Determinationoftheaveragegrainsizeofcastaluminiumsiliconalloys中國(guó)鑄造協(xié)會(huì)發(fā)布1 II 1 1 1 2 3 4 5 6 9 8 本文件按照GB/T1.1—2020《標(biāo)準(zhǔn)化工作1鑄造鋁硅系合金平均晶粒度測(cè)定方法本文件適用于采用重力鑄造、壓鑄、低壓鑄造、擠壓鑄造、半連續(xù)鑄造等工藝生產(chǎn)的鋁硅系合GB/T6394金屬平均晶粒度[來(lái)源：GB/T30067，2.2.148及GB/TALA晶粒ALA(aslargeas)gra2鑄造鋁硅系合金castaluminiumsili截線(xiàn)長(zhǎng)度（l）interceptlength測(cè)量線(xiàn)段通過(guò)晶粒時(shí)，與晶界相交的兩個(gè)交點(diǎn)之間GAMN放大M倍時(shí)，測(cè)量網(wǎng)格內(nèi)的晶粒數(shù)N內(nèi)N外NALNLPLNi放大M倍時(shí)，測(cè)量試驗(yàn)線(xiàn)上的截線(xiàn)數(shù)Pi放大M倍時(shí)，測(cè)量試驗(yàn)線(xiàn)與晶界相交的截點(diǎn)數(shù)l4取樣與試樣制備4.1測(cè)定晶粒度用試樣應(yīng)在交貨狀態(tài)鑄件或鑄錠（棒）上切取，取樣部位與數(shù)量按照產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)或計(jì)數(shù)觀(guān)試樣的截面尺寸為：圓形Φ10mm~Φ12mm；正方形10mm×10mm。若采用比較法，試樣的截面尺寸還可為：圓形Φ80mm~Φ600mm。蝕使晶界顯示出來(lái)，必要時(shí)可進(jìn)行電解拋光。對(duì)于Φ80mm~Φ600mm的圓形樣品，推薦使用車(chē)床對(duì)檢測(cè)表面進(jìn)行機(jī)械加工，然后浸蝕使晶界顯示34.3為保證試樣切取和制備過(guò)程中晶粒結(jié)構(gòu)不發(fā)生改變，切取及制備試樣時(shí)，不應(yīng)使用改變晶粒結(jié)構(gòu)5.1.1比較法是通過(guò)與標(biāo)準(zhǔn)系列評(píng)級(jí)圖對(duì)比來(lái)評(píng)定晶粒度等級(jí)。當(dāng)晶粒形貌與標(biāo)準(zhǔn)評(píng)級(jí)圖的形貌類(lèi)似5.1.2用數(shù)碼顯微鏡評(píng)定鑄造鋁硅系合金的晶粒度。觀(guān)測(cè)者應(yīng)正確判斷需要選擇使用的放大倍數(shù)、合5.1.3用數(shù)碼顯微鏡檢驗(yàn)時(shí)，首先通觀(guān)整個(gè)檢測(cè)平面，晶粒度的評(píng)定應(yīng)在試樣截面上隨機(jī)選取三個(gè)或三個(gè)以上具有代表性的視場(chǎng)測(cè)量平均晶粒度，然后按照大多數(shù)視場(chǎng)對(duì)應(yīng)級(jí)別圖進(jìn)行評(píng)5.1.4若試樣中發(fā)現(xiàn)晶粒不均勻現(xiàn)象，經(jīng)全面觀(guān)察后，如屬偶然或個(gè)別現(xiàn)象，可不予計(jì)算。如屬較為積的90%，則只記錄此種晶粒的級(jí)別數(shù)，否則，應(yīng)用不同級(jí)別數(shù)來(lái)表示該試樣的晶粒度，其中第一個(gè)級(jí)別數(shù)代表占優(yōu)勢(shì)的晶粒的級(jí)別。如出現(xiàn)雙重晶粒度，按GB/T24177評(píng)定，出現(xiàn)個(gè)別粗大晶粒5.1.6鑄造鋁硅系合金晶粒度級(jí)別G分為七級(jí)5.2.1面積法是通過(guò)計(jì)算給定面積網(wǎng)格內(nèi)的晶粒數(shù)來(lái)測(cè)定晶粒度。5.2.2晶粒數(shù)N的計(jì)算是將面積為A（mm2）的圓形測(cè)量網(wǎng)格置于晶粒圖形上，選擇一個(gè)至少能截獲該面積范圍內(nèi)的晶粒數(shù)N為N=N內(nèi)＋0.5·N交－1(1)應(yīng)選擇合適的放大倍數(shù)，且隨機(jī)選擇多個(gè)視場(chǎng)，使N大于或等于5.2.4通過(guò)測(cè)量網(wǎng)格內(nèi)晶粒數(shù)N和觀(guān)察放5.3截點(diǎn)法45.3.2對(duì)于非均勻等軸晶粒應(yīng)使用截點(diǎn)法。對(duì)于非等軸晶粒，截點(diǎn)法既可用于分別測(cè)定三個(gè)相互垂直5.3.4對(duì)于每個(gè)視場(chǎng)的計(jì)數(shù)，按式(3)或式(4)計(jì)算單位長(zhǎng)度（mm）上的截線(xiàn)數(shù)NL或截點(diǎn)數(shù)PL：EQ\*jc3\*hps21\o\al(\s\up2(-),l)EQ\*jc3\*hps21\o\al(\s\up2(-),l)5.4鑄造鋁硅系合金晶粒度分級(jí)說(shuō)明個(gè)/cm2（NAO）-mm(l)12346567EQ\*jc3\*hps21\o\al(\s\up2(-),l)6.1.2晶粒度的各種數(shù)值表示均由初測(cè)量值NA和PL通過(guò)對(duì)數(shù)或倒數(shù)關(guān)系而算出。如取樣數(shù)量少，可取該組數(shù)值的中位數(shù)表示試樣的晶粒度。如取樣數(shù)量多，其測(cè)量值服從正態(tài)分布，可先求出NPL平均值后，再計(jì)算出相對(duì)誤差和平均晶粒度級(jí)別。6.1.4對(duì)于截點(diǎn)法和面積法，列出被測(cè)量視場(chǎng)的數(shù)量、放大倍數(shù)及視場(chǎng)面積、計(jì)數(shù)晶粒的數(shù)目或計(jì)數(shù)截線(xiàn)及截點(diǎn)數(shù)目，報(bào)告出平均測(cè)量值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、相對(duì)誤差和晶粒度級(jí)別6.1.5對(duì)非等軸晶組織，列出評(píng)定方法、檢驗(yàn)面、檢測(cè)取向（如有測(cè)量）、每一個(gè)檢測(cè)面或取向上估算的晶粒度、測(cè)量面總平均值，計(jì)算或者評(píng)估的晶粒度5個(gè)試樣晶粒度測(cè)量的相對(duì)精度隨著抽取的視場(chǎng)數(shù)、晶粒7.3如果試樣制備不適當(dāng)，將會(huì)產(chǎn)生測(cè)量偏差。為了提高測(cè)量精度，應(yīng)真實(shí)地顯示出晶界。如果未清7.5使用比較法時(shí)，為了獲得最佳的精度，應(yīng)選取與晶粒特征及腐蝕方法一致的評(píng)級(jí)系列7.6晶粒度測(cè)量的相對(duì)誤差隨晶?；蚪鼐€(xiàn)的計(jì)數(shù)增多而變小。在計(jì)數(shù)相同時(shí)，截點(diǎn)法測(cè)量晶粒度的相6789[1]ASTMB85/B85m—2018,Stand