ICS37.020N33中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T15246—2002代替GB/T15246—1994硫化物礦物的電子探針定量分析方法Quantitativeanalysisofsulfidemineralsbyelectronprobemicroanalysis2002-11-11發(fā)布2003-06-01實施華中和八發(fā)布國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局

GB/T15246—2002前本標(biāo)準(zhǔn)代替GB/T15246—1994。本標(biāo)準(zhǔn)是對GB/T15246—1994的修訂。本次修訂增加與調(diào)整了部分技術(shù)內(nèi)容本標(biāo)準(zhǔn)由全國微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會提出。本標(biāo)準(zhǔn)由全國微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會歸口本標(biāo)準(zhǔn)起草單位：中國地質(zhì)科學(xué)院成都礦產(chǎn)綜合利用研究所。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：毛水和。本標(biāo)準(zhǔn)于1994年10月首次發(fā)布。

GB/T15246—2002硫化物礦物的電子探針定量分析方法1范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了用電子探針進行硫化物礦物定量分析的標(biāo)準(zhǔn)方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于在電子束轟擊下穩(wěn)定的硫化物以及砷化物、梯化物、鉍化物、硫化物、硒化物的電子探針定量分析。本標(biāo)準(zhǔn)適用于以X射線波長分光譜儀進行的定量分析；其主要內(nèi)容和基本原則也適用于以X射線能譜儀進行的定量分析。規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件.其隨后所有的修改單(不包括勒誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn),然而，鼓勵根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達成協(xié)議的各方研究是香可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件.其最新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。GB/T15074電子探針定量分析方法通則術(shù)語和定義硫化物礦物sulrideminerals由硫構(gòu)成陰離子團的金屬礦物3.2光片polishedsection將巖石或礦石樣品切割成一定大小,并將待觀測面磨平、拋光的試樣33光薄片polishedthinsection將巖石或礦石樣品切割成一定大小.減薄至能透過光線·并雙面磨平、拋光的試樣3.4砂光片sladegrains將顆粒樣品鑲嵌在導(dǎo)電或非導(dǎo)電的鑲嵌物中或制在玻璃薄片上并進行磨平拋光的試樣。3.5譜線重疊Spectrumoverlap樣品中不同元素的某些特征X射線之間所存在的一定程度的譜峰重疊的現(xiàn)象3.6重疊因子overlapfactor為了校正因試樣中某些