標(biāo)準解讀
《GB/T 32055-2015 微束分析 電子探針顯微分析波譜法元素面分析》是一項國家標(biāo)準,它規(guī)定了使用電子探針顯微分析技術(shù)中的波譜法進行材料表面或斷面上元素分布狀態(tài)測定的方法。該標(biāo)準適用于金屬、合金、礦物及各種固體材料中元素的空間分布特征研究。
在內(nèi)容上,此標(biāo)準詳細描述了實驗準備階段所需注意的事項,包括樣品制備方法的選擇依據(jù)及其具體操作步驟;明確了儀器設(shè)備的基本要求與參數(shù)設(shè)置原則,如加速電壓、束流強度等關(guān)鍵因素對測試結(jié)果的影響;同時給出了數(shù)據(jù)采集的具體流程,強調(diào)了如何根據(jù)實際需要調(diào)整掃描范圍和步長以獲得清晰準確的圖像信息;此外還涉及到了數(shù)據(jù)分析部分,介紹了定量分析時應(yīng)考慮的因素,并提供了幾種常見的定性分析手段供參考。
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....
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- 現(xiàn)行
- 正在執(zhí)行有效
- 2015-10-09 頒布
- 2016-09-01 實施




文檔簡介
ICS7104050
G04..
中華人民共和國國家標(biāo)準
GB/T32055—2015/ISO119382012
:
微束分析電子探針顯微分析
波譜法元素面分析
Microbeamanalysis—Electronprobemicroanalysis—
Methodsforelemental-mappinganalysisusingwavelengthdispersivespectroscopy
(ISO11938:2012,IDT)
2015-10-09發(fā)布2016-09-01實施
中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局發(fā)布
中國國家標(biāo)準化管理委員會
GB/T32055—2015/ISO119382012
:
前言
本標(biāo)準按照給出的規(guī)則起草
GB/T1.1—2009。
本標(biāo)準使用翻譯法等同采用微束分析電子探針顯微分析波譜法元素面分
ISO11938:2012《
析英文版
》()。
與本標(biāo)準中規(guī)范性引用的國際文件有一致性對應(yīng)關(guān)系的我國文件如下
:
測量方法與結(jié)果的準確度正確度與精密度第部分準確度值的
———GB/T6379.6—2009()6:
實際應(yīng)用
(ISO5725-6:1994,IDT)
波譜法定性點分析電子探針顯微分析導(dǎo)則
———GB/T20725—2006(ISO17470:2004,IDT)
微束分析電子探針顯微分析術(shù)語
———GB/T21636—2008(EPMA)(ISO23833:2006,IDT)
微束分析電子探針顯微分析塊狀試樣波譜法定量點分析
———GB/T28634—2012
(ISO22489:2006,IDT)
微束分析電子探針顯微分析波譜法實驗參數(shù)測定導(dǎo)則
———GB/T30705—2014(ISO14594:
2003,IDT)
本標(biāo)準由全國微束分析標(biāo)準化技術(shù)委員會提出并歸口
(SAC/TC38)。
本標(biāo)準主要起草單位中國地質(zhì)科學(xué)院礦產(chǎn)資源研究所中國科學(xué)院上海硅酸鹽研究所
:、。
本標(biāo)準主要起草人陳振宇李香庭曾毅周劍雄
:、、、。
Ⅰ
GB/T32055—2015/ISO119382012
:
引言
電子探針顯微分析在過去多年中得到了快速發(fā)展并且已應(yīng)用在科學(xué)和工業(yè)的很多領(lǐng)域例
50,。
如定性分析和精確的定量分析都廣泛應(yīng)用于礦物學(xué)和冶金學(xué)研究中近年來隨著計算機技術(shù)的發(fā)
,。,
展數(shù)字處理技術(shù)得到利用彩色面分析技術(shù)取代射線點分布像用來定性觀察元素分布這些技術(shù)
,,X,。
使我們可以對產(chǎn)品進行比較和評價以進行質(zhì)量控制使用面分析技術(shù)進行顆粒分析和或相分析需要
。/
仔細選擇實驗參數(shù)相應(yīng)的標(biāo)準對獲得一致的可靠的結(jié)果至關(guān)重要
,、。
Ⅱ
GB/T32055—2015/ISO119382012
:
微束分析電子探針顯微分析
波譜法元素面分析
1范圍
本標(biāo)準規(guī)定了使用電子探針波譜法進行元素面分析的方法本標(biāo)準規(guī)范了移動電子束對試樣掃描
。
的面分析電子束面分析和移動試樣臺的面分析大面積面分析兩種模式的選擇給出了五種數(shù)據(jù)處
()(),
理的方式原始射線強度法值法校正曲線法對比法和基體校正法
:X、K、、。
2規(guī)范性引用文件
下列文件對于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文
。,
件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件
。,()。
微束分析電子探針顯微分析測定鋼中碳含量的校正曲線法
GB/T15247—2008(ISO16592:
2006,IDT)
檢測和校準實驗室能力的通用要求
GB/T27025—2008(ISO/IEC17025:2005,IDT)
測量方法與結(jié)果的準確度正確度與精密度第部分準確度值的實際應(yīng)用
ISO5725-6()6:
[Accuracy(truenessandprecision)ofmeasurementmethodsandresults—Part6:Useinpracticeof
accuracyvalues]
微束分析電子探針顯微分析波譜法實驗參數(shù)測定導(dǎo)則
ISO14594(Microbeamanalysis—
Electronprobemicroanalysis—Guidelinesforthedeterminationofexperimentalparametersforwave-
lengthdispersivespectroscopy)
波譜法定性點分析電子探針顯微分析導(dǎo)則
ISO17470(Microbeamanalysis—Electronprobemi-
croanalysis—GuidelinesforqualitativepointanalysisbywavelengthdispersiveX-rayspectrometry)
微束分析電子探針顯微分析塊狀試樣波譜法定量點分析
ISO22489(Microbeamanalysis—
Electronprobemicroanalysis—Quantitativepointanalysisforbulkspecimensusingwavelengthdis-
persiveX-rayspectroscopy)
微束分析電子探針顯微分析術(shù)語
ISO23833(EPMA)[Microbeamanalysis—Electronprobe
microanalysis(EPMA)—Vocabu
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