標(biāo)準(zhǔn)解讀

GB/T 19421.1-2003是一項(xiàng)中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)，專注于層狀結(jié)晶二硅酸鈉的試驗(yàn)方法，特別針對(duì)δ相層狀結(jié)晶二硅酸鈉的定性分析，采用的是X射線衍射儀技術(shù)。下面是對(duì)該標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容的詳細(xì)說(shuō)明：

標(biāo)準(zhǔn)范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了利用X射線衍射儀對(duì)δ相層狀結(jié)晶二硅酸鈉進(jìn)行定性分析的方法，適用于該材料的鑒別與確認(rèn)，確保其結(jié)構(gòu)特性符合特定要求。

術(shù)語(yǔ)和定義

雖然具體術(shù)語(yǔ)在此未展開，但標(biāo)準(zhǔn)中會(huì)包括對(duì)層狀結(jié)晶二硅酸鈉、特別是δ相以及X射線衍射(XRD)基本概念的明確界定，以便讀者準(zhǔn)確理解。

原理

X射線衍射技術(shù)基于布拉格定律，通過(guò)測(cè)量X射線在樣品上產(chǎn)生的衍射圖案，來(lái)分析材料的晶體結(jié)構(gòu)。對(duì)于δ相層狀結(jié)晶二硅酸鈉，其具有獨(dú)特的衍射峰位置和強(qiáng)度分布，這些特征可作為定性鑒別的依據(jù)。

儀器與設(shè)備

標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)描述了進(jìn)行測(cè)試所需的X射射線衍射儀的技術(shù)要求，包括但不限于X射線源的類型、探測(cè)器靈敏度、掃描范圍及步進(jìn)大小等參數(shù)設(shè)定，以保證測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和重復(fù)性。

樣品制備

提供了樣品預(yù)處理和制備的具體步驟，如研磨、壓片或使用特定載體等，確保樣品適合XRD分析，并減少外部因素對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響。

測(cè)試步驟

詳述了從儀器校準(zhǔn)、樣品安裝到數(shù)據(jù)采集的全過(guò)程操作規(guī)程，包括掃描速度、角度范圍的選擇，以及如何識(shí)別和記錄衍射圖譜中的特征峰。

數(shù)據(jù)處理與分析

解釋了如何根據(jù)獲得的X射線衍射圖譜，對(duì)比標(biāo)準(zhǔn)卡片或數(shù)據(jù)庫(kù)中的數(shù)據(jù)，識(shí)別出δ相層狀結(jié)晶二硅酸鈉的特征峰，從而完成定性分析。這一步驟可能還包括背景扣除、峰位匹配和強(qiáng)度比對(duì)等內(nèi)容。

試驗(yàn)報(bào)告

規(guī)定了試驗(yàn)報(bào)告應(yīng)包含的信息，如樣品描述、測(cè)試條件、主要衍射峰的位置和相對(duì)強(qiáng)度、分析結(jié)論等，確保測(cè)試結(jié)果的完整性和可追溯性。

精密度和準(zhǔn)確度

盡管標(biāo)準(zhǔn)文本未直接展示這部分內(nèi)容，通常會(huì)提及方法的再現(xiàn)性和準(zhǔn)確性要求，或是參考其他標(biāo)準(zhǔn)來(lái)評(píng)估測(cè)試結(jié)果的可靠性。


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  • 已被新標(biāo)準(zhǔn)代替，建議下載現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)GB/T 19421-2008
  • 2003-12-11 頒布
  • 2004-06-01 實(shí)施
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GB/T 19421.1-2003層狀結(jié)晶二硅酸鈉試驗(yàn)方法δ相層狀結(jié)晶二硅酸鈉定性分析X射線衍射儀法_第1頁(yè)
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GB/T 19421.1-2003層狀結(jié)晶二硅酸鈉試驗(yàn)方法δ相層狀結(jié)晶二硅酸鈉定性分析X射線衍射儀法-免費(fèi)下載試讀頁(yè)

文檔簡(jiǎn)介

ICS71.060.50G12中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T：19421.1—2003層狀結(jié)晶二硅酸鈉試驗(yàn)方法相層狀結(jié)晶二硅酸鈉定性分析X射線衍射儀法Testmethodsofcrystallinelayeredsodiumdisilicate-Qualitativeanalysisofdelta-crystaliinelayeredsodiumdisilicate-MethodofX-raydiffractometer2003-12-11發(fā)布2004-06-01實(shí)施中華人民共和國(guó)發(fā)布國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局

GB/T19421.1-2003前GB/T19421《層狀結(jié)晶二硅酸鈉試驗(yàn)方法》分為12個(gè)部分：GB/T19421.16相層狀結(jié)品二硅酸鈉定性分析X射線衍射儀法；GGB/T19421.2白度的測(cè)定；B/T19421.3pH值的測(cè)定；-GB/T19421.4EDTA容量法測(cè)定鈣交換能力：GB/T19421.5EDTA容量法測(cè)定鎂交換能力;GB/T19421.6重量法測(cè)定灼燒失量；-GB/T19421.7重量法測(cè)定濕存水量；-GB/T19421.8鄰菲羅味比色法測(cè)定三氧化二鐵含量GB/T19421.9容量法測(cè)定氧化鈉含量;GB/T19421.10氟硅酸鉀容量法測(cè)定二氧化硅含量;GB/T19421.11原子吸收分光光度法測(cè)定氧化鈣含量：-GB/T19421.12原子吸收分光光度法測(cè)定氧化鎂含量。本部分為GB/T19421的第1部分。本部分的附錄A是資料性附錄。本部分由中國(guó)輕工業(yè)聯(lián)合會(huì)提出。本部分由全國(guó)表面活性劑洗滌用品標(biāo)準(zhǔn)化中心歸口。本部分起草單位：山東鋁業(yè)股份有限公司研究院、中國(guó)日用化學(xué)工業(yè)研究院本部分主要起草人：王云霞、蘇獻(xiàn)瑞。

GB/T19421.1-2003層狀結(jié)晶二硅酸鈉試驗(yàn)方法8相層狀結(jié)晶二硅酸鈉定性分析X射線衍射儀法1范圍GB/T19421的本部分規(guī)定了層狀結(jié)品二硅酸鈉中X射線衍射儀法定性分析相層狀結(jié)品二硅酸納的方法。本部分適用于層狀結(jié)品二硅酸鈉中相層狀結(jié)品二硅酸鈉的定性分析。2原理任何一種晶體物質(zhì).都具有特定的結(jié)構(gòu)參數(shù)，在給定波長(zhǎng)的X射線輻射下,呈現(xiàn)出該物質(zhì)特有的多晶體衍射譜圖。各相的衍射譜圖表明了該相中各元素的化學(xué)結(jié)合狀態(tài).根據(jù)多品體衍射譜圖與品體物質(zhì)這種獨(dú)有的對(duì)應(yīng)關(guān)系·便可將待測(cè)物質(zhì)的衍射數(shù)據(jù)與各種已知物質(zhì)的衍射數(shù)據(jù)對(duì)比，借以對(duì)物相做定性分析3儀器普通實(shí)驗(yàn)室儀器和3.1（射線衍射儀，3.2瑪瑙研缽。3.3制樣裝置4試驗(yàn)程序4.1試樣制備稱取約2g試樣,于潔凈干燥的瑪瑙研缽中研磨至5Pm以下,以用手鯰搓無(wú)顆粒感即可。將研磨好的樣品放入樣品架內(nèi)，填實(shí)后輕壓制片，壓力以樣片豎起不塌落為宜。4.2測(cè)定打開設(shè)備冷卻系統(tǒng).開啟X射線衍射儀.預(yù)熱30min。啟動(dòng)X射線衍射儀測(cè)控系統(tǒng)·對(duì)衍射儀進(jìn)行基準(zhǔn)校正。在CuK，輻射下,對(duì)試樣(4.1)在20為10～50°的范圍內(nèi)進(jìn)行掃描測(cè)量4.3數(shù)據(jù)處理使用數(shù)據(jù)處理程序，得出樣品的X射線衍射譜圖.在衍射峰位上標(biāo)明品面間距(d值)。將得到的值與表1中的值對(duì)比,凡符合表1中數(shù)據(jù)的即為。相層狀結(jié)晶二硅酸

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