標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 5594.6-2015 電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測(cè)試方法 第6部分：化學(xué)穩(wěn)定性測(cè)試方法》與《GB/T 5594.6-1985 電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測(cè)試方法 化學(xué)穩(wěn)定性測(cè)試方法》相比，在多個(gè)方面進(jìn)行了更新和改進(jìn)，以適應(yīng)技術(shù)進(jìn)步和行業(yè)需求的變化。新標(biāo)準(zhǔn)中增加了對(duì)某些特定條件下的測(cè)試要求，比如更詳細(xì)的溫度控制范圍、溶液配比以及樣品處理過程等規(guī)定。同時(shí)，對(duì)于實(shí)驗(yàn)設(shè)備的要求也有所提高，明確了需要使用精度更高的測(cè)量工具來確保數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。

此外，《GB/T 5594.6-2015》還引入了新的評(píng)價(jià)指標(biāo)體系，使得化學(xué)穩(wěn)定性的評(píng)估更加全面準(zhǔn)確。該版本強(qiáng)調(diào)了重復(fù)性和再現(xiàn)性的重要性，并提供了具體的操作指南幫助實(shí)驗(yàn)室之間達(dá)成一致的結(jié)果。在安全操作方面，新版標(biāo)準(zhǔn)也給予了更多關(guān)注，詳細(xì)列出了進(jìn)行此類測(cè)試時(shí)應(yīng)遵守的安全規(guī)范，包括個(gè)人防護(hù)裝備的選擇與使用建議。


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....

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  • 2015-05-15 頒布
  • 2016-01-01 實(shí)施
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GB/T 5594.6-2015電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測(cè)試方法第6部分：化學(xué)穩(wěn)定性測(cè)試方法_第1頁
GB/T 5594.6-2015電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測(cè)試方法第6部分：化學(xué)穩(wěn)定性測(cè)試方法_第2頁
GB/T 5594.6-2015電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測(cè)試方法第6部分：化學(xué)穩(wěn)定性測(cè)試方法_第3頁
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GB/T 5594.6-2015電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測(cè)試方法第6部分：化學(xué)穩(wěn)定性測(cè)試方法-免費(fèi)下載試讀頁

文檔簡(jiǎn)介

ICS31-030

L90

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T55946—2015

代替.

GB/T5594.6—1985

電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料

性能測(cè)試方法

第6部分化學(xué)穩(wěn)定性測(cè)試方法

:

Testmethodsforpropertiesofstructureceramics

usedinelectroniccomponentanddevice—

Part6Testmethodforchemicaldurabilit

:y

2015-05-15發(fā)布2016-01-01實(shí)施

中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布

中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T55946—2015

.

前言

電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測(cè)試方法分為以下部分

GB/T5594《》:

氣密性測(cè)試方法

———(GB/T5594.1);

楊氏彈性模量泊松比測(cè)試方法

———(GB/T5594.2);

第部分平均線膨脹系數(shù)測(cè)試方法

———3:(GB/T5594.3);

第部分介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值測(cè)試方法

———4:(GB/T5594.4);

體積電阻率測(cè)試方法

———(GB/T5594.5);

第部分化學(xué)穩(wěn)定性測(cè)試方法

———6:(GB/T5594.6);

第部分透液性測(cè)定方法

———7:(GB/T5594.7);

第部分顯微結(jié)構(gòu)測(cè)定方法

———8:(GB/T5594.8);

電擊穿強(qiáng)度測(cè)試方法

———(GB/T5594.9)。

本部分為的第部分

GB/T55946。

本部分按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

本部分代替電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測(cè)試方法化學(xué)穩(wěn)定性測(cè)試方

GB/T5594.6—1985《

法

》。

本部分與相比主要有下列變化

GB/T5594.6—1985,:

標(biāo)準(zhǔn)名稱改為電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測(cè)試方法第部分化學(xué)穩(wěn)定性測(cè)試方法

———:“6:”;

在中將測(cè)試樣品數(shù)量由原來的個(gè)修改為個(gè)增加了選擇無氣孔無裂紋及無其他

———“6.1.1”,23,“、

缺陷的試樣

”;

在中修改了皂片溶液為去污粉

———“6.1.2”,“”“”;

在中修改了甘油溶液作為水浴鍋加熱溶液為蒸餾水作為水浴鍋加熱溶液

———“6.2.3”,“”“”;

在和中將試樣重量修改為質(zhì)量符號(hào)由G修改為m計(jì)算公式相應(yīng)修改

———“7.1”“7.2”,,,。

增加了測(cè)試結(jié)果及報(bào)告

———“8”。

請(qǐng)注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識(shí)別這些專利的責(zé)任

。。

本部分由中華人民共和國(guó)工業(yè)和信息化部提出

。

本部分由中國(guó)電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院歸口

。

本部分起草單位中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第十二研究所北京七星飛行電子有限公司

:、。

本部分主要起草人何曉梅曾桂生何詩靜

:、、。

本部分所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為

:

———GB/T5594.6—1985。

Ⅰ

GB/T55946—2015

.

電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料

性能測(cè)試方法

第6部分化學(xué)穩(wěn)定性測(cè)試方法

:

1范圍

的本部分規(guī)定了電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷中的氧化鋁氧化鈹?shù)忍沾刹牧匣瘜W(xué)穩(wěn)定性的測(cè)

GB/T5594、

試方法

。

本部分適用于電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷中的氧化鋁氧化鈹?shù)忍沾刹牧匣瘜W(xué)穩(wěn)定性的測(cè)試

、。

本部分不適用于測(cè)定鎂橄欖石莫來石滑石等陶瓷材料的化學(xué)穩(wěn)定性

、、。

2規(guī)范性引用文件

下列文件對(duì)于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件

。,()。

電子陶瓷名詞術(shù)語

GB/T9530—1988

3術(shù)語和定義

界定的以及下列術(shù)語和定義適用于本文件

GB/T9530—1988。

31

.

化學(xué)穩(wěn)定性chemicalstability

表征其耐各種化學(xué)試劑腐蝕的能力耐酸性試劑腐蝕的能力稱為耐酸性耐堿性試劑腐蝕的能力

。,

稱為耐堿性

。

4試驗(yàn)儀器和設(shè)備

試驗(yàn)所需要的儀器和設(shè)備如下

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