標(biāo)準(zhǔn)解讀
《GB/T 7896-1987 人造光學(xué)石英晶體試驗(yàn)方法》是一項(xiàng)國家標(biāo)準(zhǔn),主要針對用于光學(xué)領(lǐng)域的人造石英晶體的質(zhì)量控制與性能測試提供了具體的操作指導(dǎo)。該標(biāo)準(zhǔn)涵蓋了多種檢測項(xiàng)目和相應(yīng)的實(shí)驗(yàn)步驟,旨在確保產(chǎn)品符合特定的技術(shù)要求。其中包括但不限于:
- 外觀檢查:通過肉眼或借助放大鏡對樣品進(jìn)行觀察,以確定是否存在裂紋、氣泡或其他表面缺陷。
- 尺寸測量:使用游標(biāo)卡尺等工具準(zhǔn)確測量晶體的長度、寬度及厚度,并與規(guī)定值比較。
- 折射率測定:采用阿貝折射儀等設(shè)備,在特定波長下測定樣品的折射率,以此來評估材料純度及其均勻性。
- 雙折射測量:利用偏光顯微鏡等手段測量石英晶體中不同方向上的折射率差異,從而判斷其內(nèi)部結(jié)構(gòu)是否一致。
- 透射比測試:將樣品置于光源與探測器之間,記錄透過率數(shù)據(jù),用以評價(jià)晶體對于特定波段光線的透過能力。
- 熱穩(wěn)定性實(shí)驗(yàn):模擬實(shí)際應(yīng)用環(huán)境下的溫度變化條件,考察人造石英晶體在加熱冷卻循環(huán)過程中物理性質(zhì)的變化情況。
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- 被代替
- 已被新標(biāo)準(zhǔn)代替,建議下載現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)GB/T 7896-2008
- 1987-06-05 頒布
- 1988-01-01 實(shí)施


文檔簡介
UDC622.362:681.4N05中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB7896—87人造光學(xué)石英晶體試驗(yàn)方法Testmethodforopticalgradesyntheticquartzcrystal1987-06-05發(fā)布1988-01-01實(shí)施家標(biāo):國局發(fā)布
中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)UDC622.362:681人造光學(xué)石英晶體試驗(yàn)方法GB7896—87TestmethodforopticalBradesyntheticquartzcrystal本標(biāo)準(zhǔn)適用于人造光學(xué)石英晶體性能試驗(yàn)。試樣采取試樣在晶體籽晶兩側(cè)2mm以外可使用區(qū)域內(nèi)任取、包襄體2.1儀器及用具2.1.1采用放大倍數(shù)為4~40倍的光學(xué)讀數(shù)顯微鏡。2.1.2配備同試樣折射率相近的折射液,并裝在玻璃器血中。2.2試樣武樣規(guī)格為20×20×10mm的長方體。2.3試驗(yàn)步驥2.3.1將試樣浸沒在盛有折射液的玻璃器中。2.3.2斜射光照明,在放大倍數(shù)為·~40倍范圍內(nèi)由觀測鏡觀察包襄體并測量其大小。2.4結(jié)果哈出晶體每立方厘米中包襄體的數(shù)量及大小。折射率3.1儀儀器及用具3.1.11采用V樓鏡折光儀,折射率精度為±5×10-5。3.1.2選用折射率mop-1.510488的標(biāo)準(zhǔn)V塊,用鈉燈、氫燈作光源。3.1.3昆備波長為589.3nm(D),486.1nm(F):656.3nm(C)三種濾光片。3.1.4配備no=1.51±0.01的折射液井備有相應(yīng)的折射率計(jì)算用表。3.2試樣3.2.1武樣規(guī)格為底邊長度12~20mm,高度15~20mm的長方體,四個(gè)側(cè)面作通光面。通光面需地光。3.2.22兩相鄰?fù)ü饷娲怪倍绕钚∮?",晶體光軸與四個(gè)通光面夾角為45°,最大偏差小于8″。3.2.3試樣取二塊。3.3試驗(yàn)步驥3.3.1室溫恒定在20±1℃,試樣、儀器及用具要在該溫度下放置50min以上。3.3.22開啟儀器,打開鈉燈,預(yù)燃10min。然后加589.3nm(D)濾光片,校正安點(diǎn)。3.3.3用脫脂棉或脫脂紗布蕨少許無水乙醇將試樣通光面擦技干凈,然后滴上少許折射液,、以晶體光軸垂直通光方向放人V棱鏡中,接觸面應(yīng)無氣泡。!從望遠(yuǎn)鏡中觀察到兩條分開的光折線,瞄準(zhǔn)下方光折線,讀出光線偏折角6值,3.3.年,反復(fù)瞄準(zhǔn)讀數(shù)三次,取算術(shù)平均值,記為0。,再瞄準(zhǔn)上方光折線,
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