2025年探傷工（助理工程師）案例分析技巧資料技巧解析考試試卷考試時間：______分鐘總分：______分姓名：______一、選擇題（本部分共20題，每題2分，共40分。請根據(jù)題意選擇最合適的答案，并將答案填寫在答題卡相應(yīng)位置。）1.在進(jìn)行射線探傷時，為了確保膠片能夠充分記錄到缺陷信息，應(yīng)當(dāng)注意以下哪個因素？（）A.透照距離的遠(yuǎn)近B.透照時間的長短C.膠片與工件之間的距離D.X射線管電壓的高低2.如果在超聲波探傷過程中，發(fā)現(xiàn)探頭與工件表面接觸不良，可能會導(dǎo)致哪種現(xiàn)象？（）A.探傷信號增強(qiáng)B.探傷信號減弱C.探傷信號消失D.探傷信號出現(xiàn)雜波3.在進(jìn)行磁粉探傷時，為了提高缺陷的顯示效果，通常會在工件表面涂抹哪種物質(zhì)？（）A.油脂B.磁粉C.潤滑劑D.清潔劑4.如果在滲透探傷過程中，發(fā)現(xiàn)工件表面存在滲透劑殘留，可能會導(dǎo)致哪種現(xiàn)象？（）A.缺陷顯示不明顯B.缺陷顯示過于明顯C.探傷結(jié)果無法判斷D.探傷結(jié)果完全錯誤5.在進(jìn)行超聲波探傷時，為了確保探傷系統(tǒng)的靈敏度，應(yīng)當(dāng)注意以下哪個因素？（）A.探頭頻率的高低B.探頭與工件之間的距離C.探傷儀的增益設(shè)置D.探傷儀的掃描速度6.如果在射線探傷過程中，發(fā)現(xiàn)膠片出現(xiàn)霧化現(xiàn)象，可能會導(dǎo)致哪種后果？（）A.缺陷顯示不明顯B.缺陷顯示過于明顯C.探傷結(jié)果無法判斷D.探傷結(jié)果完全錯誤7.在進(jìn)行磁粉探傷時，為了確保磁粉能夠充分吸附在缺陷表面，應(yīng)當(dāng)注意以下哪個因素？（）A.磁場強(qiáng)度的大小B.磁粉的種類C.工件表面的清潔程度D.磁粉的涂抹厚度8.如果在滲透探傷過程中，發(fā)現(xiàn)工件表面存在油污，可能會導(dǎo)致哪種現(xiàn)象？（）A.滲透劑無法進(jìn)入缺陷B.滲透劑進(jìn)入缺陷后無法去除C.缺陷顯示不明顯D.缺陷顯示過于明顯9.在進(jìn)行超聲波探傷時，為了確保探傷系統(tǒng)的分辨率，應(yīng)當(dāng)注意以下哪個因素？（）A.探頭頻率的高低B.探頭與工件之間的距離C.探傷儀的增益設(shè)置D.探傷儀的掃描速度10.如果在射線探傷過程中，發(fā)現(xiàn)膠片出現(xiàn)偽影現(xiàn)象，可能會導(dǎo)致哪種后果？（）A.缺陷顯示不明顯B.缺陷顯示過于明顯C.探傷結(jié)果無法判斷D.探傷結(jié)果完全錯誤11.在進(jìn)行磁粉探傷時，為了確保缺陷能夠被充分顯示，應(yīng)當(dāng)注意以下哪個因素？（）A.磁場方向B.磁粉種類C.工件表面的清潔程度D.磁粉的涂抹厚度12.如果在滲透探傷過程中，發(fā)現(xiàn)工件表面存在水分，可能會導(dǎo)致哪種現(xiàn)象？（）A.滲透劑無法進(jìn)入缺陷B.滲透劑進(jìn)入缺陷后無法去除C.缺陷顯示不明顯D.缺陷顯示過于明顯13.在進(jìn)行超聲波探傷時，為了確保探傷系統(tǒng)的穩(wěn)定性，應(yīng)當(dāng)注意以下哪個因素？（）A.探頭頻率的高低B.探頭與工件之間的距離C.探傷儀的增益設(shè)置D.探傷儀的掃描速度14.如果在射線探傷過程中，發(fā)現(xiàn)膠片出現(xiàn)灰霧現(xiàn)象，可能會導(dǎo)致哪種后果？（）A.缺陷顯示不明顯B.缺陷顯示過于明顯C.探傷結(jié)果無法判斷D.探傷結(jié)果完全錯誤15.在進(jìn)行磁粉探傷時，為了確保磁粉能夠充分吸附在缺陷表面，應(yīng)當(dāng)注意以下哪個因素？（）A.磁場強(qiáng)度的大小B.磁粉的種類C.工件表面的清潔程度D.磁粉的涂抹厚度16.如果在滲透探傷過程中，發(fā)現(xiàn)工件表面存在氧化皮，可能會導(dǎo)致哪種現(xiàn)象？（）A.滲透劑無法進(jìn)入缺陷B.滲透劑進(jìn)入缺陷后無法去除C.缺陷顯示不明顯D.缺陷顯示過于明顯17.在進(jìn)行超聲波探傷時，為了確保探傷系統(tǒng)的靈敏度，應(yīng)當(dāng)注意以下哪個因素？（）A.探頭頻率的高低B.探頭與工件之間的距離C.探傷儀的增益設(shè)置D.探傷儀的掃描速度18.如果在射線探傷過程中，發(fā)現(xiàn)膠片出現(xiàn)劃痕現(xiàn)象，可能會導(dǎo)致哪種后果？（）A.缺陷顯示不明顯B.缺陷顯示過于明顯C.探傷結(jié)果無法判斷D.探傷結(jié)果完全錯誤19.在進(jìn)行磁粉探傷時，為了確保缺陷能夠被充分顯示，應(yīng)當(dāng)注意以下哪個因素？（）A.磁場方向B.磁粉種類C.工件表面的清潔程度D.磁粉的涂抹厚度20.如果在滲透探傷過程中，發(fā)現(xiàn)工件表面存在裂紋，可能會導(dǎo)致哪種現(xiàn)象？（）A.滲透劑無法進(jìn)入缺陷B.滲透劑進(jìn)入缺陷后無法去除C.缺陷顯示不明顯D.缺陷顯示過于明顯二、判斷題（本部分共10題，每題2分，共20分。請根據(jù)題意判斷正誤，并將答案填寫在答題卡相應(yīng)位置。）1.射線探傷是一種非破壞性檢測方法，可以用于檢測材料內(nèi)部的缺陷。（）2.超聲波探傷是一種破壞性檢測方法，會對被檢測工件造成損傷。（）3.磁粉探傷是一種非破壞性檢測方法，可以用于檢測材料內(nèi)部的缺陷。（）4.滲透探傷是一種非破壞性檢測方法，可以用于檢測材料表面的缺陷。（）5.射線探傷的靈敏度高于超聲波探傷。（）6.超聲波探傷的分辨率高于射線探傷。（）7.磁粉探傷的靈敏度高于滲透探傷。（）8.滲透探傷的檢測速度高于射線探傷。（）9.射線探傷的成本高于超聲波探傷。（）10.超聲波探傷的成本低于磁粉探傷。（）三、簡答題（本部分共5題，每題4分，共20分。請根據(jù)題意簡明扼要地回答問題，并將答案填寫在答題卡相應(yīng)位置。）1.請簡述射線探傷的基本原理。2.請簡述超聲波探傷的基本原理。3.請簡述磁粉探傷的基本原理。4.請簡述滲透探傷的基本原理。5.請簡述四種探傷方法各自的優(yōu)缺點(diǎn)。四、論述題（本部分共1題，每題20分，共20分。請根據(jù)題意詳細(xì)闡述問題，并將答案填寫在答題卡相應(yīng)位置。）1.在實(shí)際探傷工作中，如何根據(jù)工件的材質(zhì)、形狀、尺寸以及缺陷的性質(zhì)選擇合適的探傷方法？請結(jié)合具體案例進(jìn)行詳細(xì)說明。本次試卷答案如下一、選擇題答案及解析1.D解析：X射線管電壓高低直接影響穿透能力，電壓越高，穿透力越強(qiáng)，越能充分記錄到深層缺陷信息。透照距離和膠片與工件距離主要影響焦點(diǎn)至膠片的清晰度和曝光量計(jì)算，不是直接影響記錄充分性的核心因素。選D。2.B解析：探頭與工件接觸不良會產(chǎn)生聲阻抗失配，導(dǎo)致超聲波大量反射到空氣中或被表面不平整散射，有效傳入工件的聲能顯著減少，接收到的探傷信號自然就減弱了。其他選項(xiàng)不符合物理原理，接觸不良不會增強(qiáng)信號或使其消失。3.B解析：磁粉探傷的原理是利用外加磁場使工件表面及近表面缺陷中磁感應(yīng)線發(fā)生彎曲，形成漏磁場，然后撒上磁性顆粒，磁性顆粒會聚集在漏磁場區(qū)域，形成可見的缺陷指示。因此必須涂抹磁粉才能形成可見的缺陷顯示。其他選項(xiàng)油脂、潤滑劑、清潔劑與磁粉探傷原理無關(guān)或起反作用。4.A解析：滲透探傷是利用滲透劑對工件表面缺陷的毛細(xì)作用填充，然后通過清洗去除表面滲透劑，再施加顯像劑將缺陷中的殘留滲透劑吸附出來，形成可見缺陷指示。如果表面存在殘留滲透劑，說明清洗不徹底，這會導(dǎo)致顯像劑無法有效吸附缺陷中的滲透劑，或者吸附過多導(dǎo)致背景模糊，最終使得缺陷顯示不清晰、不明顯。B選項(xiàng)描述的是清洗過度的情況。C和D選項(xiàng)與殘留滲透劑無直接因果關(guān)系。5.C解析：探傷儀的增益設(shè)置直接放大或衰減輸入的探傷信號。為了確保系統(tǒng)能夠檢測到微弱的缺陷信號，同時又不過于放大噪聲，需要合理設(shè)置增益。增益過高會放大噪聲，導(dǎo)致誤判；增益過低則可能將有效缺陷信號抑制在閾值以下，導(dǎo)致漏檢。探頭頻率、探頭距離、掃描速度影響信號質(zhì)量或呈現(xiàn)方式，但不是直接調(diào)節(jié)系統(tǒng)靈敏度的主要手段。C最直接相關(guān)。6.A解析：膠片霧化是指膠片在沒有受到有效穿透輻射（如缺陷區(qū)域或適當(dāng)曝光區(qū)域）的情況下，由于受到散射線或環(huán)境光等的照射而均勻變黑的現(xiàn)象。這會降低膠片的對比度，使得本應(yīng)清晰的缺陷與背景（霧氣）區(qū)分不開，導(dǎo)致缺陷顯示不明顯。B選項(xiàng)描述的是曝光過度。C和D選項(xiàng)與霧化成因無關(guān)。7.A解析：磁粉探傷的效果與磁場強(qiáng)度密切相關(guān)。只有當(dāng)磁場足夠強(qiáng)時，才能在缺陷表面產(chǎn)生足夠大的漏磁場，從而能夠吸附足夠數(shù)量的磁粉，形成清晰可見的缺陷指示。磁粉種類影響顯示效果和操作，但不是產(chǎn)生漏磁場的條件；工件表面清潔和磁粉涂抹厚度影響顯示清晰度，但不是產(chǎn)生漏磁場的根本原因。A是核心因素。8.A解析：工件表面的油污會形成一層絕緣層，阻礙滲透劑通過毛細(xì)作用進(jìn)入表面開口缺陷。如果滲透劑無法進(jìn)入缺陷，自然就無法在缺陷內(nèi)部留下痕跡，也就無法在后續(xù)清洗和顯像步驟中顯示出來，導(dǎo)致缺陷顯示不明顯甚至不顯示。B選項(xiàng)描述的是滲透劑進(jìn)入后清洗不徹底。C和D選項(xiàng)與油污阻礙滲透無關(guān)。9.A解析：探傷系統(tǒng)的分辨率是指區(qū)分兩個相鄰微小缺陷或缺陷細(xì)節(jié)的能力。探頭頻率是影響分辨率的關(guān)鍵因素，通常頻率越高，波長越短，分辨率越高。探頭距離和增益設(shè)置影響信號幅度和檢測范圍，不直接決定分辨率。掃描速度影響檢測效率，不直接決定分辨率。A最直接相關(guān)。10.A解析：膠片偽影是指由于膠片處理不當(dāng)、運(yùn)輸過程中物理損傷（如劃痕、壓痕）或受潮霉變等非缺陷因素造成的圖像異常。這些偽影會干擾對真實(shí)缺陷的識別，可能被誤判為缺陷或掩蓋真實(shí)缺陷，導(dǎo)致探傷結(jié)果無法準(zhǔn)確判斷。B選項(xiàng)描述的是偽影干擾顯示。C和D選項(xiàng)與偽影成因無關(guān)。11.A解析：要充分顯示缺陷，施加的磁場方向必須與缺陷平面（或漏磁場方向）盡可能垂直，這樣漏磁場最強(qiáng)，能夠吸附最多的磁粉，缺陷顯示最清晰。磁粉種類影響顯示效果，但方向是前提。工件清潔和磁粉厚度影響最終顯示，但不是決定性因素。A是核心要求。12.A解析：工件表面的水分會與滲透劑發(fā)生混合，改變滲透劑的表面張力和毛細(xì)作用特性，使得滲透劑難以有效地進(jìn)入表面開口缺陷。水分還可能阻礙后續(xù)清洗步驟，導(dǎo)致滲透劑殘留物與水分一起留在表面，影響顯像效果，最終導(dǎo)致缺陷顯示不明顯。B選項(xiàng)描述的是水分阻礙清洗。C和D選項(xiàng)與水分影響滲透無關(guān)。13.A解析：探傷系統(tǒng)的穩(wěn)定性主要指系統(tǒng)輸出信號的一致性和可靠性。探頭頻率的穩(wěn)定性影響信號質(zhì)量，但不是系統(tǒng)整體穩(wěn)定性的核心。探頭距離和掃描速度的穩(wěn)定性影響檢測條件的一致性，但增益設(shè)置的穩(wěn)定性更能直接反映整個電子系統(tǒng)和信號處理過程的穩(wěn)定性，對獲得重復(fù)可靠的檢測結(jié)果至關(guān)重要。A最直接相關(guān)。14.A解析：膠片灰霧是指膠片未經(jīng)曝光或受到均勻散射光照射后形成的整體變暗現(xiàn)象，降低了膠片的對比度。對比度降低意味著缺陷與背景的區(qū)分度下降，即使有缺陷，其顯示也可能變得模糊、不明顯，難以清晰判斷。B選項(xiàng)描述的是曝光過度。C和D選項(xiàng)與灰霧成因無關(guān)。15.A解析：與第7題類似，磁粉探傷的效果與磁場強(qiáng)度直接相關(guān)。更強(qiáng)的磁場能在缺陷表面產(chǎn)生更強(qiáng)的漏磁場，從而吸附更多的磁粉，使缺陷顯示更清晰、更充分。磁粉種類影響效果，但強(qiáng)度是基礎(chǔ)。工件清潔和磁粉厚度影響顯示，但不是產(chǎn)生漏磁場的核心。A是關(guān)鍵因素。16.A解析：工件表面的氧化皮通常比較致密，會阻礙滲透劑通過毛細(xì)作用進(jìn)入表面下的微小缺陷。如果滲透劑無法有效進(jìn)入缺陷，就無法在缺陷內(nèi)部留下殘留，后續(xù)的清洗和顯像步驟也無法將滲透劑從缺陷中提取出來，導(dǎo)致缺陷無法被顯示出來，顯示不明顯甚至不顯示。B選項(xiàng)描述的是氧化皮影響清洗。C和D選項(xiàng)與氧化皮阻礙滲透無關(guān)。17.A解析：探傷系統(tǒng)的靈敏度是指系統(tǒng)能夠檢測到最小缺陷信號的能力。探頭頻率的選擇直接影響探傷深度和分辨率，但頻率本身不是靈敏度調(diào)節(jié)參數(shù)。探頭距離和掃描速度影響信號幅度和檢測效率，不直接決定靈敏度。探傷儀的增益設(shè)置是直接放大信號、提高系統(tǒng)對微弱信號檢測能力的核心手段。A最直接相關(guān)。18.A解析：膠片劃痕是物理損傷，會在膠片上形成線條狀的黑色痕跡。這些劃痕可能被誤判為細(xì)小的裂紋或缺陷，或者掩蓋了旁邊的真實(shí)缺陷，導(dǎo)致探傷結(jié)果產(chǎn)生誤判，即要么假陽性，要么漏檢，使得結(jié)果不可靠。B選項(xiàng)描述的是劃痕干擾顯示。C和D選項(xiàng)與劃痕成因無關(guān)。19.A解析：與第11題類似，要充分顯示缺陷，施加的磁場方向必須與缺陷平面或漏磁場方向盡可能垂直。只有垂直時，漏磁場最強(qiáng)，磁粉聚集最明顯，缺陷顯示效果最好。磁粉種類影響效果，但方向是關(guān)鍵。工件清潔和磁粉厚度影響最終顯示，但不是決定性因素。A是核心要求。20.A解析：工件表面的裂紋是典型的表面開口缺陷，滲透探傷正是利用滲透劑對這類缺陷的填充能力來檢測的。滲透劑可以輕易地通過裂紋口進(jìn)入并填充其中，在后續(xù)清洗去除表面滲透劑后，再施加顯像劑，裂紋中的殘留滲透劑會被吸附出來，形成清晰可見的指示。B選項(xiàng)描述的是滲透劑無法進(jìn)入的情況，與裂紋性質(zhì)相反。C和D選項(xiàng)與裂紋檢測原理無關(guān)。二、判斷題答案及解析1.正確解析：射線探傷利用X射線或γ射線的穿透性，照射到被檢工件時，內(nèi)部缺陷（如氣孔、夾雜、裂紋）由于對射線的吸收能力不同，會在射線膠片上形成相應(yīng)的感光區(qū)域，從而顯示出缺陷的形狀、大小和位置。這是一種不損傷工件內(nèi)部結(jié)構(gòu)就能檢測其內(nèi)部缺陷的方法，完全符合非破壞性檢測的定義。2.錯誤解析：超聲波探傷是利用高頻聲波在介質(zhì)中傳播的特性，當(dāng)聲波遇到介質(zhì)界面（如缺陷表面）發(fā)生反射時，探頭可以接收到反射回來的信號。通過分析反射信號的特征（時間、幅度、頻率等），可以判斷缺陷的存在、位置、大小和性質(zhì)。整個過程中，聲波只是傳播能量，并不會對被檢工件造成永久性的物理損傷，屬于非破壞性檢測方法。說它破壞性是錯誤的。3.正確解析：磁粉探傷是利用鐵磁性材料在磁場作用下磁化，并在缺陷處產(chǎn)生漏磁場的原理。將磁粉（干粉或濕法懸浮液）施加到被檢工件表面，漏磁場會吸附磁粉，在缺陷區(qū)域形成可見的磁痕指示。這種方法只對鐵磁性材料有效，且不損傷工件，屬于非破壞性檢測方法。4.正確解析：滲透探傷是利用液體的毛細(xì)作用，將滲透劑填充到工件表面開口的缺陷中，然后去除工件表面的多余滲透劑，最后用顯像劑將缺陷中的殘留滲透劑吸附出來，在表面形成可見的缺陷指示。這種方法主要檢測工件表面的開口缺陷，不損傷工件，屬于非破壞性檢測方法。5.錯誤解析：射線探傷和超聲波探傷都是常用的非破壞性檢測方法，各自的靈敏度、分辨率、檢測深度、適用范圍和局限性都有所不同。不能簡單地說哪一種絕對更靈敏。例如，對于埋藏較深、體積較大的缺陷，射線探傷可能更有優(yōu)勢；而對于近表面、微小裂紋的檢測，超聲波探傷可能更靈敏。需要根據(jù)具體檢測對象和要求選擇合適的方法。說射線探傷絕對靈敏于超聲波探傷是片面的。6.錯誤解析：分辨率是指區(qū)分兩個相鄰微小缺陷的能力。超聲波探傷的分辨率（尤其是垂直分辨率）通常很高，能夠分辨非?？拷娜毕荨Ｉ渚€探傷的分辨率受波長（與能量相關(guān)）和膠片顆粒性的限制，對于微小的點(diǎn)狀或細(xì)小裂紋的分辨能力通常不如高頻率超聲波探傷。說超聲波探傷分辨率絕對高于射線探傷是不準(zhǔn)確的，兩者各有優(yōu)勢，取決于具體應(yīng)用和參數(shù)。7.錯誤解析：磁粉探傷和滲透探傷的靈敏度各有特點(diǎn)和適用范圍，不能簡單地說哪一種絕對更高。磁粉探傷對于近表面缺陷（通常在表面下幾毫米）的微小裂紋、夾雜等缺陷非常靈敏，尤其在外加磁場的作用下，對漏磁場的響應(yīng)強(qiáng)。滲透探傷對于表面開口的較大缺陷（如加工刀痕、磨損、腐蝕坑）顯示效果很好。兩者的靈敏度在不同類型、不同位置的缺陷上表現(xiàn)不同。說磁粉探傷絕對靈敏于滲透探傷是片面的。8.錯誤解析：滲透探傷通常需要經(jīng)過表面清洗、施加滲透劑、清洗、施加顯像劑等多個步驟，每個步驟都需要時間，且對于復(fù)雜形狀的工件操作可能比較繁瑣，因此檢測速度相對較慢。射線探傷雖然需要曝光時間，但一旦設(shè)置好，連續(xù)照射多個工件相對較快，整體效率可能更高。說滲透探傷速度絕對高于射線探傷是不準(zhǔn)確的，兩者速度取決于多種因素。9.錯誤解析：探傷方法的選擇受多種因素影響，成本只是其中之一，并非決定性因素。需要綜合考慮工件的材質(zhì)、形狀、尺寸、缺陷類型、檢測要求（靈敏度、精度）、檢測效率、現(xiàn)場條件以及檢測結(jié)果的法律責(zé)任等。有時為了滿足高靈敏度或檢測特殊位置的要求，可能會選擇成本較高的方法。不能簡單地說射線探傷成本絕對高于超聲波探傷，這取決于具體項(xiàng)目。10.錯誤解析：超聲波探傷設(shè)備（尤其是脈沖回波法）通常包括探頭、試塊、探傷儀，設(shè)備本身和操作技術(shù)要求較高，培訓(xùn)成本和操作復(fù)雜度可能不低。磁粉探傷也需要專門的磁化設(shè)備（磁粉機(jī)、磁懸液、磁粉）和操作技能。兩者成本需要具體分析，不能簡單地說超聲波探傷成本低于磁粉探傷。這取決于具體配置、應(yīng)用范圍和操作要求。三、簡答題答案及解析1.射線探傷的基本原理是利用X射線或γ射線具有穿透物質(zhì)的能力。當(dāng)射線束照射到被檢工件時，工件內(nèi)部的缺陷（如氣孔、夾雜、裂紋等）由于尺寸、形狀、密度或物理性質(zhì)與周圍基體不同，對射線的吸收程度也不同。吸收能力強(qiáng)的區(qū)域（如致密基體）會阻擋更多的射線，而吸收能力弱的區(qū)域（如缺陷）則會允許更多的射線通過。這樣，穿過工件后的射線強(qiáng)度會產(chǎn)生變化，攜帶了工件內(nèi)部結(jié)構(gòu)信息。將射線投射到感光膠片上，射線強(qiáng)度變化就會在膠片上形成相應(yīng)的感光圖像，缺陷在圖像上表現(xiàn)為黑影。通過觀察和分析膠片上的圖像，就可以判斷缺陷的存在、大小、形狀和位置。2.超聲波探傷的基本原理是利用高頻聲波（超聲波）在介質(zhì)中傳播的特性。將超聲波探頭放置在工件表面，通過探頭發(fā)射超聲波脈沖進(jìn)入工件。超聲波在工件中傳播時，會遇到不同聲阻抗的界面（如材料分界、缺陷表面）。在界面處，一部分聲能會反射回探頭，另一部分繼續(xù)向前傳播。如果工件內(nèi)部存在缺陷（如裂紋、氣孔、夾雜），當(dāng)超聲波遇到缺陷表面時也會發(fā)生反射。探頭接收到的信號是來自不同路徑（直接到達(dá)的信號和從缺陷反射回來的信號）的復(fù)合信號。通過分析接收到的回波信號的時間、幅度、相位、頻率等特征，可以判斷缺陷的存在、位置（深度）、大小、形狀以及材料性質(zhì)等信息。如果沒有缺陷，則只有從工件背面反射回來的信號。3.磁粉探傷的基本原理是基于鐵磁性材料在磁場作用下磁化，并在缺陷處產(chǎn)生漏磁場的現(xiàn)象。首先，將待檢工件進(jìn)行磁化，可以使用外部磁化（如電磁線圈、磁鐵）或內(nèi)部磁化（如磁粉探傷槍）。磁化后，如果工件內(nèi)部存在缺陷（如裂紋、夾雜），在缺陷附近的磁力線會發(fā)生彎曲，形成漏磁場。漏磁場強(qiáng)度與缺陷的大小、形狀、方向以及工件材料的磁導(dǎo)率有關(guān)。然后，將磁粉（干粉或懸浮在液體中的磁粉）施加到工件表面。磁粉是微小的磁性顆粒，會被工件表面的漏磁場吸附，聚集在缺陷區(qū)域，形成可見的磁痕（磁粉聚集區(qū)）。最后，通過肉眼觀察或借助磁粉探傷鏡觀察磁痕的形狀、大小和位置，從而判斷缺陷的存在。常用的磁化方法有周向磁化、縱向磁化、橫向磁化、多向磁化和旋轉(zhuǎn)磁化等。4.滲透探傷的基本原理是利用液體的毛細(xì)作用。滲透探傷適用于檢測工件表面開口的缺陷（如裂紋、氣孔、凹坑、銹蝕等）。首先，將具有強(qiáng)滲透性的滲透劑施加到工件表面，滲透劑會通過毛細(xì)作用迅速填充到表面所有的開口缺陷中。由于滲透劑的粘附性，它會停留在缺陷的底部。然后，經(jīng)過一段規(guī)定時間的滲透時間后，將工件表面的多余滲透劑徹底清洗掉。清洗過程必須確保將表面以及缺陷入口處的滲透劑完全去除。最后，在工件表面施加一層顯像劑。顯像劑通常具有疏松的多孔結(jié)構(gòu)或特殊的化學(xué)性質(zhì)，能夠?qū)⑷毕莸撞康臍埩魸B透劑吸附到表面。經(jīng)過規(guī)定時間的顯像時間后，去除多余的顯像劑。此時，缺陷底部吸附的滲透劑會顯露在顯像劑的疏松表面，形成清晰可見的缺陷指示。通過觀察和分析指示的形狀、大小和位置，可以判斷缺陷的存在。5.四種探傷方法各有優(yōu)缺點(diǎn)：射線探傷（RT）：優(yōu)點(diǎn)是檢測靈敏度高，尤其對體積型缺陷（氣孔、夾雜）；可檢測厚件；結(jié)果直觀（有底片記錄）；可定性缺陷大小和形狀。缺點(diǎn)是設(shè)備成本高、操作復(fù)雜、有輻射安全防護(hù)要求；檢測速度慢；對面積型缺陷（裂紋）靈敏度相對較低；對近表面缺陷不敏感；無法檢測未焊透等焊接接頭的內(nèi)部缺陷（需配合焊縫試塊）。超聲波探傷（UT）：優(yōu)點(diǎn)是檢測靈敏度高，尤其對面積型缺陷（裂紋）和近表面缺陷；檢測速度較快；設(shè)備相對便攜、成本較低（尤其手工探傷）；無輻射危害；可進(jìn)行定量檢測（測厚、缺陷深度）。缺點(diǎn)是結(jié)果不如射線探傷直觀（依賴操作者經(jīng)驗(yàn)）；對操作人員技能要求高；檢測距離有限；對復(fù)雜形狀工件檢測困難；難以進(jìn)行全表面自動檢測。磁粉探傷（MT）：優(yōu)點(diǎn)是檢測速度快；檢測靈敏度高，尤其對近表面微小裂紋；設(shè)備相對簡單、成本較低；操作相對容易。缺點(diǎn)是僅適用于鐵磁性材料；對非鐵磁性材料無效；只能檢測表面及近表面缺陷；對埋藏缺陷無能為力；對缺陷的定量分析比較困難。滲透探傷（PT）：優(yōu)點(diǎn)是檢測靈敏度高，尤其對表面開口的細(xì)小缺陷；設(shè)備簡單、操作方便、成本較低；適用范圍廣，可用于各種金屬材料和非金屬材料（只要表面是干燥的）；檢測速度快。缺點(diǎn)是只能檢測表面開口缺陷；對埋藏缺陷和未開口缺陷無效；對缺陷的定量分析比較困難；對復(fù)雜形狀工件的可達(dá)性受限。四、論述題答案及解析在實(shí)際探傷工作中，選擇合適的探傷方法是一個需要綜合考慮多種因素的系統(tǒng)決策過程。選擇不當(dāng)不僅會降低檢測效率，更嚴(yán)重的是可能導(dǎo)致漏檢或誤判，給產(chǎn)品質(zhì)量和安全帶來隱患。以下是選擇時應(yīng)考慮的主要因素及結(jié)合案例的說明：首先，**必須明確被檢工件的材料性質(zhì)**。這是選擇探傷方法的首要前提。***案例1：**對于鑄鐵件，通常含有較多氣孔和夾雜，這些體積型缺陷對射線探傷比較敏感，因此射線探傷是檢測鑄鐵件內(nèi)部質(zhì)量的主要手段。例如，在檢測汽車發(fā)動機(jī)的鑄鐵缸體時，如果要求檢查內(nèi)部是否存在氣孔，射線探傷是首選。***案例2：**對于鋁合金或鎂合金等非鐵磁性材料，磁粉探傷和滲透探傷是無效的，因?yàn)樗鼈儧]有鐵磁性。這時，只能考慮射線探傷或超聲波探傷。如果工件較薄且形狀簡單，超聲波探傷可能是更優(yōu)選擇，因?yàn)樗俣瓤烨页杀鞠鄬^低。例如，檢測飛機(jī)薄壁的鋁合金結(jié)構(gòu)件時，發(fā)現(xiàn)表面有輕微腐蝕坑，應(yīng)優(yōu)先選用滲透探傷。其次，**要考慮工件的幾何形狀和尺寸**。***案例3