標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 37665-2019 古陶瓷化學(xué)組成無(wú)損檢測(cè) PIXE分析技術(shù)規(guī)范》是針對(duì)使用粒子誘發(fā)X射線(xiàn)發(fā)射光譜（PIXE）技術(shù)對(duì)古陶瓷進(jìn)行非破壞性化學(xué)成分分析而制定的標(biāo)準(zhǔn)。該標(biāo)準(zhǔn)旨在提供一種科學(xué)、準(zhǔn)確的方法來(lái)確定古陶瓷樣品中的元素組成及其含量，從而為文物鑒定、考古研究等領(lǐng)域提供技術(shù)支持。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于各種類(lèi)型的古陶瓷材料，通過(guò)PIXE方法能夠檢測(cè)出樣品表面微區(qū)內(nèi)的多種元素信息，包括但不限于硅、鋁、鐵等主要構(gòu)成元素以及微量元素。它規(guī)定了從樣品準(zhǔn)備到數(shù)據(jù)分析整個(gè)過(guò)程的操作步驟和技術(shù)要求，確保不同實(shí)驗(yàn)室之間數(shù)據(jù)的一致性和可比性。

對(duì)于樣品制備部分，標(biāo)準(zhǔn)強(qiáng)調(diào)了選取代表性區(qū)域的重要性，并給出了如何清潔處理待測(cè)部位的具體指導(dǎo)；在實(shí)驗(yàn)條件設(shè)置方面，則詳細(xì)描述了加速器參數(shù)選擇、束流強(qiáng)度控制等內(nèi)容；至于數(shù)據(jù)采集與處理環(huán)節(jié)，明確了譜圖背景扣除、峰識(shí)別及定量計(jì)算的原則和方法。

此外，《GB/T 37665-2019》還特別關(guān)注了安全防護(hù)措施，提醒操作人員注意輻射防護(hù)和個(gè)人健康保護(hù)。同時(shí)，為了保證測(cè)試結(jié)果的有效性和可靠性，標(biāo)準(zhǔn)也提出了質(zhì)量控制的要求，比如定期校準(zhǔn)儀器、采用標(biāo)準(zhǔn)參考物質(zhì)驗(yàn)證系統(tǒng)性能等。

此標(biāo)準(zhǔn)的發(fā)布實(shí)施有助于提高我國(guó)在文化遺產(chǎn)保護(hù)領(lǐng)域利用現(xiàn)代科學(xué)技術(shù)手段的能力水平，促進(jìn)相關(guān)學(xué)科的發(fā)展進(jìn)步。


如需獲取更多詳盡信息，請(qǐng)直接參考下方經(jīng)官方授權(quán)發(fā)布的權(quán)威標(biāo)準(zhǔn)文檔。

....

查看全部

  • 現(xiàn)行
  • 正在執(zhí)行有效
  • 2019-06-04 頒布
  • 2019-06-04 實(shí)施
?正版授權(quán)
GB/T 37665-2019古陶瓷化學(xué)組成無(wú)損檢測(cè)PIXE分析技術(shù)規(guī)范_第1頁(yè)
GB/T 37665-2019古陶瓷化學(xué)組成無(wú)損檢測(cè)PIXE分析技術(shù)規(guī)范_第2頁(yè)
GB/T 37665-2019古陶瓷化學(xué)組成無(wú)損檢測(cè)PIXE分析技術(shù)規(guī)范_第3頁(yè)
GB/T 37665-2019古陶瓷化學(xué)組成無(wú)損檢測(cè)PIXE分析技術(shù)規(guī)范_第4頁(yè)
免費(fèi)預(yù)覽已結(jié)束，剩余8頁(yè)可下載查看

下載本文檔

GB/T 37665-2019古陶瓷化學(xué)組成無(wú)損檢測(cè)PIXE分析技術(shù)規(guī)范-免費(fèi)下載試讀頁(yè)

文檔簡(jiǎn)介

ICS0308099

A10..

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T37665—2019

古陶瓷化學(xué)組成無(wú)損檢測(cè)

PIXE分析技術(shù)規(guī)范

Non-destructivetestingforchemicalcompositionsofancientceramics—

PIXEanalysistechniquestandards

2019-06-04發(fā)布2019-06-04實(shí)施

國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局發(fā)布

中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T37665—2019

目次

前言

…………………………Ⅲ

范圍

1………………………1

原理

2………………………1

設(shè)備

3………………………1

樣品處理

4…………………1

測(cè)量及分析

5………………2

測(cè)試報(bào)告

6…………………3

附錄資料性附錄古陶瓷化學(xué)組成無(wú)損檢測(cè)分析測(cè)試報(bào)告

A()PIXE………………4

Ⅰ

GB/T37665—2019

前言

本標(biāo)準(zhǔn)按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

本標(biāo)準(zhǔn)由國(guó)家文物局提出

。

本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)文物保護(hù)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口

(SAC/TC289)。

本標(biāo)準(zhǔn)起草單位復(fù)旦大學(xué)

:。

本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人承煥生張斌

:、。

Ⅲ

GB/T37665—2019

古陶瓷化學(xué)組成無(wú)損檢測(cè)

PIXE分析技術(shù)規(guī)范

1范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了古陶瓷化學(xué)元素組成無(wú)損檢測(cè)實(shí)驗(yàn)過(guò)程中質(zhì)子激發(fā)射線(xiàn)熒光分析技術(shù)的

X(PIXE)

要求

。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于古陶瓷化學(xué)元素組成的無(wú)損檢測(cè)

。

2原理

用經(jīng)加速器加速后的質(zhì)子束轟擊樣品使待測(cè)物質(zhì)中原子受激電離當(dāng)所形成的內(nèi)殼層空穴為外

,、,

層電子填充時(shí)發(fā)射特征射線(xiàn)通過(guò)探測(cè)特征射線(xiàn)的能量與強(qiáng)度來(lái)確定樣品中元素的種類(lèi)和

,X,X,

含量

。

3設(shè)備

31加速器

.

能提供準(zhǔn)直質(zhì)子束的加速器例如單級(jí)靜電加速器或串列加速器

1.5MeV~4.0MeV,:。

32樣品臺(tái)

.

應(yīng)設(shè)置一個(gè)樣品的定位裝置樣品臺(tái)樣品臺(tái)可分為以下兩種方式

“”———。:

封閉式采用一定體積的真空靶室待檢測(cè)樣品置于靶室內(nèi)樣品大小受靶室?guī)缀纬叽缦拗?/p>

———:,,;

開(kāi)放式采用外束測(cè)試待測(cè)樣品置于質(zhì)子束的引出端例如經(jīng)加速器獲得的準(zhǔn)直質(zhì)子束穿

———:,。:

越的膜引入大氣繼續(xù)穿越空氣層而到達(dá)待測(cè)樣品該方式的優(yōu)點(diǎn)是待測(cè)樣

7.5μmKapton,。

品的幾何尺寸可不受限制更換樣品比較方便

,。

33X射線(xiàn)測(cè)量系統(tǒng)

.

在測(cè)量系統(tǒng)中探測(cè)器對(duì)的的射線(xiàn)能量分辨率應(yīng)小于以保證探

PIXE,Mn5.894keVKα,150eV,

測(cè)精確度探測(cè)器的鈹窗厚度應(yīng)選擇以保證探測(cè)器對(duì)的能量為的

。7.5μm~12μm,Na1.041keVKα

射線(xiàn)有足夠的探測(cè)效率

。

采用封閉式靶室時(shí)應(yīng)抽真空進(jìn)行測(cè)試真空度應(yīng)在-4以下

,,10Pa。

采用外束方法時(shí)應(yīng)在樣品靶點(diǎn)與探測(cè)器窗之間充以氦氣以減少空氣對(duì)樣品發(fā)射的低能

PIXE,,X

射線(xiàn)的吸收否則測(cè)試系統(tǒng)對(duì)元素和探測(cè)將不靈敏或測(cè)量誤差過(guò)大

溫馨提示

  • 1. 本站所提供的標(biāo)準(zhǔn)文本僅供個(gè)人學(xué)習(xí)、研究之用，未經(jīng)授權(quán)，嚴(yán)禁復(fù)制、發(fā)行、匯編、翻譯或網(wǎng)絡(luò)傳播等，侵權(quán)必究。
  • 2. 本站所提供的標(biāo)準(zhǔn)均為PDF格式電子版文本（可閱讀打?。?，因數(shù)字商品的特殊性，一經(jīng)售出，不提供退換貨服務(wù)。
  • 3. 標(biāo)準(zhǔn)文檔要求電子版與印刷版保持一致，所以下載的文檔中可能包含空白頁(yè)，非文檔質(zhì)量問(wèn)題。

最新文檔

評(píng)論

0/150

提交評(píng)論