犐犆犛３９．０６０

犇５９

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

犌犅／犜２３８８６—２００９

珍珠珠層厚度測定方法

光學(xué)相干層析法

犇犲狋犲狉犿犻狀犪狋犻狅狀狅犳狀犪犮狉犲狋犺犻犮犽狀犲狊狊—

犗狆狋犻犮犪犾犮狅犺犲狉犲狀犮犲狋狅犿狅犵狉犪狆犺狔

２００９０６０１發(fā)布２０１００１０１實(shí)施

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局

發(fā)布

中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

書

犌犅／犜２３８８６—２００９

前言

本標(biāo)準(zhǔn)由中華人民共和國國土資源部提出。

本標(biāo)準(zhǔn)由全國珠寶玉石標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口。

本標(biāo)準(zhǔn)起草單位：國家珠寶玉石質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心、清華大學(xué)、深圳市莫廷影像技術(shù)有限公司。

本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：張蓓莉、柯捷、沈美冬、魏然、曾楠、何永紅、馬輝、王輝。

本標(biāo)準(zhǔn)為首次發(fā)布。

Ⅰ

書

犌犅／犜２３８８６—２００９

珍珠珠層厚度測定方法

光學(xué)相干層析法

１范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了使用光學(xué)相干層析技術(shù)無損測量珍珠珠層厚度的方法。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于珍珠珠層厚度的測定。

２規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有

的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn)，然而，鼓勵(lì)根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究

是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。

ＧＢ／Ｔ１６５５２珠寶玉石名稱

ＧＢ／Ｔ１６５５３珠寶玉石鑒定

ＧＢ／Ｔ１８７８１珍珠分級(jí)

３術(shù)語和定義

下列術(shù)語和定義適用于本標(biāo)準(zhǔn)。

３．１

光學(xué)相干層析狅狆狋犻犮犪犾犮狅犺犲狉犲狀犮犲狋狅犿狅犵狉犪狆犺狔（犗犆犜）

一種對光的背向散射信號(hào)經(jīng)過相干處理后獲得透明或半透明物質(zhì)內(nèi)部結(jié)構(gòu)圖像的成像技術(shù)。

３．２

相干光犮狅犺犲狉犲狀狋犾犻犵犺狋

兩束滿足相干條件的光。

３．３

低相干光犾狅狑犮狅犺犲狉犲狀狋犾犻犵犺狋

相干長度短的相干光。

３．４

背向散射犫犪犮犽狊犮犪狋狋犲狉犻狀犵

光波進(jìn)入物體后產(chǎn)生的向光源方向傳播的散射，也稱后散射。

３．５

光程狅狆狋犻犮犪犾狆犪狋犺

光在媒質(zhì)中所經(jīng)歷的幾何路徑折合成光在真空中的路程，光程的大小等于光在媒質(zhì)中經(jīng)歷的幾何

路程與媒質(zhì)折射率的乘積。

４原理

利用光學(xué)相干層析儀