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第六章核磁共振波譜法演示文稿本文檔共56頁;當(dāng)前第1頁;編輯于星期三\13點(diǎn)27分優(yōu)選第六章核磁共振波譜法本文檔共56頁;當(dāng)前第2頁;編輯于星期三\13點(diǎn)27分原子吸收光譜法的特點(diǎn):(1)檢出限低,靈敏度高。
火焰原子吸收法的檢出限可達(dá)到ng·ml-1級(jí),石墨爐原子吸收法的檢出限可達(dá)到10-10-10-14g。(2)準(zhǔn)確度好。
火焰原子吸收法的相對(duì)誤差為小于1%,石墨爐原子吸收法的相對(duì)誤差一般約為3%-5%。(3)選擇性好。
多數(shù)情況下,共存元素對(duì)被測(cè)元素不產(chǎn)生干擾。本文檔共56頁;當(dāng)前第3頁;編輯于星期三\13點(diǎn)27分(4)分析速度快。
用P-E5000型自動(dòng)原子吸收儀在35min,能連續(xù)測(cè)定50個(gè)試樣中的6中元素。(5)應(yīng)用范圍廣。
可測(cè)定的元素多達(dá)70余種,可以測(cè)定金屬、非金屬和有機(jī)化合物。(6)儀器簡(jiǎn)單,操作方便。
原子吸收光譜法的不足之處:多種元素同時(shí)測(cè)定尚有困難,有相當(dāng)一些元素的測(cè)定靈敏度還不能令人滿意。本文檔共56頁;當(dāng)前第4頁;編輯于星期三\13點(diǎn)27分§5-2原子吸收光譜法的基本原理一、共振線
1.原子的能級(jí)與躍遷
基態(tài)第一激發(fā)態(tài),吸收一定頻率的輻射能量。產(chǎn)生的吸收線叫共振吸收線(簡(jiǎn)稱共振線)——
吸收光譜激發(fā)態(tài)基態(tài),發(fā)射出一定頻率的輻射。所釋放的光譜線叫共振發(fā)射線(也簡(jiǎn)稱共振線)——發(fā)射光譜
2.元素的特征譜線
1)各種元素的原子結(jié)構(gòu)和外層電子排布不同,基態(tài)第一激發(fā)態(tài):
躍遷吸收能量不同——具有特征性。
2)各種元素的基態(tài)第一激發(fā)態(tài)
最易發(fā)生,吸收最強(qiáng),最靈敏線。特征譜線。
3)利用特征譜線(共振線)可以進(jìn)行定量分析。本文檔共56頁;當(dāng)前第5頁;編輯于星期三\13點(diǎn)27分二、原子吸收光譜輪廓與譜線變寬
1.吸收定律Iv=I0·exp(-Kvl)
式中,I0、Iv分別是頻率為v的入射光和透過光的強(qiáng)度;Kv為原子蒸氣對(duì)頻率為v的入射光的吸收系數(shù);l為原子蒸氣的寬度。本文檔共56頁;當(dāng)前第6頁;編輯于星期三\13點(diǎn)27分原子結(jié)構(gòu)較分子結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,理論上應(yīng)產(chǎn)生線狀光譜吸收線。實(shí)際上用特征吸收頻率左右范圍的輻射光照射時(shí),獲得一峰形吸收:具有一定寬度。由:Iv=I0e-Kvl
透射光強(qiáng)度Iv
和吸收系數(shù)Kv與輻射頻率v有關(guān),以Iv與v作圖:以Kv與作圖:
2.吸收線的輪廓和變寬本文檔共56頁;當(dāng)前第7頁;編輯于星期三\13點(diǎn)27分表征吸收線輪廓(峰)的參數(shù):中心頻率O(峰值頻率):最大吸收系數(shù)對(duì)應(yīng)的頻率;中心波長λ(nm):最大吸收系數(shù)對(duì)應(yīng)的波長;半寬度ΔO(簡(jiǎn)稱吸收線寬度):峰值吸收值一半處的頻率,原子吸收線的寬度約為10-3-10-2nm(折合成波長)。本文檔共56頁;當(dāng)前第8頁;編輯于星期三\13點(diǎn)27分吸收峰變寬原因:
自然變寬(N或N):
在無外界條件影響時(shí),譜線的固有寬度稱為自然寬度,它與原子發(fā)生能級(jí)間躍遷時(shí)激發(fā)態(tài)原子的平均壽命(10-8-10-5)有關(guān),壽命越長,則譜線寬度就越窄,自然寬度造成的影響與其他因素相比可以忽略不計(jì)。多普勒變寬(D或D):
由于原子在空間作無規(guī)則熱運(yùn)動(dòng)所引起的譜線變寬,因而又稱為熱變寬。本文檔共56頁;當(dāng)前第9頁;編輯于星期三\13點(diǎn)27分譜線的多普勒變寬的寬度:
式中:T為絕對(duì)溫度,Ar為相對(duì)原子質(zhì)量。
溫度升高,原子的相對(duì)熱運(yùn)動(dòng)劇烈,熱寬度增大。即使在溫度較低時(shí),也比自然寬度要嚴(yán)重,因此必須引起注意。本文檔共56頁;當(dāng)前第10頁;編輯于星期三\13點(diǎn)27分
勞倫茲變寬,赫魯茲馬克變寬(碰撞變寬):由于原子相互碰撞使能量發(fā)生稍微變化。勞倫茲(Lorentz)變寬(L或L):
待測(cè)原子和其他原子碰撞,通常L為10-4-10-3,勞倫茲變寬隨外界氣體壓力的升高而加劇,有稱為壓力變寬,隨溫度的升高譜線變寬呈下降的趨勢(shì)。式中p為外部壓力;L為勞倫茲碰撞有效截面積;A為輻射原子的相對(duì)原子質(zhì)量;m為外來氣體粒子質(zhì)量;R為氣體常數(shù);T為熱力學(xué)溫度。本文檔共56頁;當(dāng)前第11頁;編輯于星期三\13點(diǎn)27分赫魯茲馬克(Holtzmark)變寬(R或R):
同種原子碰撞,又稱為共振變寬,R隨著待測(cè)元素原子密度升高而增大,在原子吸收法中,測(cè)定元素的濃度較低,R一般可以忽略不計(jì)。
式中c為原子的濃度;f為振子強(qiáng)度;0為輻射原子的中心波長。R與被測(cè)元素濃度成正比。自吸變寬:
光源輻射共振線被光源周圍較冷的同種原子所吸收的現(xiàn)象叫做自吸,自吸現(xiàn)象使譜線強(qiáng)度降低,同時(shí)導(dǎo)致譜線變寬。本文檔共56頁;當(dāng)前第12頁;編輯于星期三\13點(diǎn)27分
除上述的變寬原因之外,還有電場(chǎng)致寬、磁場(chǎng)致寬。但在通常原子吸收實(shí)驗(yàn)條件下,吸收線輪廓主要受多普勒變寬和勞倫茲變寬的影響。當(dāng)采用火焰原子化器時(shí),勞倫茲變寬為主要因素;當(dāng)采用無火焰原子化器時(shí),多普勒變寬占主要地位。譜線變寬往往會(huì)導(dǎo)致原子吸收分析的靈敏度下降。本文檔共56頁;當(dāng)前第13頁;編輯于星期三\13點(diǎn)27分三、基態(tài)原子數(shù)與原子化溫度
原子吸收光譜是利用待測(cè)元素的原子蒸氣中基態(tài)原子與同種原子共振線吸收之間的關(guān)系來測(cè)定的。
需要考慮原子化過程中,待測(cè)元素由化合物離解為原子,多數(shù)原子處于基態(tài),總有部分原子成為激發(fā)態(tài)原子。在處于一定條件的熱平衡狀態(tài)下,激發(fā)態(tài)原子數(shù)Ni與基態(tài)原子數(shù)N0之間的關(guān)系可用波耳茲曼方程表示:
上式中g(shù)i和gO分別為激發(fā)態(tài)和基態(tài)的統(tǒng)計(jì)權(quán)重,Ei表示激發(fā)能。由式中可以看出,溫度越高,Ni/N0值越大。而在同一溫度下,激發(fā)能越小,共振線頻率低,Ni/N0值越大。通常原子化火焰溫度低于3000K,激發(fā)態(tài)原子數(shù)Ni與基態(tài)原子數(shù)No之比較小,<1%.可以用基態(tài)原子數(shù)代表待測(cè)元素的原子總數(shù)N。本文檔共56頁;當(dāng)前第14頁;編輯于星期三\13點(diǎn)27分例計(jì)算2000K和3000K時(shí),Na589.0nm的激發(fā)態(tài)與基態(tài)原子數(shù)之比各為多少?已知gi/g0=2解:T=2000K時(shí):T=3000K時(shí):Ni/N0值小于1%,基態(tài)占原子總數(shù)的99%以上,可以用N0代表原子化器中原子總數(shù)N。本文檔共56頁;當(dāng)前第15頁;編輯于星期三\13點(diǎn)27分四、原子吸收法的測(cè)量(一)積分吸收測(cè)量法
測(cè)量氣態(tài)基態(tài)原子吸收共振線的總能量稱為積分吸收測(cè)量法。它相當(dāng)于吸收線輪廓下面所包圍的整個(gè)面積。本文檔共56頁;當(dāng)前第16頁;編輯于星期三\13點(diǎn)27分
根據(jù)愛因斯坦輻射量子理論,譜線的積分吸收與單位體積原子蒸氣中基態(tài)原子數(shù)關(guān)系:
式中:e為電子電荷;m為電子質(zhì)量;c為光速;f為振子強(qiáng)度,表示每個(gè)原子中能夠吸收或發(fā)射特定頻率光的平均電子數(shù),對(duì)同一元素,在一定條件下,可認(rèn)為是定值。
在一般原子吸收光譜分析條件下處于激發(fā)態(tài)的原子數(shù)很少,因此N=N0,e2f/mc項(xiàng)為常數(shù),以k表示。本文檔共56頁;當(dāng)前第17頁;編輯于星期三\13點(diǎn)27分
積分吸收與待測(cè)元素的總數(shù)成正比,因此只要測(cè)得譜線的積分吸收(即吸收峰的面積),就可求得試樣中待測(cè)元素的含量。
由于大多數(shù)元素吸收線的半寬度為10-3-10-2nm,測(cè)得其面積,一般的儀器很難做到,阻礙了積分測(cè)量法的應(yīng)用。1955年澳大利亞物理學(xué)家沃爾士提出采用銳線光源,測(cè)量吸收線的峰值吸收。
所謂銳線光源:能發(fā)射出譜線半寬度很窄的(0.0005-0.002nm)輻射線的光源。峰值吸收是采用測(cè)定吸收線中心的極大吸收系數(shù)K0來代替積分吸收的方法來測(cè)定元素含量的。本文檔共56頁;當(dāng)前第18頁;編輯于星期三\13點(diǎn)27分銳線光源的條件(1)銳線光源輻射的發(fā)射線與原子吸收線的中心頻率完全一致;(2)銳線光源發(fā)射線的半寬度比吸收線的半寬度更窄,一般為吸收線半寬度的1/5~1/10。v0I發(fā)射線吸收線本文檔共56頁;當(dāng)前第19頁;編輯于星期三\13點(diǎn)27分
試樣經(jīng)原子化后獲得的原子蒸氣吸收銳線光源的輻射并遵守朗伯-比爾定律:
在一定溫度下,vD為常數(shù),吸收厚度l一定,基態(tài)原子數(shù)與被測(cè)定物質(zhì)中元素的濃度c成正比。則A=Kc——原子吸收測(cè)量的基本關(guān)系式
表明當(dāng)吸收厚度一定,在一定實(shí)驗(yàn)條件下,吸光度與被測(cè)元素的含量成線性關(guān)系。本文檔共56頁;當(dāng)前第20頁;編輯于星期三\13點(diǎn)27分一、流程二、光源三、原子化系統(tǒng)四、分光系統(tǒng)五、檢測(cè)系統(tǒng)§5-3原子吸收光譜儀及主要部件本文檔共56頁;當(dāng)前第21頁;編輯于星期三\13點(diǎn)27分原子吸收光譜儀本文檔共56頁;當(dāng)前第22頁;編輯于星期三\13點(diǎn)27分一、流程
儀器主要由銳線光源、原子化器、分光系統(tǒng)、檢測(cè)系統(tǒng)和電源同步調(diào)制系統(tǒng)五部分組成。本文檔共56頁;當(dāng)前第23頁;編輯于星期三\13點(diǎn)27分原子吸收分光光度計(jì)與紫外-可見分光光度計(jì)的不同:(1)銳線光源。(2)分光系統(tǒng)在火焰與檢測(cè)器之間,避免來自火焰的強(qiáng)光直接照射在檢測(cè)器上,影響檢測(cè)器的正常運(yùn)轉(zhuǎn)和準(zhǔn)確度。本文檔共56頁;當(dāng)前第24頁;編輯于星期三\13點(diǎn)27分二、光源
提供待測(cè)元素的特征光譜。獲得較高的靈敏度和準(zhǔn)確度。(1)能發(fā)射待測(cè)元素的共振線;(2)能發(fā)射銳線;(3)輻射光強(qiáng)度大,穩(wěn)定性好。1、作用:光源應(yīng)滿足如下要求:本文檔共56頁;當(dāng)前第25頁;編輯于星期三\13點(diǎn)27分2.空心陰極燈(HollowCathodeLamp,HCL):石英窗陽極陰極
空心陰極燈又稱元素?zé)?。云母屏蔽惰性氣體:氖或氬本文檔共56頁;當(dāng)前第26頁;編輯于星期三\13點(diǎn)27分3.空心陰極燈的原理:
施加適當(dāng)電壓時(shí),電子將從空心陰極內(nèi)壁流向陽極;
與充入的惰性氣體碰撞而使之電離,產(chǎn)生正電荷,其在電場(chǎng)作用下,向陰極內(nèi)壁猛烈轟擊;
使陰極表面的金屬原子濺射出來,濺射出來的金屬原子再與電子、惰性氣體原子及離子發(fā)生撞碰而被激發(fā),于是陰極內(nèi)輝光中便出現(xiàn)了陰極物質(zhì)和內(nèi)充惰性氣體的光譜。
用不同待測(cè)元素作陰極材料,可制成相應(yīng)空心陰極燈??招年帢O燈的輻射強(qiáng)度與燈的工作電流有關(guān),增大電流可以增加發(fā)光強(qiáng)度,但工作電流過大,會(huì)使輻射的銳線譜帶變寬,縮短燈的使用壽命。本文檔共56頁;當(dāng)前第27頁;編輯于星期三\13點(diǎn)27分
優(yōu)缺點(diǎn):(1)輻射光強(qiáng)度大,穩(wěn)定,譜線窄,燈容易更換。(2)每測(cè)一種元素需更換相應(yīng)的燈??招年帢O燈的使用注意事項(xiàng):(1)空心陰極燈使用前應(yīng)預(yù)熱20~30min,使燈的發(fā)光強(qiáng)度達(dá)到穩(wěn)定。(2)燈在點(diǎn)燃后要從燈發(fā)射出光的顏色判斷燈的工作是否正常。方法:充氖氣的燈發(fā)射光的顏色是橙紅色;充氬氣的燈是淡紫色;當(dāng)燈內(nèi)有雜質(zhì)氣體時(shí),發(fā)射光的顏色變淡如充氖氣的燈,顏色可變?yōu)榉奂t,發(fā)藍(lán)或發(fā)白,此時(shí)需對(duì)燈進(jìn)行處理。本文檔共56頁;當(dāng)前第28頁;編輯于星期三\13點(diǎn)27分(3)元素?zé)糸L期不用,應(yīng)定期(每月或每隔二、三)點(diǎn)燃處理1h。(4)使用元素?zé)魰r(shí)應(yīng)輕拿輕放,低熔點(diǎn)的燈用完后,要等冷卻后才能移動(dòng)。本文檔共56頁;當(dāng)前第29頁;編輯于星期三\13點(diǎn)27分三、原子化系統(tǒng)1.作用:將試樣蒸發(fā)并使待測(cè)元素轉(zhuǎn)變成基態(tài)原子蒸氣。2.原子化方法:火焰原子化法非火焰原子化法—電熱高溫石墨管,激光。3.火焰原子化裝置由四部分組成:
霧化器
霧化室
供氣系統(tǒng)
燃燒器本文檔共56頁;當(dāng)前第30頁;編輯于星期三\13點(diǎn)27分霧化器作用:將試液霧化。原理:采用同心型氣動(dòng)霧化器,以具有一定壓力的壓縮空氣為助燃?xì)膺M(jìn)入霧化器,從進(jìn)樣毛細(xì)管周圍高速噴出,在前端形成負(fù)壓,試樣沿毛細(xì)管吸入再噴出,被快速通入的助燃?xì)夥稚⒊伸F粒,撞擊球則使霧粒進(jìn)一步霧化。本文檔共56頁;當(dāng)前第31頁;編輯于星期三\13點(diǎn)27分
霧化器的效率一般在10%左右,較低。霧化效率與試樣的粘度、表面張力、密度、空氣的壓力、毛細(xì)管孔徑、撞擊球相對(duì)位置等有關(guān)。
近年來采用超聲霧化器,其霧化效率可達(dá)75%,并且霧粒的粒度均勻。霧化室
又稱為預(yù)混室。它的作用是使較大霧粒沉降、凝聚從廢液口排出;使霧粒與燃?xì)?、助燃?xì)饩鶆蚧旌闲纬蓺馊苣z,再進(jìn)入火焰原子化;起“緩沖”穩(wěn)定混合氣氣壓作用,使燃燒器產(chǎn)生穩(wěn)定火焰。本文檔共56頁;當(dāng)前第32頁;編輯于星期三\13點(diǎn)27分燃燒器作用:使燃?xì)庠谥細(xì)獾淖饔孟滦纬苫鹧妫惯M(jìn)入火焰的試樣微粒原子化。燃燒器是用不銹鋼材料制成的,耐高溫、耐腐蝕?;鹧婊鹧鏈囟鹊倪x擇:
(a)保證待測(cè)元素充分離解為基態(tài)原子的前提下,盡量采用低溫火焰;(b)火焰溫度越高,產(chǎn)生的熱激發(fā)態(tài)原子越多;(c)火焰溫度取決于燃?xì)馀c助燃?xì)忸愋?,常用空氣—乙炔,最高溫?600K能測(cè)35種元素。本文檔共56頁;當(dāng)前第33頁;編輯于星期三\13點(diǎn)27分火焰類型:化學(xué)計(jì)量火焰:溫度高,干擾少,穩(wěn)定,背景低,常用。富燃火焰:還原性火焰,燃燒不完全,測(cè)定較易形成難熔氧化物的元素Mo、Cr稀土等。貧燃火焰:火焰溫度低,氧化性氣氛,適用于堿金屬測(cè)定?;鹧嬖踊^程
火焰原子化的過程包括:霧粒的脫溶干燥、氣化解離成為基態(tài)原子蒸氣。MX(l)脫溶MX(s)氣化MX(g)原子化M0(g)+X0(g)M0(g)激發(fā)M*(g)電離M+(g)+e-本文檔共56頁;當(dāng)前第34頁;編輯于星期三\13點(diǎn)27分
試液在火焰原子化過程中,往往伴有副反應(yīng),如氣態(tài)原子被激發(fā)、電離或形成氧化物、單氫氧化物等。這些副反應(yīng)使氣態(tài)基態(tài)原子數(shù)目減少,測(cè)定方法的靈敏度下降,而且會(huì)產(chǎn)生各種干擾效應(yīng)。
火焰原子化器操作簡(jiǎn)便,但霧化效率低,原子化效率也低?;鶓B(tài)原子在火焰吸收區(qū)中停留的時(shí)間約10-4s,同時(shí)原子蒸氣在火焰中被大量氣體稀釋,使其靈敏度較低。本文檔共56頁;當(dāng)前第35頁;編輯于星期三\13點(diǎn)27分4、非火焰原子化器
又稱為電熱原子化器,其種類很多,如電熱高溫石墨爐、石墨坩堝、石墨碳棒爐、鎳爐、高頻感應(yīng)加熱爐、空心陰極濺射等。其中應(yīng)用最廣泛的是電熱高溫石墨爐。石墨爐結(jié)構(gòu)(P106圖7-6)。石墨爐原子化器的結(jié)構(gòu)由三部分組成:爐體,石墨管,電、水、氣供應(yīng)系統(tǒng)。加熱電源
在惰性氣體保護(hù)下,用10-25V低電壓、400-600A大電流的交流電,通過電極和石墨錐向石墨管供電,使石墨管迅速升溫,將試樣原子化,最高溫度可達(dá)3000K以上。本文檔共56頁;當(dāng)前第36頁;編輯于星期三\13點(diǎn)27分石墨管
由致密石墨制成,管中央上方開有進(jìn)樣孔,試液用微量注射器或蠕動(dòng)泵自動(dòng)進(jìn)樣。爐體
由電極、石墨錐、水冷卻套管、載氣和保護(hù)氣氣路、石英窗等組成。石墨錐具有固定石墨管和導(dǎo)電作用;冷卻水使?fàn)t體降溫;外氣路中Ar氣體沿石墨管外壁流動(dòng),冷卻保護(hù)石墨管防止其被氧化;內(nèi)氣路中Ar氣體由石墨管兩端流入,從中心進(jìn)樣孔流出,用來保護(hù)原子不被氧化,同時(shí)排除干燥和灰化過程中產(chǎn)生的蒸汽。本文檔共56頁;當(dāng)前第37頁;編輯于星期三\13點(diǎn)27分
分為干燥、灰化(去除基體)、原子化、凈化(去除殘?jiān)┧膫€(gè)階段,待測(cè)元素在高溫下生成基態(tài)原子。原子化過程干燥:石墨爐以小電流工作,溫度控制在稍高于溶劑的沸點(diǎn)趕掉溶劑,以避免在灰化、原子化時(shí)試樣飛濺。如:水溶液的干燥溫度:105-110℃。干燥時(shí)間:10-20s。灰化:除去易揮發(fā)的基體和有機(jī)物,以減少分子吸收?;一瘻囟龋?00-800℃,灰化時(shí)間:10-20s。原子化:石墨爐繼續(xù)升溫至待測(cè)元素的原子化溫度,試樣氣化后解離成基態(tài)原子蒸氣(停止載氣通過,提高靈敏度)。原子化溫度:1800-3000℃,時(shí)間:5-8s。也可以通過作圖的方法找到最佳原子化溫度和時(shí)間。凈化:在高溫下除去留在石墨爐中的基體殘留物,稱之為空燒或清洗。除殘溫度:2500-3200℃,時(shí)間:3-5s。本文檔共56頁;當(dāng)前第38頁;編輯于星期三\13點(diǎn)27分缺點(diǎn):試樣組成不均勻性的影響較大,測(cè)定精密度一般在2%-5%,共存化合物的干擾比火焰原子化法大,測(cè)定速度慢,操作不夠簡(jiǎn)便,裝置復(fù)雜。優(yōu)點(diǎn):原子化程度高,試樣用量少(0.5-10μL),可測(cè)固體及粘稠試樣,靈敏度高,絕對(duì)檢測(cè)下限10-13g比火焰法高1000倍。特點(diǎn)本文檔共56頁;當(dāng)前第39頁;編輯于星期三\13點(diǎn)27分四、分光系統(tǒng)
分光系統(tǒng)分為:外光路和內(nèi)光路。作用:使銳線光源輻射的共振線能正確通過或聚焦于原子化區(qū),并把透過光聚焦于單色器的入射狹縫外光路內(nèi)光路
內(nèi)光路即單色器,它包括入射狹縫、光柵、凹面反射鏡和出射狹縫。1.單色器的作用:將待測(cè)元素的共振線與鄰近線分開。
空心陰極燈輻射出的元素特征線的半寬度雖然很窄,但陰極材料的不純及惰性氣體本身的輻射導(dǎo)致元素共振線附近可能存在干擾譜線,需要單色器將待測(cè)元素的共振線與鄰近線分開。又稱為照明系統(tǒng)。它是由銳線光源和兩個(gè)透鏡組成的。本文檔共56頁;當(dāng)前第40頁;編輯于星期三\13點(diǎn)27分(2)分辨率:儀器分開相鄰兩條譜線的能力。用該兩條譜線的平均波長與其波長差的比值
/表示。2.單色器性能參數(shù)(1)線色散率(D):兩條譜線間的距離與波長差的比值
X/。實(shí)際工作中常用其倒數(shù)
/X
由于原子吸收采用的吸收線是銳線,譜線較簡(jiǎn)單,因此,對(duì)于單色器的色散率和分辨率要求不高。(3)通帶寬度(W):指通過單色器出射狹縫的光的波長范圍。當(dāng)?shù)咕€色散率(D)一定時(shí),可通過選擇狹縫寬度(S)來確定:W=DS
由于原子吸收分光光度計(jì)的倒線色散率是固定的,增大光譜通帶即增大狹縫寬度,出射光的強(qiáng)度增大,但儀器的分辨率降低。因此根據(jù)譜線的強(qiáng)度和儀器的分辨率選擇光譜通帶。本文檔共56頁;當(dāng)前第41頁;編輯于星期三\13點(diǎn)27分五、檢測(cè)系統(tǒng)檢測(cè)系統(tǒng)包括光電倍增管、檢波放大器和讀出裝置。作用:將待測(cè)光信號(hào)轉(zhuǎn)換成電信號(hào),經(jīng)過檢波放大、數(shù)據(jù)處理后顯示結(jié)果。原子吸收分光光度計(jì)的類型(1)按光束數(shù)分類單光束分光光度計(jì)雙光束分光光度計(jì)(2)按波道數(shù)分類單道分光光度計(jì)雙道分光光度計(jì)多道分光光度計(jì):多元素分析本文檔共56頁;當(dāng)前第42頁;編輯于星期三\13點(diǎn)27分§5-4原子吸收光譜法的干擾及其抑制干擾效應(yīng)按其性質(zhì)和產(chǎn)生的原因可分為四類:物理干擾、化學(xué)干擾、電離干擾、光譜干擾一、物理干擾及其抑制
試樣在轉(zhuǎn)移、蒸發(fā)過程中物理因素變化引起的干擾效應(yīng),主要影響試樣噴入火焰的速度、進(jìn)樣量、霧化效率、原子化效率、霧滴大小等。
屬于物理干擾的因素有:溶液的粘度、表面張力、密度、溶劑的蒸汽壓和霧化氣體的壓力等。本文檔共56頁;當(dāng)前第43頁;編輯于星期三\13點(diǎn)27分消除和抑制物理干擾的方法:(1)配制與待測(cè)試樣溶液相似組成的標(biāo)準(zhǔn)溶液,并在相同條件下進(jìn)行測(cè)定,如果試樣組成不詳,采用標(biāo)準(zhǔn)加入法可以消除物理干擾。(2)盡可能避免使用粘度大的硫酸、磷酸來處理試樣;當(dāng)試樣濃度較高時(shí),適當(dāng)稀釋試液也可以抑制物理干擾。二、化學(xué)干擾及其抑制
待測(cè)元素與其它組分之間的化學(xué)作用,生成了難揮發(fā)或難解離的化合物,使基態(tài)原子數(shù)目減少所引起的干擾效應(yīng)。主要影響到待測(cè)元素的原子化效率,是主要干擾源。本文檔共56頁;當(dāng)前第44頁;編輯于星期三\13點(diǎn)27分(1)待測(cè)元素與其共存物質(zhì)作用生成難揮發(fā)的化合物,致使參與吸收的基態(tài)原子減少。
例:a、鋁、硅、硼、鈦、鈹在火焰中易生成難熔化合物
b、硫酸鹽、硅酸鹽與鋁生成難揮發(fā)物。1、化學(xué)干擾的類型(2)待測(cè)離子發(fā)生電離反應(yīng),生成離子,不產(chǎn)生吸收,總吸收強(qiáng)度減弱,電離電位≤6eV的元素易發(fā)生電離,火焰溫度越高,干擾越嚴(yán)重,(如堿及堿土元素)。2、消除和抑制化學(xué)干擾的方法:(1)提高火焰溫度
適當(dāng)提高火焰溫度使難揮發(fā)、難解離的化合物較完全基態(tài)原子化。采用N2O-C2H2火焰,可提高原子化效率。本文檔共56頁;當(dāng)前第45頁;編輯于星期三\13點(diǎn)27分(2)加入釋放劑
與干擾元素生成更穩(wěn)定或更難揮發(fā)的化合物,使待測(cè)元素釋放出來。
例:火焰原子吸收法測(cè)定鈣,磷酸鹽的存在會(huì)生成難揮發(fā)的Ca2P2O7,此時(shí)可以加入LaCl3,則La3+與PO43-生成熱更穩(wěn)定的LaPO4,抑制了磷酸根對(duì)鈣測(cè)定的干擾。常用的釋放劑:LaCl3、Sr(NO3)2等。(3)加入保護(hù)劑
與待測(cè)元素或干擾元素形成穩(wěn)定的絡(luò)合物,防止待測(cè)元素與干擾物質(zhì)生成難揮發(fā)化合物。
例:火焰原子吸收法測(cè)定鈣,磷酸鹽的存在會(huì)生成難揮發(fā)的Ca2P2O7,加入EDTA,生成EDTA-Ca絡(luò)合物,該絡(luò)合物在火焰中易于原子化,避免磷酸根與鈣作用。常用的保護(hù)劑:EDTA、8-羥基喹林、乙二醇等。本文檔共56頁;當(dāng)前第46頁;編輯于星期三\13點(diǎn)27分(4)加入基體改進(jìn)劑
石墨爐原子吸收光譜分析中,加入某些化學(xué)試劑于試液或石墨管中,改變基體或被測(cè)元素的熱穩(wěn)定性,避免化學(xué)干擾,這些化學(xué)試劑稱為基體改進(jìn)劑。
例:測(cè)定海水中Cu、Fe、Mn、As,加入基體改進(jìn)劑NH4NO3,使NaCl基體轉(zhuǎn)變成易揮發(fā)的NH4Cl和NaNO3,使其在原子化之前低于500℃的灰化階段除去。(5)化學(xué)分離法
用化學(xué)方法將待測(cè)元素與干擾元素分離。常用的化學(xué)分離法:萃取法、離子交換法、沉淀法。本文檔共56頁;當(dāng)前第47頁;編輯于星期三\13點(diǎn)27分三、電離干擾及其抑制
某些易電離元素在火焰中產(chǎn)生電離,使基態(tài)原子數(shù)減少,降低了元素測(cè)定的靈敏度,這種干擾稱為電離干擾。電離干擾的程度與火焰溫度及元素種類有關(guān)。消除和抑制電離干擾的方法
采用低溫火焰或在試液中加入過量的更易電離的化合物(消電離劑),能夠有效地抑制待測(cè)元素的電離。在火焰溫度下,消電離劑首先電離,產(chǎn)生大量的電子,抑制了被測(cè)元素的電離。例:測(cè)定鈣時(shí)存在電離干擾,加入一定量消電離劑KCl可以抑制鈣的電離干擾常用的消電離劑:CsCl、KCl、NaCl等本文檔共56頁;當(dāng)前第48頁;編輯于星期三\13點(diǎn)27分四、光譜干擾及其抑制
光譜干擾主要分為譜線干擾和背景干擾兩種。主要來源于光源和原子化器。(一)譜線干擾和抑制1、譜線干擾發(fā)射線的鄰近線的干擾:指空心陰極燈的元素、雜質(zhì)或載氣元素的發(fā)射線與待測(cè)元素共振線的重疊干擾。吸收線重疊的干擾:指試樣中共存元素吸收線與待測(cè)元素共振線的重疊干擾。2、譜線干擾的抑制
減小單色器的光譜通帶寬度,提高儀器的分辨率,使元素的共振線與干擾譜線完全分開?;蜻x擇其它吸收線等方法抑制譜線干擾。本文檔共56頁;當(dāng)前第49頁;編輯于星期三\13點(diǎn)27分(二)背景干擾和抑制1、光譜背景干擾
背景干擾主要是指原子化過程中產(chǎn)生的分子吸收和固體微粒產(chǎn)生的光散射干擾效應(yīng)。2、光譜背景干擾的抑制和校正分子吸收干擾主要來源于在原子化過程中生成的氣體分子、單氧化物、單氫氧化物、鹽類分子對(duì)元素共振線的吸收。其產(chǎn)生的背景干擾比較嚴(yán)重。光散射干擾是固體微粒對(duì)共振線的散射造成的假吸收,當(dāng)吸收線在短波且基體濃度很高時(shí),光散射干擾較嚴(yán)重。(1)光譜背景干擾的抑制火焰:改變火焰類型、燃助比、調(diào)節(jié)火焰觀測(cè)區(qū)高度。石墨爐:選用適當(dāng)?shù)幕w改進(jìn)劑。本文檔共56頁;當(dāng)前第50頁;編輯于星期三\13點(diǎn)27分(2)光譜背景的校正用鄰近非共振線校正背景
用分析線測(cè)量原子吸收與背景吸收的總吸光度,在分析線鄰近選一條非共振線,此時(shí)測(cè)出的是背景吸收,兩次測(cè)量值之差即為校正背景后的吸光度。這種校正方法準(zhǔn)確度較差,只適用于分析線附近背景分布比較均勻的情況。用連續(xù)光源校正背景
用銳線光源測(cè)定分析線的原子吸收和背景吸收的總吸光度再用氘燈(紫外區(qū))或碘鎢燈(可見區(qū))在同一波長測(cè)定背景吸收,計(jì)算兩次測(cè)定吸光度之差,即為校正背景后的吸光度。由于空心陰極燈與氘燈兩種光源放電性質(zhì)不同,能量分布不同,會(huì)導(dǎo)致背景校正不足或過度。本文檔共56頁;當(dāng)前第51頁;編輯于星期三\13點(diǎn)27分用塞曼效應(yīng)校正背景
塞曼效應(yīng)校正背景是基于磁場(chǎng)將吸收線分裂為具有不
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