犐犆犛３３．１８０．１０

犕３３

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

犌犅／犜１５９７２．３２—２００８

部分代替ＧＢ／Ｔ１５９７２．３—１９９８

光纖試驗(yàn)方法規(guī)范

第３２部分：機(jī)械性能的測(cè)量方法和

試驗(yàn)程序———涂覆層可剝性

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犘犪狉狋３２：犕犲犪狊狌狉犲犿犲狀狋犿犲狋犺狅犱狊犪狀犱狋犲狊狋狆狉狅犮犲犱狌狉犲狊犳狅狉犿犲犮犺犪狀犻犮犪犾

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（ＩＥＣ６０７９３１３２：２００１，Ｏｐｔｉｃａｌｆｉｂｒｅｓ—

Ｐａｒｔ１２２：Ｍｅａｓｕｒｅｍｅｎｔｍｅｔｈｏｄｓａｎｄｔｅｓｔｐｒｏｃｅｄｕｒｅｓ—

Ｃｏａｔｉｎｇｓｔｒｉｐｐａｂｉｌｉｔｙ，ＭＯＤ）

２００８０３３１發(fā)布２００８１１０１實(shí)施

中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局

發(fā)布

中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

書

犌犅／犜１５９７２．３２—２００８

目次

前言!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!Ⅲ

１范圍!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

２規(guī)范性引用文件!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

３方法概述!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

４裝置!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!２

５試樣制備!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!３

６程序!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!３

７結(jié)果!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!４

Ⅰ

書

犌犅／犜１５９７２．３２—２００８

前言

ＧＢ／Ｔ１５９７２《光纖試驗(yàn)方法規(guī)范》由若干部分組成，其預(yù)期結(jié)構(gòu)及對(duì)應(yīng)的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)和將代替的國(guó)家

標(biāo)準(zhǔn)為：

———第１０部分～第１９部分：測(cè)量方法和試驗(yàn)程序總則（ＩＥＣ６０７９３１１０至ＩＥＣ６０７９３１２９；代替

ＧＢ／Ｔ１５９７２．１—１９９８）；

———第２０部分～第２９部分：尺寸參數(shù)的測(cè)量方法和試驗(yàn)程序（對(duì)應(yīng)ＩＥＣ６０７９３１２０至

ＩＥＣ６０７９３１２９；代替ＧＢ／Ｔ１５９７２．２—１９９８）；

———第３０部分～第３９部分：機(jī)械性能的測(cè)量方法和試驗(yàn)程序（對(duì)應(yīng)ＩＥＣ６０７９３１３０至

ＩＥＣ６０７９３１３９；代替ＧＢ／Ｔ１５９７２．３—１９９８）；

———第４０部分～第４９部分：傳輸特性和光學(xué)特性的測(cè)量方法和試驗(yàn)程序；（對(duì)應(yīng)ＩＥＣ６０７９３１４０

至ＩＥＣ６０７９３１４９；代替ＧＢ／Ｔ１５９７２．４—１９９８）；

———第５０部分～第５９部分（ＧＢ／Ｔ１５９７２．５０～ＧＢ／Ｔ１５９７２．５９）：（對(duì)應(yīng)ＩＥＣ６０７９３１５０至

ＩＥＣ０７９３１５９；代替ＧＢ／Ｔ１５９７２．５—１９９８）。

其中ＧＢ／Ｔ１５９７２．３×由以下部分組成：

———第３０部分：機(jī)械性能的測(cè)量方法和試驗(yàn)程序———光纖篩選試驗(yàn)；

———第３１部分：機(jī)械性能的測(cè)量方法和試驗(yàn)程序———抗張強(qiáng)度；

———第３２部分：機(jī)械性能的測(cè)量方法和試驗(yàn)程序———涂覆層可剝性；

———第３３部分：機(jī)械性能的測(cè)量方法和試驗(yàn)程序———應(yīng)力腐蝕敏感性參數(shù)；

———第３４部分：機(jī)械性能的測(cè)量方法和試驗(yàn)程序———光纖翹曲。

本部分為ＧＢ／Ｔ１５９７２的第３２部分，本部分修改采用國(guó)際電工委員會(huì)標(biāo)準(zhǔn)ＩＥＣ６０７９３１３２：２００１

《光纖第１３２部分：測(cè)量方法和試驗(yàn)程序———涂覆層可剝性》。

本部分與ＩＥＣ６０７９３１３２：２００１的主要差異如下：

———按照我國(guó)標(biāo)準(zhǔn)的編排格式和表述要求，對(duì)一些內(nèi)容安排做了調(diào)整，增加了“第３章方法概

述”，第１章某些內(nèi)容放在第３章，并將原文第６章移到第３章；

———將原第７章和第８章合并作為本部分第７章。

本部分代替ＧＢ／Ｔ１５９７２．３—１９９８《光纖總規(guī)范第３部分：機(jī)械性能試驗(yàn)方法》中第１１章。

本部分與ＧＢ／Ｔ１５９７２．３—１９９８第１１章相比主要變化如下：

———將標(biāo)稱涂覆直徑為２５０μｍ光纖的剝離長(zhǎng)度可取值２０ｍｍ"３０ｍｍ或５０ｍｍ改為可取的值

為３０ｍｍ或５０ｍｍ（１９９８年版的１１．３．２，本版的５．２）；

———試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)大氣條件改為：溫度２３℃±５℃；相對(duì)濕度４５％±２５％（１９９８年版的１１．４．２，本版的

３．３）。

本部分由中華人民共和國(guó)信息產(chǎn)業(yè)部提出。

本部分由中國(guó)通信標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì)歸口。

本部分起草單位：武漢郵電科學(xué)研究院。

本部分主要起草人：劉澤恒、陳永詩(shī)、程淑玲。

本部分為第一次修訂，它與ＧＢ／Ｔ１５９７２．３×其他部分一起代替ＧＢ／Ｔ１５９７２．３—１９９８。

Ⅲ

犌犅／犜１５９７２．３２—２００８

光纖試驗(yàn)方法規(guī)范

第３２部分：機(jī)械性能的測(cè)量方法和試驗(yàn)程序

———涂覆層可剝性

１范圍

ＧＢ／Ｔ１５９７２的本部分規(guī)定了沿光纖縱軸向定量地機(jī)械剝?nèi)ケＷo(hù)涂覆層所需的力的試驗(yàn)方法，確

立了測(cè)量的統(tǒng)一試驗(yàn)程序和技術(shù)要求。

本部分適用于Ａ１類、Ａ２類、Ａ３類和Ｂ類具有標(biāo)稱外直徑為２５０μｍ～９００μｍ范圍內(nèi)的聚合物作

外被覆層的光纖的測(cè)量。

本部分不適用于實(shí)際直徑２３０μｍ～９３０μｍ范圍之外的聚合物作外被覆層的光纖。

２規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過(guò)ＧＢ／Ｔ１５９７２的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文

件，其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本部分，然而，鼓勵(lì)根據(jù)本部分達(dá)成

協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本

部分。

ＧＢ／Ｔ１５９７２．１０—２００８光纖試驗(yàn)方法規(guī)范第１０部分：測(cè)量方法和試