標準解讀

《GB/T 39865-2021 單軸晶光學晶體折射率測量方法》是一項國家標準，旨在規(guī)范單軸晶光學晶體材料折射率的測量過程。該標準詳細規(guī)定了使用V棱鏡法、最小偏向角法以及干涉法等不同技術(shù)手段來測定單軸正光性或負光性晶體材料的普通光線折射率及非常光線折射率的方法。適用于科研機構(gòu)、生產(chǎn)企業(yè)對單軸晶系光學晶體進行質(zhì)量控制和性能評估時參考。

標準首先明確了適用范圍，指出其主要針對的是單軸晶體，這類晶體在物理特性上具有一個方向上的特殊性質(zhì)，不同于其他兩個相互垂直的方向。接著，文件列舉了引用的標準文獻，這些文獻為理解和執(zhí)行本標準提供了必要的背景知識和技術(shù)支持。

對于術(shù)語與定義部分，《GB/T 39865-2021》給出了關(guān)鍵概念如“單軸晶體”、“折射率”、“主平面”等的專業(yè)解釋，確保使用者能夠準確理解相關(guān)詞匯含義。此外，還介紹了幾種常用的折射率測量方法，包括但不限于：

  • V棱鏡法：通過觀察光線經(jīng)過特定角度切割的V形棱鏡后產(chǎn)生的偏折情況來計算折射率。
  • 最小偏向角法：基于當入射角等于出射角時，光線偏離原始路徑的角度達到最小值這一原理來進行測量。
  • 干涉法：利用光波之間的干涉現(xiàn)象（如邁克爾遜干涉儀）來間接推算出樣品的折射率信息。

每種方法都配有詳細的步驟說明，從實驗裝置的選擇到具體操作流程，再到數(shù)據(jù)處理方式，均給予了詳盡指導(dǎo)。同時，標準還強調(diào)了實驗過程中需要注意的安全事項和技術(shù)要求，比如溫度控制、環(huán)境濕度等因素可能對測量結(jié)果造成的影響。


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  • 現(xiàn)行
  • 正在執(zhí)行有效
  • 2021-03-09 頒布
  • 2021-10-01 實施
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文檔簡介

ICS17180

Q65.

中華人民共和國國家標準

GB/T39865—2021

單軸晶光學晶體折射率測量方法

Methodformeasuringrefractiveindexofuniaxialopticalcrystals

2021-03-09發(fā)布2021-10-01實施

國家市場監(jiān)督管理總局發(fā)布

國家標準化管理委員會

GB/T39865—2021

前言

本標準按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

本標準由中國建筑材料聯(lián)合會提出

。

本標準由全國人工晶體標準化技術(shù)委員會歸口

(SAC/TC461)。

本標準起草單位山東大學中國工程物理研究院化工材料研究所中國建材檢驗認證集團股份有

:、、

限公司中國科學院福建物質(zhì)結(jié)構(gòu)研究所

、。

本標準主要起草人王善朋陶緒堂孫洵尹文龍呂奎霖喬杰李春龍鄭國宗

:、、、、、、、。

Ⅰ

GB/T39865—2021

單軸晶光學晶體折射率測量方法

1范圍

本標準規(guī)定了單軸晶光學晶體折射率測量方法的環(huán)境要求測量原理與方法檢測儀器要求待測

、、、

量樣品準備測量步驟數(shù)據(jù)處理和不確定度評定

、、。

本標準適用于單軸晶光學晶體的折射率測量其他光學晶體的折射率測量可參照執(zhí)行

,。

2測量環(huán)境要求

測量環(huán)境要求如下

:

溫度測量過程中溫度變化不大于

a):21℃±3℃,0.5℃;

相對濕度不大于

b):30%;

振動滿足設(shè)備對環(huán)境的振動要求

c):。

3測量原理

垂直入射法測量單軸晶光學晶體折射率的測量原理如圖所示通過測量入射光經(jīng)過待測晶體的

1。

折射角和入射角由折射定律計算獲得待測晶體的折射率被測晶體加工成直角棱鏡樣品晶體光軸位

,。,

于入射直角面內(nèi)當特定波長的非偏振平行光垂直入射到直角面時由于光和光的折射率不同經(jīng)

,,oe,

過晶體后在出射面發(fā)生不同角度折射通過自準直儀分別測量光的折射角i和光的折射角i及入

,ooee

射角θ由公式和公式計算可得樣品的折射率n和n

,(1)(2)oe。

i

n=sino

oθ…………(1)

sin

i

n=sine

eθ…………(2)

sin

式中

:

n光折射率

o———o;

n光折射率

e———e

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