相關(guān)數(shù)據(jù)（正確答案）

D、必須符合正態(tài)分布

答案解析：參加培訓(xùn)教材“關(guān)于統(tǒng)計過程控制”。正態(tài)分布只是統(tǒng)計分布的一種，非

正態(tài)分布可以轉(zhuǎn)化未正態(tài)分布，不是SPC技術(shù)使用的前提。

2、SPC中，“過程不受控”是指：

A、不是統(tǒng)計受控

B、可能有特殊變差影響（正確答案）

C、正態(tài)概率檢驗不通過（正確答案）

D、無人或設(shè)備去控制

答案解析：受控即穩(wěn)定，穩(wěn)定即正態(tài)（Normal），即無特殊變差。

3、控制限需要在什么時候重新計算？

A、產(chǎn)品設(shè)計變更（正確答案）

B、制造過程設(shè)計變更（正確答案）

C、供應(yīng)商材料/零件變更可能的影響（正確答案）

D、制程質(zhì)量改善之后（正確答案）

答案解析：只要過程變更了，就需要重新計算控制限。質(zhì)量改善也可引起過程變

更。

4、用哪些圖形或方法可以輔助判斷數(shù)據(jù)是統(tǒng)計受控的？

A、觀測（值）圖（正確答案）

B、正態(tài)概率檢驗（正確答案）

C、控制圖判異準(zhǔn)則（正確答案）

D、直方圖（正確答案）

答案解析：參見Minitab報告樣板，直方圖可以輔助定性判斷（如無雙峰、偏態(tài)、

陡峰等），觀測值圖用于觀測中心線兩側(cè)是否明顯不對稱

5、量產(chǎn)控制圖的表頭中，必須填寫：

A、質(zhì)量特性（正確答案）

B、設(shè)備/工裝編號（正確答案）

C、量具編號（正確答案）

D、工序（正確答案）

答案解析：為了異常分析的追溯需要，影響區(qū)分該特性的唯一工序信息都要填寫

完整。

6、一個雙邊公差的過程能力研究報告中顯示：CP為1.6，CPK為1.2,要想達到

CPK>1.33的目標(biāo)，那么改善方向是：

A、使數(shù)據(jù)的平均值接近規(guī)格中值。（正確答案）

B、分析制程中影響數(shù)據(jù)“位置”的變差來源（正確答案）

C、分析制程中影響數(shù)據(jù)“寬度”的變差來源

D、提高設(shè)備/工裝的制造精度

答案解析：不改變標(biāo)準(zhǔn)偏差的情況下，通過調(diào)整數(shù)據(jù)中心（均值）接近規(guī)格中

心，此種情況CP是CPK的改善上限。

7、在初始能力研究的分析報告中，其結(jié)論欄必須包含的內(nèi)容有：

A、過程是否穩(wěn)定的結(jié)論（正確答案）

B、過程能力指數(shù)是否符合要求的結(jié)論（正確答案）

C、過程能力指數(shù)的點評，例如是否太高或太低。

D、分析改善建議

答案解析：結(jié)論只需兩項：過程是否穩(wěn)定，指數(shù)是否足夠。

三、判斷題（每題5分，共20分）

1'Minitab的“過程能力分析”功能計算了CPK，也可以預(yù)測不良率。

A、正確（正確答案）

B、錯誤

答案解析：見Minitab過程能力報告樣例，其中將PPM數(shù)據(jù)除以100萬再乘以

100%即為不良率

2、計數(shù)型數(shù)據(jù)不能使用控制圖。

A、正確

B、錯誤（正確答案）

答案解析：計數(shù)型數(shù)據(jù)可使用計數(shù)型控制圖

3、初始能力研究時發(fā)現(xiàn)CPK能力不足小于1