標(biāo)準(zhǔn)解讀
《GB/T 13179-2008 硅(鋰)X射線探測器系統(tǒng)》相比《GB/T 13179-1991 硅(鋰)X射線探測器系統(tǒng)》,主要在以下幾個方面進(jìn)行了更新和調(diào)整:
-
技術(shù)指標(biāo)的提升:新版標(biāo)準(zhǔn)對硅(鋰)X射線探測器的性能指標(biāo)提出了更嚴(yán)格的要求,包括能量分辨率、檢測效率、穩(wěn)定性和響應(yīng)時間等,以適應(yīng)技術(shù)進(jìn)步和應(yīng)用需求的提高。
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測試方法的改進(jìn):詳細(xì)規(guī)定了更為科學(xué)和精確的測試方法,用于驗證探測器的各項性能指標(biāo),確保測試結(jié)果的可靠性和可重復(fù)性。這些改進(jìn)有助于統(tǒng)一行業(yè)測試標(biāo)準(zhǔn),提升產(chǎn)品對比的公正性。
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兼容性與互換性要求:增加了關(guān)于探測器與其他X射線儀器設(shè)備之間兼容性和互換性的規(guī)范,旨在促進(jìn)不同廠家產(chǎn)品之間的通用性和集成能力,方便用戶選擇和替換。
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安全規(guī)范的加強:考慮到使用安全的重要性,新標(biāo)準(zhǔn)強化了對探測器系統(tǒng)在操作、維護(hù)及廢棄過程中的安全要求,加入了更多關(guān)于輻射防護(hù)、電氣安全和環(huán)境適應(yīng)性的條款。
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環(huán)境保護(hù)要求:隨著環(huán)保意識的增強,新標(biāo)準(zhǔn)加入了關(guān)于材料選擇、制造過程及產(chǎn)品廢棄處理時應(yīng)遵循的環(huán)保原則,鼓勵采用更環(huán)保的材料和技術(shù),減少對環(huán)境的影響。
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術(shù)語和定義的更新:為適應(yīng)技術(shù)發(fā)展,新標(biāo)準(zhǔn)對相關(guān)專業(yè)術(shù)語進(jìn)行了修訂和補充,確保術(shù)語的準(zhǔn)確性和時代性,便于行業(yè)內(nèi)溝通和理解。
-
質(zhì)量管理體系要求:強調(diào)了制造商應(yīng)建立和完善質(zhì)量管理體系,確保從設(shè)計、生產(chǎn)到售后服務(wù)的全過程符合標(biāo)準(zhǔn)要求,提高了對產(chǎn)品質(zhì)量控制的關(guān)注度。
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- 現(xiàn)行
- 正在執(zhí)行有效
- 2008-07-02 頒布
- 2009-04-01 實施




文檔簡介
犐犆犛:27.120
犉88
中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)
犌犅/犜13179—2008
代替GB/T13179—1991
硅(鋰)犡射線探測器系統(tǒng)
犛犻(犔犻)犡狉犪狔犱犲狋犲犮狋狅狉狊狔狊狋犲犿
20080702發(fā)布20090401實施
中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局
發(fā)布
中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會
書
犌犅/犜13179—2008
目次
前言!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!Ⅰ
1范圍!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!1
2規(guī)范性引用文件!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!1
3術(shù)語和定義以及符號!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!1
4產(chǎn)品分類!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!3
5技術(shù)要求!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!5
6試驗方法!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!6
7檢驗規(guī)則!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!15
8標(biāo)識、包裝、運輸、貯存!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!16
附錄A(資料性附錄)從X能量分辨率計算電噪聲近似值的方法!!!!!!!!!!!!!!18
參考文獻(xiàn)!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!19
圖1端帽尺寸圖!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!4
圖2總體外型結(jié)構(gòu)圖!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!5
圖3被測特性的基本測量系統(tǒng)!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!7
圖4典型的噪聲測量脈沖幅度譜!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!8
圖5用示波器和均方根電壓表測噪聲的測量系統(tǒng)!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!9
圖6線性的測量和表示!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!13
圖7溫度效應(yīng)的測量系統(tǒng)(以能譜儀為例)!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!14
表1硅(鋰)X射線探測器系統(tǒng)產(chǎn)品規(guī)格表!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!4
表2(真空)冷室及端帽分類!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!5
表3不同靈敏面積探測器的峰谷比要求!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!6
表4參考條件和標(biāo)準(zhǔn)試驗條件!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!6
表5測量常用放射源!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!10
表6檢驗項目分類及要求!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!16
表7抽樣方案表!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!16
書
犌犅/犜13179—2008
前言
本標(biāo)準(zhǔn)參照了IEC60759:1983《半導(dǎo)體X射線能譜儀標(biāo)準(zhǔn)測試程序》。
本標(biāo)準(zhǔn)代替GB/T13179—1991《硅(鋰)X射線探測器系統(tǒng)》。
本標(biāo)準(zhǔn)與GB/T13179—1991相比主要差異如下:
———增加了“硅(鋰)X射線探測器系統(tǒng)”和“峰谷比”等19個術(shù)語以及“犆c”等12個符號(見本標(biāo)準(zhǔn)
第3章);
———產(chǎn)品的特征代號增加了兩位表示靈敏體直徑(見本標(biāo)準(zhǔn)的4.1);
———在表1“硅(鋰)X射線探測器系統(tǒng)產(chǎn)品規(guī)格表”中,增加了一欄靈敏直徑的條目(見本標(biāo)準(zhǔn)的
4.2);
———表1中的能量分辨率每檔均降低5eV(見本標(biāo)準(zhǔn)的4.2);
———充實了試驗方法的內(nèi)容(見本標(biāo)準(zhǔn)第6章)。
本標(biāo)準(zhǔn)附錄A為資料性附錄。
本標(biāo)準(zhǔn)由中國核工業(yè)集團(tuán)公司提出。
本標(biāo)準(zhǔn)由全國核儀器儀表標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會歸口。
本標(biāo)準(zhǔn)起草單位:中核(北京)核儀器廠。
本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人:殷國利。
本標(biāo)準(zhǔn)所替代標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為:GB/T13179—1991。
Ⅰ
犌犅/犜13179—2008
硅(鋰)犡射線探測器系統(tǒng)
1范圍
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了硅(鋰)X射線探測器系統(tǒng)的產(chǎn)品分類、技術(shù)要求、試驗方法和檢測規(guī)則等。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于帶有液氮貯存容器的室內(nèi)用硅(鋰)X射線探測器系統(tǒng),但不適用于掃描電鏡的、便攜
式或非液氮冷卻硅(鋰)X射線探測器系統(tǒng)。
2規(guī)范性引用文件
下列文件中的條款通過本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有
的修改單(不包括勘誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn),然而,鼓勵根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究
是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。
GB/T4960.6核科學(xué)技術(shù)術(shù)語核儀器儀表
GB/T10257—2001核儀器和核輻射探測器質(zhì)量檢驗規(guī)則
3術(shù)語和定義以及符號
3.1術(shù)語和定義
GB/T4960.6確立的以及下列術(shù)語和定義適用于本標(biāo)準(zhǔn)。
3.1.1
硅(鋰)探測器犛犻(犔犻)犱犲狋犲犮狋狅狉
通常利用核輻射在半導(dǎo)體中產(chǎn)生的過剩自由電荷載流子的運動來探測入射輻射的探測器。
注:本標(biāo)準(zhǔn)中
溫馨提示
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