標(biāo)準(zhǔn)解讀

GB/T 12085.5-1989 是一項(xiàng)中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),全稱為《光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 綜合低溫、低氣壓》。這項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了對(duì)光學(xué)和光學(xué)儀器進(jìn)行綜合低溫及低氣壓環(huán)境試驗(yàn)的方法、程序以及相關(guān)的試驗(yàn)條件,旨在評(píng)估這些設(shè)備在極端環(huán)境下的性能與可靠性。

標(biāo)準(zhǔn)適用范圍

該標(biāo)準(zhǔn)適用于各種光學(xué)和光學(xué)儀器,包括但不限于相機(jī)、望遠(yuǎn)鏡、顯微鏡、激光器及其組件等,目的是確保這些設(shè)備在遇到低溫和低氣壓環(huán)境時(shí)仍能保持其設(shè)計(jì)功能和性能穩(wěn)定。

試驗(yàn)條件

  1. 低溫條件:標(biāo)準(zhǔn)中詳細(xì)說(shuō)明了模擬低溫環(huán)境的具體要求,包括溫度范圍、降溫速率、穩(wěn)定時(shí)間和試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間等參數(shù)。這些條件模擬了高海拔、極地或太空等自然環(huán)境中的極端低溫狀況。

  2. 低氣壓條件:除了低溫外,標(biāo)準(zhǔn)還規(guī)定了如何在實(shí)驗(yàn)室條件下創(chuàng)建低氣壓或真空環(huán)境,用以模擬高空環(huán)境對(duì)光學(xué)設(shè)備的影響。具體包括氣壓的調(diào)節(jié)范圍、降壓速率及維持時(shí)間等。

試驗(yàn)方法

標(biāo)準(zhǔn)提供了詳細(xì)的試驗(yàn)步驟,包括:

  • 試驗(yàn)前的樣品準(zhǔn)備,如預(yù)處理、校準(zhǔn)和初始檢測(cè)。
  • 設(shè)定并控制試驗(yàn)箱內(nèi)的溫度和氣壓至規(guī)定的條件。
  • 在綜合低溫低氣壓環(huán)境下持續(xù)運(yùn)行或存儲(chǔ)樣品,并監(jiān)測(cè)關(guān)鍵性能指標(biāo)。
  • 試驗(yàn)結(jié)束后,恢復(fù)到常溫常壓狀態(tài),進(jìn)行最終性能檢測(cè)與評(píng)估,比較試驗(yàn)前后數(shù)據(jù)以分析設(shè)備的適應(yīng)性和穩(wěn)定性。

評(píng)價(jià)指標(biāo)

依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)要求,通過(guò)對(duì)比試驗(yàn)前后的性能變化,如光學(xué)性能衰退程度、機(jī)械結(jié)構(gòu)穩(wěn)定性、電氣特性是否符合標(biāo)準(zhǔn)等,來(lái)評(píng)判光學(xué)和光學(xué)儀器在極端環(huán)境下的適應(yīng)能力。

結(jié)論制定依據(jù)

試驗(yàn)結(jié)果可作為產(chǎn)品設(shè)計(jì)、制造過(guò)程改進(jìn)及質(zhì)量控制的依據(jù),確保光學(xué)儀器在特定應(yīng)用環(huán)境中能夠正常工作,滿足用戶需求和安全要求。


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  • 1989-12-29 頒布
  • 1990-08-01 實(shí)施
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GB/T 12085.5-1989光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法綜合低溫、低氣壓_第1頁(yè)
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文檔簡(jiǎn)介

UDC681.7.08N30中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB12085.5—89光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法綜合低溫、低氣壓Opticsandopticalinstruments-Environmentaltestmethods-Combinedcold,lowairpressure1989-12-29發(fā)布1990-08-01實(shí)施國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法GB12085.5-89綜合低溫低氣壓Opticsandopticalinstruments-Environmentaltestmethods-Combinedcold,lowairpressure主題內(nèi)容與適用范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了綜合低溫與低氣壓試驗(yàn)的試驗(yàn)條件、條件試驗(yàn)、試驗(yàn)程序及環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記。本標(biāo)準(zhǔn)適用于在高山地區(qū)或飛機(jī)儀表盤(pán)上或?qū)椛鲜褂玫墓鈱W(xué)儀器、裝有光學(xué)零部件的儀器和光學(xué)零部件。2試驗(yàn)?zāi)康难芯吭嚇拥墓鈱W(xué)、熱學(xué)、力學(xué)、化學(xué)和電學(xué)等特性受到低溫與低氣壓影響的變化程度,,其次是測(cè)定水的冷凝和凍結(jié)對(duì)儀器或零部件的附加影響。3引用標(biāo)準(zhǔn)GB12085.1光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法術(shù)語(yǔ)、試驗(yàn)范圍試驗(yàn)條件4.1試驗(yàn)箱(室)必須是空氣流通的低氣壓箱(室)或是高空模擬試驗(yàn)箱(室),它可以是低溫、低氣壓的綜合試驗(yàn)箱(室),也可將低氣壓箱放在低溫室中。試驗(yàn)和(室)的大小及試樣安放的位置,應(yīng)能保證所有試樣都處于均勻的環(huán)境條件下。4.2在試驗(yàn)箱(室)內(nèi),試樣需先達(dá)到規(guī)定的試驗(yàn)溫度,然后再把箱內(nèi)壓力降到有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定值。4.3按條件試驗(yàn)方法51(見(jiàn)5.2條)進(jìn)行試驗(yàn)時(shí),在升壓期間,可用高純氮?dú)饣驅(qū)υ嚇虞椛浼訜岱椒ǎ苊庠嚇由袭a(chǎn)生結(jié)霜和凝露。4.4試驗(yàn)箱(室)內(nèi)的溫度和氣壓的變化應(yīng)緩慢進(jìn)行,以免引起試樣的損壞。4.5試樣的各個(gè)部分都達(dá)到試驗(yàn)箱(室)溫度±3℃之內(nèi)和氣壓達(dá)到規(guī)定值時(shí)暴露周期開(kāi)始。散熱試樣應(yīng)冷卻到試驗(yàn)溫度,在溫度穩(wěn)定的試驗(yàn)箱(室)中試樣的溫度變化在1h內(nèi)不大于±1℃時(shí),開(kāi)始降低氣壓。在降壓過(guò)程中,允許試樣自身發(fā)熱,直到試驗(yàn)壓力達(dá)到規(guī)定值時(shí)作為暴露時(shí)間開(kāi)始。暴露結(jié)束后壓力和溫度的升高同時(shí)開(kāi)始,箱(室)內(nèi)空氣和試樣的溫度都應(yīng)測(cè)量。溫度傳感器在試樣上的位置應(yīng)在有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定,用來(lái)測(cè)量箱(室)內(nèi)空氣溫度的溫度傳感器的位置應(yīng)在試驗(yàn)報(bào)告中說(shuō)明。4.6按條件試驗(yàn)方法50進(jìn)行試驗(yàn)后,試樣在壓力升高過(guò)程中產(chǎn)生結(jié)霜和凝露的方法應(yīng)在有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定,可在下述方法中選用:a.在低氣壓條件下凝露的形成在溫度為-20~-10℃范圍內(nèi)和氣壓為4×10"Pa以上的低氣壓范圍內(nèi),在加熱過(guò)程中將水蒸氣注人試驗(yàn)箱(室)內(nèi);b.在標(biāo)準(zhǔn)環(huán)境壓力條件下凝露的形成在加熱期間,試驗(yàn)室內(nèi)的壓力調(diào)到標(biāo)

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