標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 18239-2000 集成電路(IC)卡讀寫機通用規(guī)范》作為一項技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)，為集成電路卡讀寫設(shè)備的制造商和用戶提供了統(tǒng)一的功能要求、性能指標(biāo)、測試方法及安全要求。然而，您提供的對比參照物未明確給出，這使得直接對比具體變更內(nèi)容變得不可能。不過，可以一般性地說明當(dāng)一個標(biāo)準(zhǔn)更新或與另一個相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)比較時，通常會涉及以下幾個方面的變化：

  1. 技術(shù)進(jìn)步的適應(yīng)性：新標(biāo)準(zhǔn)可能會納入新技術(shù)要求，以適應(yīng)集成電路卡讀寫技術(shù)的發(fā)展，比如支持更高頻率的通信協(xié)議、增加對新型IC卡標(biāo)準(zhǔn)的兼容性等。

  2. 安全性增強：鑒于信息安全的重要性日益增加，新標(biāo)準(zhǔn)可能會加強關(guān)于數(shù)據(jù)加密、身份驗證、防篡改功能等方面的要求，確保交易和數(shù)據(jù)傳輸?shù)陌踩浴?/p>

  3. 互操作性提升：為了促進(jìn)不同廠商設(shè)備間的順暢交互，新標(biāo)準(zhǔn)可能會細(xì)化互操作性測試標(biāo)準(zhǔn)，確保不同品牌讀寫器與IC卡之間的兼容性。

  4. 性能指標(biāo)調(diào)整：可能會根據(jù)技術(shù)進(jìn)步和市場需求調(diào)整讀寫速度、錯誤率、耐用性等性能指標(biāo)，以提高用戶體驗和系統(tǒng)效率。

  5. 環(huán)境適應(yīng)性與可靠性：隨著應(yīng)用環(huán)境的多樣化，新標(biāo)準(zhǔn)可能對設(shè)備的工作溫度范圍、濕度抵抗能力、電磁兼容性等提出更嚴(yán)格的要求。

  6. 測試方法與認(rèn)證流程：為了確保產(chǎn)品符合新標(biāo)準(zhǔn)，可能會引入新的測試方法和認(rèn)證程序，包括實驗室測試、現(xiàn)場試驗等，以驗證設(shè)備的合規(guī)性。

  7. 用戶界面與可訪問性：考慮到用戶體驗，新標(biāo)準(zhǔn)可能會包含對用戶界面友好度、多語言支持、無障礙設(shè)計等方面的指導(dǎo)原則。


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  • 正在執(zhí)行有效
  • 2000-10-17 頒布
  • 2001-08-01 實施
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文檔簡介

ICS.35.240.15L64中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T18239—2000集成電路(IC)卡讀寫機通用規(guī)范Genericspecificationforintegratedcircuitcardreader2000-10-17發(fā)布2001-08-01實施國家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

GB/T18239-2000目次前言……上范圍引用標(biāo)準(zhǔn)定義4要求5試試驗方法6檢驗規(guī)則7標(biāo)志、包裝、運輸、財存·附錄A(標(biāo)準(zhǔn)的附錄）故故障分類及判據(jù)附錄B(標(biāo)準(zhǔn)的附錄)集成電路卡讀寫機檢查程序的規(guī)定

GB/T18239-2000本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定IC卡讀寫機的技術(shù)要求、試驗方法和檢驗規(guī)則,以及IC卡讀寫機的標(biāo)志和標(biāo)簽。本標(biāo)準(zhǔn)所涉及的IC卡讀寫機適用于工商、稅務(wù)、交通及流動人口管理等領(lǐng)域。該機適用的IC卡應(yīng)符合GB/T16649.1—1993《識別卡帶觸點的集成電路卡第1部分：物理特性》和GB/T16649.2-1993《識別卡帶觸點的集成電路卡第2部分：觸點的尺寸和位置》和GB/T16649.3—1993《識別卡帶觸點的集成電路卡第3部分：電信號和傳輸協(xié)議》的規(guī)定。本標(biāo)準(zhǔn)的附錄A、附錄B是標(biāo)準(zhǔn)的附錄。本標(biāo)準(zhǔn)由中華人民共和國信息產(chǎn)業(yè)部提出本標(biāo)準(zhǔn)由中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究所歸口本標(biāo)準(zhǔn)主要起草單位：華旭金卡有限責(zé)任公司、中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究所、中國華大集成電路設(shè)計中心、長城計算機軟件與系統(tǒng)公司、深圳開發(fā)科技股份有限公司、福建實達(dá)電腦股份有限公司、上海良標(biāo)智能終端股份有限公司。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：丁榮興、馮樹德、王立建、張金霞

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T18239-2000集成電路(IC)卡讀寫機通用規(guī)范Genericspecificationforintegratedcircuitcardreader1范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了集成電路(IC)卡讀寫機(以下簡稱產(chǎn)品)的技術(shù)要求、試驗方法和檢驗規(guī)則,以及標(biāo)志、包裝、運輸和貼存要求。本標(biāo)準(zhǔn)適用于IC卡讀寫機產(chǎn)品、2引用標(biāo)準(zhǔn)下列標(biāo)準(zhǔn)所包含的條文，通過在本標(biāo)準(zhǔn)中引用而構(gòu)成為本標(biāo)準(zhǔn)的條文。本標(biāo)準(zhǔn)出版時.所示版本均為有效。所有標(biāo)準(zhǔn)都會被修訂，使用本標(biāo)準(zhǔn)的各方應(yīng)探討使用下列標(biāo)準(zhǔn)最新版本的可能性GB191—1990包裝儲運圖示標(biāo)志GB/T1988—1998信息技術(shù)信息交換用七位編碼字符集(eqvISO/IEC646：1991)GB2312—1980信息交換用漢字編碼字符集基本集GB/T2421—1999電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第1部分:總則(idtIEC68-1:1988)GB/T2423.1—1989電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗A:低溫試驗方法（eqvIEC68-2-1:1974）GB/T2423.2—1989電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程足試驗B：高溫試驗方法(eqvIEC68-2-2:1974）GB/T2423.3-1993電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Ca:恒定濕熱試驗方法（eqvIEC68-2-3:1984）5電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分：試驗方法GB/T2423.5-1995試驗Ea和導(dǎo)則：沖擊(idtIEC68-2-27:1987）GB/T2423.6-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分：試驗方法試驗Eb和導(dǎo)則：碰撞(idtIEC68-2-29.1987)，電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分：試驗方法GB/T2423.8-1995試驗Ed:自由跌落CidtIEC68-2-32：1990GB/T2423.10—1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分：試驗方法：試驗Fe和導(dǎo)則：振動（正弦)idtIEC68-2-6.1982）GB/T2828—1987逐批檢查計數(shù)抽樣程序及抽樣表(適用于連續(xù)批的檢查）GB4943—1995信息技術(shù)設(shè)備(包括電氣事務(wù)設(shè)備)的安全(idtIEC950:1991)GB/T5007.1—1985信息交換用漢字24×24點陣字模集GB/T5007.2-1985信息交換用漢字24×24點陣字模數(shù)據(jù)集GB/T5080.7-19

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