標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 14080-2010 硬磁盤驅(qū)動(dòng)器頭堆組件通用規(guī)范》相比《GB/T 14080-1993 溫盤驅(qū)動(dòng)器小型磁頭通用技術(shù)條件》有以下主要變更點(diǎn)：

  1. 標(biāo)準(zhǔn)適用范圍調(diào)整：2010版標(biāo)準(zhǔn)將關(guān)注點(diǎn)從“溫盤驅(qū)動(dòng)器小型磁頭”擴(kuò)展到“硬磁盤驅(qū)動(dòng)器頭堆組件”，反映了技術(shù)進(jìn)步和產(chǎn)品形態(tài)的變化，涵蓋了更廣泛的產(chǎn)品類型和組件結(jié)構(gòu)。

  2. 技術(shù)指標(biāo)更新：鑒于硬盤技術(shù)和性能的快速發(fā)展，2010版標(biāo)準(zhǔn)對磁頭堆組件的性能參數(shù)（如讀寫精度、數(shù)據(jù)傳輸速率、信號噪聲比等）提出了更嚴(yán)格的要求，以適應(yīng)高速、高密度存儲(chǔ)的需求。

  3. 測試方法優(yōu)化：新標(biāo)準(zhǔn)引入了更先進(jìn)的測試方法和評估手段，確保測試結(jié)果更加準(zhǔn)確可靠。這些改進(jìn)可能包括對測試環(huán)境、測試設(shè)備以及測試程序的具體規(guī)定，以跟上技術(shù)進(jìn)步的步伐。

  4. 可靠性與質(zhì)量要求提升：考慮到硬磁盤驅(qū)動(dòng)器在各種環(huán)境下長期穩(wěn)定運(yùn)行的重要性，2010版標(biāo)準(zhǔn)加強(qiáng)了對頭堆組件的可靠性要求，如增加了溫度循環(huán)試驗(yàn)、振動(dòng)試驗(yàn)、沖擊試驗(yàn)等項(xiàng)目，以確保組件在惡劣條件下的穩(wěn)定性和壽命。

  5. 環(huán)保與安全要求：隨著全球?qū)﹄娮赢a(chǎn)品環(huán)保和用戶安全的關(guān)注加深，新標(biāo)準(zhǔn)可能加入了關(guān)于材料環(huán)保性、電磁兼容性(EMC)以及產(chǎn)品安全性的相關(guān)規(guī)定，確保產(chǎn)品符合國際環(huán)保和安全標(biāo)準(zhǔn)。

  6. 術(shù)語與定義更新：為適應(yīng)技術(shù)發(fā)展，2010版標(biāo)準(zhǔn)對相關(guān)專業(yè)術(shù)語進(jìn)行了修訂或新增，以便更準(zhǔn)確地描述當(dāng)前硬磁盤驅(qū)動(dòng)器頭堆組件的技術(shù)特征和性能指標(biāo)。

  7. 標(biāo)準(zhǔn)化與互換性增強(qiáng)：為了促進(jìn)產(chǎn)業(yè)鏈上下游的協(xié)同與國際交流，新標(biāo)準(zhǔn)可能強(qiáng)化了產(chǎn)品尺寸、接口規(guī)格等方面的標(biāo)準(zhǔn)化要求，提高了不同廠商間產(chǎn)品的互換性和兼容性。


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....

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  • 2011-01-14 頒布
  • 2011-05-01 實(shí)施
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GB/T 14080-2010硬磁盤驅(qū)動(dòng)器頭堆組件通用規(guī)范_第1頁
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GB/T 14080-2010硬磁盤驅(qū)動(dòng)器頭堆組件通用規(guī)范-免費(fèi)下載試讀頁

文檔簡介

ICS3522020

L63..

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T14080—2010

代替

GB/T14080—1993

硬磁盤驅(qū)動(dòng)器頭堆組件通用規(guī)范

Generalspecificationofheadstackassemblyforharddiskdrive

2011-01-14發(fā)布2011-05-01實(shí)施

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布

中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T14080—2010

目次

前言…………………………

Ⅲ

范圍………………………

11

規(guī)范性引用文件…………………………

21

術(shù)語和定義………………

31

要求………………………

43

試驗(yàn)方法…………………

55

檢驗(yàn)規(guī)則…………………

68

標(biāo)志包裝運(yùn)輸貯存……………………

7、、、9

附錄資料性附錄浮動(dòng)塊幾何尺寸…………………

A()11

附錄規(guī)范性附錄靜電敏感度測試…………………

B()12

Ⅰ

GB/T14080—2010

前言

本標(biāo)準(zhǔn)代替溫盤驅(qū)動(dòng)器小型磁頭通用技術(shù)條件

GB/T14080—1993《》。

本標(biāo)準(zhǔn)與的主要區(qū)別如下

GB/T14080—1993:

只針對頭臂組件本標(biāo)準(zhǔn)范圍擴(kuò)大到頭堆組件

———GB/T14080—1993,。

標(biāo)準(zhǔn)題目修訂為硬磁盤驅(qū)動(dòng)器頭堆組件通用規(guī)范

———《》。

根據(jù)磁存儲(chǔ)技術(shù)發(fā)展重寫了要求和試驗(yàn)方法

———,“”“”。

更新了檢驗(yàn)規(guī)則和標(biāo)志包裝運(yùn)輸貯存

———“”“、、、”。

增加了附錄浮動(dòng)塊幾何尺寸定義

———“A”。

增加了附錄靜電敏感度測試

———“B”。

本標(biāo)準(zhǔn)的附錄是資料性附錄附錄是規(guī)范性附錄

A,B。

本標(biāo)準(zhǔn)由全國信息技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)提出并歸口

。

本標(biāo)準(zhǔn)起草單位深圳長城開發(fā)科技股份有限公司工業(yè)和信息化部電子工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化研究所

:、。

本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人何彩英劉路鄭洪仁冉紅鋒張海貝朱毅陸鋒雷民生

:、、、、、、、。

本標(biāo)準(zhǔn)于年首次發(fā)布本次為第一次修訂

1993,。

Ⅲ

GB/T14080—2010

硬磁盤驅(qū)動(dòng)器頭堆組件通用規(guī)范

1范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了硬磁盤驅(qū)動(dòng)器頭堆組件的技術(shù)要求試驗(yàn)方法檢驗(yàn)規(guī)則標(biāo)志包裝運(yùn)輸貯存等

、、、、、、。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于符合的和硬磁盤驅(qū)動(dòng)器的頭堆

GB/T12628—200863.5mm(2.5in)90mm(3.5in)

組件其他尺寸的頭堆組件以下簡稱產(chǎn)品可參照本標(biāo)準(zhǔn)

。()。

2規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款凡是注日期的引用文件其隨后所有

。,

的修改單不包括勘誤的內(nèi)容或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn)然而鼓勵(lì)根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研

()。,

究是否可使用這些文件的最新版本凡是不注日期的引用文件其最新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)

。,。

包裝儲(chǔ)運(yùn)圖示標(biāo)志

GB/T191—2008(ISO780:1997,MOD)

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)低溫

GB/T2423.1—20082:A:(IEC60068-2-

1:2007,IDT)

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)高溫

GB/T2423.2—20082:B:(IEC60068-2-

2:2007,IDT)

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)恒定濕熱試驗(yàn)

GB/T2423.3—20062:Cab:

(IEC60068-2-78:2001,IDT)

計(jì)數(shù)抽樣檢驗(yàn)程序第部分按接收質(zhì)量限檢索的逐批檢驗(yàn)抽樣

GB/T2828.1—20031:(AQL)

計(jì)劃

(ISO2859-1:1999,IDT)

電工電子產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境條件第部分運(yùn)輸

GB/T4798.22:(GB/T4798.2—2008,ISO60721-3-

2:1997,MOD)

包裝運(yùn)輸包裝件跌落試驗(yàn)方法

GB/T4857.5—1992(eqvISO2248:1985)

硬磁盤驅(qū)動(dòng)器通用規(guī)范

GB/T12628—2008

潔凈廠房設(shè)計(jì)規(guī)范

GB/T50073—2001

可熱封柔韌性防靜電阻隔材料規(guī)范

GJB2605—1996

3術(shù)語和定義

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