標(biāo)準(zhǔn)解讀
《GA/T 1522-2018法庭科學(xué) 射擊殘留物檢驗(yàn) 掃描電子顯微鏡/X射線(xiàn)能譜法》這一標(biāo)準(zhǔn),由中華人民共和國(guó)公安部發(fā)布,旨在為法庭科學(xué)領(lǐng)域中射擊殘留物的檢測(cè)提供一套詳細(xì)的操作規(guī)程和鑒定方法。該標(biāo)準(zhǔn)主要關(guān)注于利用掃描電子顯微鏡(SEM)結(jié)合X射線(xiàn)能譜分析(EDS或EDX)技術(shù),對(duì)射擊后遺留在嫌疑人、受害者身體、衣物以及犯罪現(xiàn)場(chǎng)其他物體上的射擊殘留物進(jìn)行精確識(shí)別與分析。
標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容概覽
-
范圍:明確了該標(biāo)準(zhǔn)適用于使用掃描電子顯微鏡結(jié)合X射線(xiàn)能譜法對(duì)射擊事件中遺留的火藥顆粒、金屬顆粒等射擊殘留物進(jìn)行檢驗(yàn)和分析,以輔助判斷是否發(fā)生過(guò)射擊行為及與射擊相關(guān)的具體情況。
-
術(shù)語(yǔ)和定義:界定了與射擊殘留物檢驗(yàn)相關(guān)的專(zhuān)業(yè)術(shù)語(yǔ),如射擊殘留物、火藥顆粒、底火殘余物等,確保了標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)術(shù)語(yǔ)的一致性和準(zhǔn)確性。
-
原理:闡述了掃描電子顯微鏡如何通過(guò)高分辨率成像展示射擊殘留物的微觀(guān)形態(tài)特征,以及X射線(xiàn)能譜如何通過(guò)對(duì)這些殘留物中的元素成分進(jìn)行定性定量分析,來(lái)識(shí)別射擊殘留物的來(lái)源和性質(zhì)。
-
儀器與設(shè)備:詳細(xì)描述了執(zhí)行此類(lèi)檢驗(yàn)所需的掃描電子顯微鏡及其應(yīng)具備的功能,如高真空或低真空模式、X射線(xiàn)能譜儀的配置要求,以及樣品制備所需的各種工具和設(shè)備。
-
檢驗(yàn)程序:
- 樣品采集與保存:規(guī)定了如何在不破壞證據(jù)完整性的前提下,從不同載體上采集射擊殘留物樣本,并確保其在轉(zhuǎn)移和儲(chǔ)存過(guò)程中的穩(wěn)定性。
- 樣品預(yù)處理:介紹了如何對(duì)采集的樣本進(jìn)行必要的清潔、干燥和固定處理,以便于后續(xù)的顯微觀(guān)察和元素分析。
- SEM觀(guān)測(cè)與EDS分析:詳述了如何利用SEM進(jìn)行微觀(guān)形貌觀(guān)察,并通過(guò)EDS獲取射擊殘留物的元素組成信息,包括測(cè)試條件設(shè)定、數(shù)據(jù)采集與解釋。
- 結(jié)果判定與報(bào)告:提供了判斷射擊殘留物存在與否的標(biāo)準(zhǔn),以及如何撰寫(xiě)檢驗(yàn)報(bào)告,包括實(shí)驗(yàn)過(guò)程、觀(guān)察結(jié)果、分析結(jié)論等。
-
質(zhì)量控制:強(qiáng)調(diào)了實(shí)施檢驗(yàn)過(guò)程中應(yīng)采取的質(zhì)量保證措施,包括儀器校準(zhǔn)、空白試驗(yàn)、對(duì)照實(shí)驗(yàn)等,以確保檢驗(yàn)結(jié)果的可靠性和重復(fù)性。
-
安全與防護(hù):指出了在處理射擊殘留物樣本時(shí)的安全注意事項(xiàng)和防護(hù)措施,以保護(hù)操作人員的健康和安全。
實(shí)施意義
本標(biāo)準(zhǔn)為司法鑒定機(jī)構(gòu)提供了統(tǒng)一的技術(shù)指導(dǎo),不僅提升了射擊殘留物檢驗(yàn)的科學(xué)性和準(zhǔn)確性,還促進(jìn)了不同案件間檢驗(yàn)結(jié)果的可比性,對(duì)提高刑事偵查效率、加強(qiáng)法庭科學(xué)證據(jù)的權(quán)威性具有重要意義。
如需獲取更多詳盡信息,請(qǐng)直接參考下方經(jīng)官方授權(quán)發(fā)布的權(quán)威標(biāo)準(zhǔn)文檔。
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- 現(xiàn)行
- 正在執(zhí)行有效
- 2018-09-26 頒布
- 2018-09-26 實(shí)施




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GA/T 1522-2018法庭科學(xué)射擊殘留物檢驗(yàn)掃描電子顯微鏡/X射線(xiàn)能譜法-免費(fèi)下載試讀頁(yè)文檔簡(jiǎn)介
ICS13310
A92.
中華人民共和國(guó)公共安全行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)
GA/T1522—2018
法庭科學(xué)射擊殘留物檢驗(yàn)
掃描電子顯微鏡/X射線(xiàn)能譜法
Forensicscience—Examinationmethodsforgunshotresidue—
Scanningelectronmicroscope/energydispersiveX-rayspectrometry
2018-09-26發(fā)布2018-09-26實(shí)施
中華人民共和國(guó)公安部發(fā)布
中華人民共和國(guó)公共安全
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)
法庭科學(xué)射擊殘留物檢驗(yàn)
掃描電子顯微鏡/X射線(xiàn)能譜法
GA/T1522—2018
*
中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社出版發(fā)行
北京市朝陽(yáng)區(qū)和平里西街甲號(hào)
2(100029)
北京市西城區(qū)三里河北街號(hào)
16(100045)
網(wǎng)址
:
服務(wù)熱線(xiàn)
:400-168-0010
年月第一版
201911
*
書(shū)號(hào)
:155066·2-34613
版權(quán)專(zhuān)有侵權(quán)必究
GA/T1522—2018
前言
本標(biāo)準(zhǔn)按照給出的規(guī)則起草
GB/T1.1—2009。
請(qǐng)注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專(zhuān)利本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識(shí)別這些專(zhuān)利的責(zé)任
。。
本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)刑事技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)理化檢驗(yàn)分技術(shù)委員會(huì)提出并
(SAC/TC179/SC4)
歸口
。
本標(biāo)準(zhǔn)起草單位公安部物證鑒定中心北京市公安局刑偵總隊(duì)
:、。
本標(biāo)準(zhǔn)起草人權(quán)養(yǎng)科郭洪玲王萍陶克明劉明輝
:、、、、。
Ⅰ
GA/T1522—2018
法庭科學(xué)射擊殘留物檢驗(yàn)
掃描電子顯微鏡/X射線(xiàn)能譜法
1范圍
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了法庭科學(xué)領(lǐng)域掃描電子顯微鏡射線(xiàn)能譜檢驗(yàn)射擊殘留物的方法
/X。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于法庭科學(xué)領(lǐng)域射擊殘留物顆粒形態(tài)及元素成分的檢驗(yàn)
。
2規(guī)范性引用文件
下列文件對(duì)于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文
。,
件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件
。,()。
微量物證的理化檢驗(yàn)術(shù)語(yǔ)
GA/T242
3術(shù)語(yǔ)和定義
界定的術(shù)語(yǔ)和定義適用于本文件
GA/T242。
4原理
掃描電子顯微鏡射線(xiàn)能譜儀可對(duì)微小物體進(jìn)行微觀(guān)形態(tài)觀(guān)察和元素成分分析射擊殘留物中
/X。
的無(wú)機(jī)成分主要來(lái)自于子彈底火彈頭彈殼和槍管化學(xué)穩(wěn)定性好特異性強(qiáng)而且由于射擊時(shí)槍管內(nèi)
(、、),,
的高溫高壓環(huán)境殘留物的形態(tài)多為熔融狀微米級(jí)的球形顆粒利用掃描電子顯微鏡對(duì)這些微小顆粒
,。
高倍放大成像進(jìn)行微觀(guān)形態(tài)觀(guān)察利用射線(xiàn)能譜儀進(jìn)行元素成分分析判斷其是否為射擊殘留物顆
,;X,
粒常見(jiàn)槍彈的射擊殘留物大多含有金屬元素以及非金屬元素
。Sb、Ba、Pb、Sn、Cu、Zn、Fe、AlS、Cl、K、
等或這些元素的不同組合在掃描電子顯微鏡中其背散射電子像亮度高于人體皮膚或衣物等背景
As(),
材料的亮度使用射擊殘留物檢測(cè)專(zhuān)用軟件實(shí)現(xiàn)對(duì)復(fù)雜背景中疑似射擊殘留物顆粒的自動(dòng)查找或用手
,,
動(dòng)方式對(duì)射擊殘留物顆粒進(jìn)行查找
。
5試劑和材料
一次性手套
。
6儀器和設(shè)備
所需的儀器和設(shè)備如下
:
掃描電子顯微鏡
a);
射線(xiàn)能譜儀
b
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